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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:蓄電池充放電測(cè)試儀 HN1016B 直流回路接地電容測(cè)試儀價(jià)格實(shí)惠

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。蓄電池充放電測(cè)試儀 HN1016B 直流回路接地電容測(cè)試儀價(jià)格實(shí)惠
詳情介紹:

HN1015A蓄電池充放電,活化測(cè)試儀 蓄電池充放電測(cè)試儀 HN1016B 直流回路接地電容測(cè)試儀價(jià)格實(shí)惠

蓄電池充放電測(cè)試儀 HN1016B 直流回路接地電容測(cè)試儀價(jià)格實(shí)惠

本儀器是針對(duì)整組蓄電池系列測(cè)試,不同規(guī)格型號(hào)對(duì)整組要求不同,具體根據(jù)儀表為準(zhǔn)。單體電池電壓為2V\12V(根據(jù)具體指標(biāo)定)的鉛酸蓄電池組進(jìn)行測(cè)試的儀器。

測(cè)試步驟介紹便攜式設(shè)備所采用的IC器件大多是高集成度、小體積產(chǎn)品,精密的加工工藝使硅晶氧化層非常薄,因而更易擊穿,有的在2V左右就會(huì)受到損傷。傳統(tǒng)的保護(hù)方法已不再普遍適用,有的甚至還會(huì)造成對(duì)設(shè)備性能的干擾。TVS二極管的特點(diǎn)可用于便攜式設(shè)備的ESD保護(hù)器件有很多,設(shè)計(jì)人員可用分立器件搭建保護(hù)回路,但由于便攜設(shè)備對(duì)于空間的限定以及避免回路自感,這種方法已逐漸被更加集成化的器件所替代。多層金屬氧化物器件、陶瓷電容還有二極管都可以有效地進(jìn)行防護(hù),它們的特性及表現(xiàn)各有不同,TVS二極管在此類應(yīng)用中的特表現(xiàn)為其贏得了越來越大的市場(chǎng)。

1.4.1在線監(jiān)測(cè)測(cè)試:

步:連接單體電壓采集器。(詳見章節(jié)2.4)

步:把整組電壓測(cè)試線連接到電池組兩端。(詳見章節(jié)2.5)

步:插入電源,主機(jī)開機(jī)。

第四步:進(jìn)入在線監(jiān)測(cè)參數(shù)設(shè)置。(詳見章節(jié)3.1)

第五步:“確定”開始測(cè)試。

1.4.2 放電測(cè)試:蓄電池充放電測(cè)試儀 HN1016B 直流回路接地電容測(cè)試儀價(jià)格實(shí)惠往往這要求設(shè)計(jì)人員使用外部硬件或是通過位拆裂在固件中實(shí)現(xiàn)接口。位拆裂使用固件觸發(fā)IO端口,一般可用于實(shí)現(xiàn)串行接口。如果要監(jiān)測(cè)端口以串行數(shù)據(jù)的時(shí)候,也可以使用這種方法。無論是使用外部硬件還是位拆裂來實(shí)現(xiàn)接口,都會(huì)產(chǎn)生額外的設(shè)計(jì)成本。雖然增加外部硬件帶來的成本是明顯的,但使用軟件實(shí)現(xiàn)串行接口可能也會(huì)要求使用速度更快因而也更加昂貴的CPU。大多數(shù)通用微控制器今天都支持SPUART和I2C接口,但仍然有很多時(shí)候,某些內(nèi)部用戶可編程邏輯會(huì)非常有用。

步:連接單體電壓采集器(詳見章節(jié)2.4)。純負(fù)載不具此功能

步:放電開關(guān),撥到分的位置(防止放電電纜反接,損壞儀器;反接告警提示)。

步:把放電線一端連到主機(jī),另一端連到電池組兩端。(注意紅正黑負(fù))。接反會(huì)告警提示。(詳見章節(jié)2.5)

第四步:把整組電壓測(cè)試線連接到電池組2端。

第五步:插入電源(電池組供電不用接AC220V電源,直接將放電開關(guān)撥到合的位置),主機(jī)開機(jī)。

第六步:進(jìn)入放電參數(shù)設(shè)置。(詳見章節(jié)3.2)

第七步:將放電開關(guān)撥到合的位置(電池組供電省略此步驟)。

第八步:“確定”開始測(cè)試。

1.4.3容量快測(cè)(選配功能)蓄電池充放電測(cè)試儀 HN1016B 直流回路接地電容測(cè)試儀價(jià)格實(shí)惠出現(xiàn)負(fù)坡度的可能原因有以下兩種:光束準(zhǔn)直調(diào)整不正確。如果軸線短于1m則可能是材料熱膨脹補(bǔ)償系數(shù)不正確、材料溫度測(cè)量不正確或者波長(zhǎng)補(bǔ)償不正確。俯仰和扭擺造成阿貝偏置誤差、機(jī)床線性誤差。針對(duì)以上問題,可采取的措施有:如果軸線行程很短,檢查激光的準(zhǔn)直情況;檢查EC10和測(cè)量頭是否已連接并有反應(yīng);檢查輸入的手動(dòng)環(huán)境數(shù)據(jù)是否正確;檢查材料傳感器是否正確以及輸入的膨脹系數(shù)是否正確;使用角度光學(xué)鏡組重新做一次測(cè)量,檢查機(jī)床的俯仰和扭擺誤差。

步:連接單體電壓采集器(詳見章節(jié)2.4)。

步:放電開關(guān),撥到分的位置(防止放電電纜反接,損壞儀器;反接告警提示)。

步:把放電線一端連到主機(jī),另一端連到電池組兩端。(注意紅正黑負(fù))。接反會(huì)告警提示。(詳見章節(jié)2.5)

第四步:把整組電壓測(cè)試線連接到電池組2端。

第五步:插入電源,主機(jī)開機(jī)。

第六步:進(jìn)入容量快測(cè)參數(shù)設(shè)置。(詳見章節(jié)3.3)

第七步:將放電開關(guān)撥到合的位置。

第八步:“確定”開始測(cè)試。據(jù),216年汽車電子標(biāo)簽(OBU)的市場(chǎng)需求量有近千萬套。某國(guó)內(nèi)ETC行業(yè)的企業(yè),OBU年銷量達(dá)數(shù)百萬套。他們?cè)谝豢頞BU中使用某MCU廠商的Cortex-M3內(nèi)核芯片作為主控MCU,量產(chǎn)時(shí)采用為在線編程的方式,在PCB板上,對(duì)MCU進(jìn)行批量燒錄。就像:在燒片過程中,客戶發(fā)現(xiàn)燒錄良率非常低,經(jīng)常莫名的燒錄失敗。每天幾千套的產(chǎn)能要求,低良率生產(chǎn),讓生產(chǎn)部門在燒錄環(huán)節(jié)束手無策。為提高產(chǎn)能效率及燒錄的穩(wěn)定性,客戶請(qǐng)求技術(shù)支持。蓄電池充放電測(cè)試儀 HN1016B 直流回路接地電容測(cè)試儀價(jià)格實(shí)惠蓄電池充放電測(cè)試儀 HN1016B 直流回路接地電容測(cè)試儀價(jià)格實(shí)惠

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