HN300電纜故障測(cè)試儀 電纜外護(hù)套故障儀 HN300系列 電纜識(shí)別儀30年經(jīng)驗(yàn)

 用于35kV及以下不同等級(jí)、不同截面、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類故障，包括：開(kāi)路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測(cè)試的低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法。 全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。我們能看到細(xì)節(jié)了。會(huì)以全內(nèi)存的數(shù)據(jù)為依據(jù)進(jìn)行ZDS示波器的一大特點(diǎn)就是深存儲(chǔ)，而固定的范圍會(huì)制約這一特點(diǎn)的應(yīng)用，導(dǎo)致深存儲(chǔ)時(shí)大部分的數(shù)據(jù)都不能用于。在新特性中，這情況將改變，我們可以把存儲(chǔ)深度設(shè)置成很大，系統(tǒng)會(huì)根據(jù)協(xié)議波特率等特點(diǎn)動(dòng)態(tài)的調(diào)整范圍，的情況我們會(huì)將范圍拓展到整個(gè)內(nèi)存，并且這種特性是在Run和Stop模式中都可以使用，不再局限于Stop!全內(nèi)存我們將存儲(chǔ)深度設(shè)置為28M，此時(shí)整個(gè)內(nèi)存中數(shù)據(jù)的時(shí)間跨度為-14ms~14ms。

技術(shù)參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈沖寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設(shè)置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設(shè)定

5. 沖擊高壓：35kV及以下

6. 測(cè)試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測(cè)試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏

測(cè)試準(zhǔn)備使用儀器2.測(cè)試原理音頻信號(hào)感應(yīng)法用音頻信號(hào)發(fā)生器向電纜中注入一特定頻率的音頻電流信號(hào)，該電流信號(hào)在電纜周圍就會(huì)產(chǎn)生音頻磁場(chǎng)，通過(guò)傳感器線圈接收這一特定頻率的音頻磁場(chǎng)，經(jīng)磁聲或磁電轉(zhuǎn)換為人們?nèi)菀鬃R(shí)別的聲音信號(hào)或其它可視信號(hào)，即可探測(cè)出電纜的路徑。測(cè)試方法一：直連法所示的是通過(guò)相和金屬護(hù)層之間注入信號(hào)的接線方式，其他的還有通過(guò)金屬護(hù)層和大地之間、相和大地之間等幾種注入信號(hào)的接線方式。

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時(shí)域反射（TDR）原理，即對(duì)電纜發(fā)射一電脈沖，電脈沖將在電纜中勻速傳輸，當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點(diǎn)），電脈沖將產(chǎn)生反射。測(cè)距主機(jī)將電脈沖的發(fā)射和反射的變化以時(shí)域形式通過(guò)液晶屏顯示出來(lái)，通過(guò)屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開(kāi)關(guān)按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開(kāi)電源。開(kāi)機(jī)2分鐘無(wú)任何操作時(shí)，屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。受歡迎的新型傳感器之一：?jiǎn)涡酒走_(dá)片上系統(tǒng)(system-on-chip，SoC)，其在汽車中的廣泛采用大幅提高了銷量，從而促進(jìn)了價(jià)格的下降。這些精密的IC器件對(duì)汽車制造商而言至關(guān)重要，對(duì)其它應(yīng)用也同樣有很大的吸引力。在汽車應(yīng)用領(lǐng)域，盡管IC器件將繼續(xù)占據(jù)主導(dǎo)地位，設(shè)計(jì)人員也在探索一系列新用途可以提高**性和便利性。誰(shuí)能想到單芯片雷達(dá)呢?雖然現(xiàn)在多個(gè)制造商已經(jīng)設(shè)計(jì)制造出多種形式的單芯片雷達(dá)。大多數(shù)已經(jīng)開(kāi)發(fā)出24GHz、76-81GHz、94GHz頻段的芯片。

② 充電端口：用于連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時(shí)針旋動(dòng)中值向上走動(dòng)；逆時(shí)針旋動(dòng)中值向下走動(dòng)。（需采樣刷新才有變化）大；逆時(shí)針旋動(dòng)幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用于連接采樣線。Atmel、賽普拉斯、Microchip和NXP等多家公司已經(jīng)把部分用戶可定義邏輯添加到自己的部件上，用于修復(fù)部分此類問(wèn)題。這些器件主要是帶附加邏輯的微控制器。CPU仍然是主要的處理器件，附加邏輯的作用是提高CPU的工作效率。這類器件常見(jiàn)于成本敏感性產(chǎn)品中，但也在低級(jí)任務(wù)中用作小型協(xié)處理器，以減輕主處理器的負(fù)擔(dān)，從而提升效率。另一方面FPGA也正在朝著類似的目標(biāo)前進(jìn)，雖然是從另一個(gè)方向。賽靈思和Altera多年來(lái)一直在添加軟硬核處理器以創(chuàng)建片上系統(tǒng)。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見(jiàn)“工作界面介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈沖”、“閃絡(luò)方法”和“速度測(cè)量”。儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)“低壓脈沖”，根據(jù)測(cè)試需要，可選擇相應(yīng)的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈沖寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個(gè)選項(xiàng)，分別為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測(cè)試距離選擇合適的脈寬，按對(duì)應(yīng)的子菜單鍵可以對(duì)脈沖寬度進(jìn)行選擇，儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項(xiàng)功能。注意：在高壓閃絡(luò)法測(cè)試中此項(xiàng)不做選擇。

在這項(xiàng)測(cè)試時(shí)，前端接上IT76系列交流電源，打開(kāi)電源的List功能，可以設(shè)定步進(jìn)的增大或較小電壓，亦可以編輯電壓的瞬間跌落，觀察交流負(fù)載上的輸入電壓是否跌落，去測(cè)試智能操作的保護(hù)特性。智能插座的過(guò)流/短路保護(hù)帶這項(xiàng)功能的智能插座可以在家電設(shè)備出現(xiàn)短路或者過(guò)流情況時(shí)，直接切斷輸出，不會(huì)跳開(kāi)家庭的總閘。在這項(xiàng)測(cè)試時(shí)，后端IT86系列交流負(fù)載步進(jìn)的去增大CC的拉載值，去觀察交流負(fù)載上的帶載電壓值，去驗(yàn)證智能插座的保護(hù)特性。