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HN2016智能sf6微水測試儀冷鏡式露點儀 密度繼電器測試儀 氣體定量檢漏儀 5年保修
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露點 |
測量范圍 |
－80 ℃～+20 ℃ |
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測量精度 |
±1℃（－80℃～＋20℃） |
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測量時間 （＋20℃） |
<3分鐘。 |
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環(huán)境溫度 |
－40℃～＋60℃ |
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在實際的工作中，您是否遇到過自己只有普通電源即電壓源（電壓固定，電流隨負載變化而變化），達不到使用要求的困擾？下面給大家介紹一個PEL-3000的實用功能，它可以很好的解決大家的此困擾，瞬間讓普通電源變成恒流源。實現(xiàn)方式：一臺普通電源串聯(lián)一臺PEL-3000電子負載，電源的電流調整到2.原理：電源與負載串聯(lián)后，電路的電流可以由電子負載的CC模式控制，因為串聯(lián)的關系，此時電源的輸出電流完全有負載控制，且在串聯(lián)電路中，輸出的電流不會因為負載的變化而變化，實現(xiàn)恒流源的功能。
1、連接SF6設備
將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好，用扳手擰緊，關閉測量管道上另一端的針型閥；
再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；
將排氣管道連接到出氣口。
后將開關接頭與SF6電氣設備測量接口連接好，用扳手擰緊；
2、檢查電量
本儀器優(yōu)先使用交流電。
使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低于約20％，請關機充電后繼續(xù)使用。
3、開始測量
打開儀測量管道上的針型閥，然后用面板上的流量閥調節(jié)流量，把流量調節(jié)到0.5L/M左右，開始測量SF6露點。
設備測量時間需要5～10分鐘，其后每臺設備需要3～5分鐘。
4、存儲數(shù)據(jù)
設備測量完成后，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。一種應用在電能表中RTC模塊的補償校準方法，包括：根據(jù)測量的RTC模塊的晶體溫度獲取時鐘校準所需的補償參數(shù)；根據(jù)所述補償參數(shù)和RTC模塊的補償單位計算補償校準值和補償余數(shù)；根據(jù)所述補償校準值和所述補償余數(shù)對RTC模塊的時鐘頻率進行校準。優(yōu)選地，在個補償周期中，所述根據(jù)所述補償校準值和所述補償余數(shù)對RTC模塊的時鐘頻率進行校準，具體包括：按照所述補償校準值對所述RTC模塊的時鐘頻率進行校準，并存儲所述補償余數(shù)。
5、測量其他設備
一臺設備測量后，關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調節(jié)閥。將轉接頭從SF6電氣設備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設備，按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺設備。
6、測量結束
所有設備測量結束后，關閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測量狀態(tài)，通過確定鍵可以進入功能菜單，如圖1。
允許服務器從工廠車間的控制器收集實時數(shù)據(jù)，并在標準數(shù)據(jù)庫中進行檢索、添加、刪除和更新數(shù)據(jù)記錄。這是通過支持與微軟Access兼容的數(shù)據(jù)庫、結構化查詢語言（SQL）服務器或開放式數(shù)據(jù)庫連接（ODBC）的連接來完成的。一些市場上的軟件工具允許用戶在IT企業(yè)系統(tǒng)和PLC之間建立連接，從而可以從PLC收集數(shù)據(jù)并保存在數(shù)據(jù)庫中。這些服務器的配置工作量通常很小，用戶可以將其配置為僅收集其流程所需的數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)庫功能，提供了跟蹤物料移動和生產(chǎn)指標的實際應用。
1、保存數(shù)據(jù)
在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進入保存數(shù)據(jù)頁面，保存數(shù)據(jù)時，可以根據(jù)設備進行編號。
設備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調整數(shù)據(jù)位數(shù)。
輸入編號后，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數(shù)據(jù)。
2、查看記錄
在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進入查看記錄頁面。
顯示時從后一個被保存的數(shù)據(jù)開始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。系統(tǒng)基于全制式全覆蓋的測試能力可解決物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)業(yè)鏈的測試難題，具體包括芯片模組測試、綜合測試、產(chǎn)線測試等多個環(huán)節(jié)。典型測試場景如下：發(fā)射機指標測試：UE發(fā)射功率UE指的是NB-IOT的終端產(chǎn)品，包括NB-IOT模塊以及使用了這些模塊的終端。UE占用帶寬，占用帶寬指的是分配信道之內(nèi)測量的99%積分平均功率時對應的信號帶寬。NB-IOT下行信號占用帶寬典型測試UE發(fā)射ACLR相鄰信道泄漏比，這個測來判定終端產(chǎn)品是否有可能對相鄰(或高或低)信道中的接收機產(chǎn)生干擾。
3、刪除記錄
在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。
4、修改時間
在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進入修改時間頁面。
通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。
輸入小時、分鐘、秒后，按“確定”鍵可以轉到下一個修改域內(nèi)。
回想您過去作為工程師的一年：您的角色發(fā)生了何種變化？過去五年又發(fā)生了哪些變化？隨著技術變革的步伐不斷加快，您必須調整工作的各個方面，并提率。一起拜讀下這篇來自NI產(chǎn)品營銷經(jīng)理JonahPaul的LabVIEWNXG優(yōu)勢盤點好文。在Aspencore（前稱UBM）2015年進行的一項測試測量研究中，包括半導體、汽車、國防和航天在內(nèi)的多個行業(yè)的工程師列出以下幾個方面為其測試開發(fā)演變過程中主要的變化：“適應快速變化的技術，為終端用戶提供測試能力和價值。