HN-100L回路電阻測(cè)試儀青島華能生產(chǎn)接觸電阻測(cè)試儀 原理用途

公司根據(jù)IEC標(biāo)準(zhǔn)及新電力執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)DL/T845.4- 2004有關(guān)規(guī)定，發(fā)揮自身技術(shù)優(yōu)勢(shì)，精心研制的高精度、數(shù)字化開(kāi)關(guān)檢測(cè)儀器。該儀器采用高頻大功率恒流開(kāi)關(guān)電源技術(shù)，可測(cè)得微歐姆級(jí)接觸電阻。廣泛適用于開(kāi)關(guān)及電器的接觸電阻、回路電阻及電纜電線、焊縫接觸電阻的測(cè)量

二、 技術(shù)指標(biāo)

測(cè)量范圍： 測(cè)量范圍：0—20000.00μΩ 

分辨率： 0.01μΩ

測(cè)量準(zhǔn)確度： ±（讀數(shù)×0.2%+0.01μΩ）

試驗(yàn)電源： 恒流限壓，約1.5V

試驗(yàn)電流： 直流，50/100A/200A/600A可選

試驗(yàn)電流精度： ±0.2%

測(cè)量時(shí)間： 快速、10~60秒可選

測(cè)量次數(shù)： >500次（充滿電，快速測(cè)量模式備選功能）

半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝后測(cè)試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過(guò)電性參數(shù)來(lái)監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey后，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。

工作方式:連續(xù)測(cè)量

工作電源:AC220V±10%  50HZ

三、 儀器操作功能介紹

1、 電源開(kāi)關(guān)：“I”按下儀器開(kāi)始供電，“O”按下關(guān)斷儀器電源

2、 AC220V ：儀器供電源輸入端，本儀器采用交流220V供電

3、 I₊、 I- ：為電流輸出端子，通過(guò)測(cè)試線為試品提供恒定電流

4、 V₊、V-  ：為試品電壓信號(hào)的輸入端子

5、 液   晶 ：采用320X240真彩色液晶，強(qiáng)光下字體也可清晰觀察，顯示操 作設(shè)置，測(cè)試結(jié)果，接觸電阻值和輸出電流值

6、RS232：    串口輸出端

7、復(fù) 位 鍵 ：整機(jī)初始化，儀器處在準(zhǔn)備狀態(tài)

8、選 擇 鍵 ：按下此鍵，選擇儀器各項(xiàng)設(shè)置，測(cè)量結(jié)束可打印數(shù)據(jù)

9、循 環(huán) 鍵 ：主菜單循環(huán)選擇鍵或U盤存儲(chǔ)

9、確 認(rèn) 鍵 ：按下確認(rèn)鍵儀器開(kāi)始啟動(dòng)電流進(jìn)行測(cè)試

為保障電梯**運(yùn)行，提高電梯動(dòng)態(tài)監(jiān)管和信息化水平，目前有關(guān)部門及電梯制造企業(yè)都逐漸要求電梯配備遠(yuǎn)程監(jiān)控系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過(guò)安裝在電梯轎頂、機(jī)房的傳感器，采集電梯故障和維保信息，并通過(guò)GPRS傳輸設(shè)備將數(shù)據(jù)傳輸?shù)诫娞葸\(yùn)行管理平臺(tái)。GPRSDTU在電梯物聯(lián)網(wǎng)中的應(yīng)用信息化管理滯后電梯故障頻出近年來(lái)，隨著城市建設(shè)的不斷發(fā)展，電梯數(shù)量也同步增長(zhǎng)，但是一些問(wèn)題也漸漸顯露出來(lái)：維修保養(yǎng)不到位，電梯經(jīng)常出現(xiàn)故障。

按循環(huán)鍵光標(biāo)可在參數(shù)設(shè)置、數(shù)據(jù)查詢、時(shí)鐘修改、測(cè)量時(shí)間、選擇電流之間循環(huán)移動(dòng)，光標(biāo)在參數(shù)設(shè)置、數(shù)據(jù)查詢、時(shí)鐘修改時(shí)按選擇鍵可進(jìn)入選中菜單的下菜單，光標(biāo)在測(cè)量時(shí)間項(xiàng)按選擇鍵時(shí)間可在脈沖、30秒、1分鐘、5分鐘、10分鐘、連續(xù)之間循環(huán)移動(dòng)，任何時(shí)候按啟動(dòng)鍵可進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)，

六、 測(cè)量方法 

注意：測(cè)試鉗的連接面應(yīng)與試品可靠接觸，若發(fā)現(xiàn)接觸面有氧化現(xiàn)象，應(yīng)去除接觸面的氧化層。

1、接線方法：如圖二所示，將測(cè)試線按照顏色紅對(duì)紅，黑對(duì)黑，粗的電流線接到對(duì)應(yīng)的I+、I-接線柱扭緊，細(xì)的電源線插入到V+、V-的插座內(nèi)，兩把夾鉗夾住被測(cè)試品的兩端。

2、測(cè)量：接圖二完成接線后，打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)，選擇好測(cè)試時(shí)間進(jìn)行測(cè)試，儀器會(huì)自動(dòng)完成充電、穩(wěn)流和電阻測(cè)量。

反射系數(shù)法是通過(guò)測(cè)量漏蘭姆波的頻散曲線來(lái)確定材料的性質(zhì),但測(cè)量難度較大。傅里葉變換只能處理線性非平穩(wěn)的信號(hào)。小波變換法雖然在理論上能處理非線性非平穩(wěn)信號(hào),但是同傅里葉變換、短時(shí)傅里葉變換法一樣,都受Heisenberg測(cè)不準(zhǔn)原理制約,即時(shí)間窗口與頻率窗口的乘積為一個(gè)常數(shù),這就意味著如果要提高時(shí)間精度就得犧牲頻率精度,反之亦然。當(dāng)蘭姆波中不同模態(tài)的頻率比較接近時(shí),不適用小波變換處理信號(hào)。動(dòng)態(tài)光彈法能從Lamb波的應(yīng)力分布觀察到傳播和頻散,但是在實(shí)際檢測(cè)中對(duì)硬件要求較高。