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HN300電纜故障測試儀 八次脈沖電纜故障測試儀 HN300系列 電纜外護套故障儀生產(chǎn)廠家
用于35kV及以下不同等級、不同截面、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類故障,包括:開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測試的低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界面,子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機互動。工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示,全中文操作軟件和使用界面,子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機互動。拿我們熟知的1G以下的無線收發(fā)模塊來看,大部分使用的平臺都是基于TI(德州儀器),SILABS(芯科),SEMTECH(升特)等,此外還有AMICCOM(笙科),AXSEM,NORDIC(北歐),MICREL(麥瑞),ADI(亞德諾),MAXIM(美信),ST(意法半導(dǎo)體),F(xiàn)SL(飛思卡爾),ATMEL(愛特梅爾),MICROCHIP(微芯),INFINEON(英飛凌)和個別本土廠商等諸多產(chǎn)品可供選擇。

技術(shù)參數(shù)
1. 采樣方法:低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測量法
2. 采樣速率:200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz
3. 脈沖寬度:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs
4. 波速設(shè)置:交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設(shè)定
5. 沖擊高壓:35kV及以下
6. 測試距離:<60km,盲區(qū)≤1m
7. 分 辨 率:1m
8. 測試精度:1m
9. 顯示方式:工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏
因為探測器口的位置及擋板的設(shè)置是固定的,而不同的反射分布直接表現(xiàn)為信號起伏。在普通的測量系統(tǒng)中,不同的正向發(fā)散角的LE同一LED不同的放置方向、同一方向不同位置等差異,即使光通量是一致,表現(xiàn)出來的測量值也表現(xiàn)出的差。根據(jù)客戶的驗證結(jié)果,普通LED測量系統(tǒng)LED的放置方向?qū)馔繙y量結(jié)果的影響往往超過50%(這一點尤其在國產(chǎn)設(shè)備上表現(xiàn)特別明顯)。在測量不同LED不同發(fā)光角度時,由于在積分球內(nèi)表面的分布差異使得直接反射的分布對探測器的影響也不同,從而直接影響到兩者測量的準確性的差異。
四、工作原理
本產(chǎn)品采用的是時域反射(TDR)原理,即對電纜發(fā)射一電脈沖,電脈沖將在電纜中勻速傳輸,當遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方(故障點),電脈沖將產(chǎn)生反射。測距主機將電脈沖的發(fā)射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來,通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。
① 開關(guān)按鍵:按下自鎖接通電源,再按解鎖斷開電源。開機2分鐘無任何操作時,屏幕將變暗進入屏保節(jié)能狀態(tài)。傳統(tǒng)電源需要兩臺直流源分別提供相反方向的電流配合控制兩臺電源分別輸出的控制回路來滿足實驗要求。解決方案IT6432雙極性可編程電源可以實現(xiàn)正負電壓輸出,從而實現(xiàn)電流方向周期性改變。用一臺it6432即可以完成該實驗。操作方法利用list功能編輯3V/.5A1s和-3V/.5A5s兩工步,客戶該實驗需要1~2周時間,設(shè)定好循環(huán)次數(shù)(65535次),既可以提供周期性改變電流方向的電流脈沖信號,輕松的完成該實驗?zāi)康摹?/span>
② 充電端口:用于連接充電器,給電池充電。
③ 中值旋鈕:順時針旋動中值向上走動;逆時針旋動中值向下走動。(需采樣刷新才有變化)大;逆時針旋動幅度減小。(需采樣刷新才有變化)
⑤ 采樣端口:四芯座,用于連接采樣線。我們再以萬用表為例。如果表示位數(shù)為6,則其動態(tài)范圍應(yīng)為120dB(或6×20dB/十倍頻程)。但要注意的是,后兩位仍在擺動。真實動態(tài)范圍只有80dB。這就是說,如果設(shè)計人員要測量1μV(或0.000001V)的電壓,則該測量值的誤差可能高達100μV,因為實際器件的精度僅為100μV(或0.0001V或0.0001XXV,其中,XX表示在擺動的后兩位)。實際上,描述任何系統(tǒng)的整體精度的方法有兩種:直流和交流。
⑥ 觸摸式彩色液晶屏:詳見“工作界面介紹”。
按“ ”鍵,彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括:“低壓脈沖”、“閃絡(luò)方法”和“速度測量”。儀器開機默認“低壓脈沖”,根據(jù)測試需要,可選擇相應(yīng)的采樣方式,再按“采樣方式”鍵退出。
按“ ”鍵,彈出脈沖寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項,分別為:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測試距離選擇合適的脈寬,按對應(yīng)的子菜單鍵可以對脈沖寬度進行選擇,儀器開機默認0.2μs,再按“脈寬”鍵退出此項功能。注意:在高壓閃絡(luò)法測試中此項不做選擇。
20世紀80年始,非制冷紅外焦平面陣列探測器在美國支持下發(fā)展起來的,在1992年研發(fā)完成后才對布。初期技術(shù)路線包括德州儀器研制的BST熱釋電探測器和霍尼韋爾研制的氧化釩(VOx)微測輻射熱計探測器。后來由于熱釋電技術(shù)本身的一些局限性,微測輻射熱計探測器逐漸勝出。2009年,L-3公司終宣布停止繼續(xù)生產(chǎn)熱釋電探測器。之后,法國的CEA/LETI以及德州儀器公司又分別研制了非晶硅(a-Si)微測輻射熱計探測器。