HN2016智能sf6微水測試儀sf6純度儀 SF6綜合測試儀 sf6冷鏡式露點儀 30年經(jīng)驗

露點	測量范圍	－80 ℃～+20 ℃
	測量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測量時間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

另一方面，在電源從額定負載到限流點負載范圍內(nèi)，電源又無法實現(xiàn)過流保護，將嚴重影響電源可靠性、壽命等。負載調(diào)整率和負載要求對單路輸出電源，一般無負載要求。但當負載降低到額定負載10%以下，為降低電源空載或輕載功耗，會進入間歇工作模式，雖不影響其正常工作，但其紋波可能會增大并出現(xiàn)聽覺噪聲。選擇電源模塊時功率亦需考慮。如負載低于1W，卻選擇10W或更大功率的電源明顯是不合適的。除此之外，對雙路及更多路輸出電源，通常要求每一路都帶有至少10%額定負載。1、連接SF₆設備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好，用扳手擰緊，關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥；

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF₆電氣設備測量接口連接好，用扳手擰緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低于約20％，請關(guān)機充電后繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥，然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開始測量SF₆露點。

設備測量時間需要5～10分鐘，其后每臺設備需要3～5分鐘。

4、存儲數(shù)據(jù)

設備測量完成后，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。便攜式電子產(chǎn)品與我們的生活日益密切，使用可穿戴設備已經(jīng)成為消費新潮流。在市場日益顯著增長的同時，如何提高電量計的準確性成為了亟待解決的問題。傳統(tǒng)內(nèi)置于可穿戴設備的電量計可提供的度約±8%。因此如果指示器顯示剩余電量為10%，那么實際值可能低至2%。用戶往往以為設備可以再工作一段時間，而系統(tǒng)卻突然意外關(guān)閉，丟失未保存的關(guān)鍵數(shù)據(jù)和工作，為用戶的使用帶來不便。試想如果這種故障發(fā)生在環(huán)境，還有可能危及生命。

5、測量其他設備

一臺設備測量后，關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF₆電氣設備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設備，按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺設備。

6、測量結(jié)束

所有設備測量結(jié)束后，關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài)，通過確定鍵可以進入功能菜單，如圖1。

為了使用于LED供電電源設計的每分錢都充分發(fā)揮作用，我們在本文中提出了一個方案——封閉實際光輸出的控制回路。半導體照明這一新興領(lǐng)域的出現(xiàn)，使同時專長于電力電子學、光學和熱管理學(機械工程)這三個領(lǐng)域的工程師成為搶手人才。目前，在三個領(lǐng)域都富有經(jīng)驗的工程師并不很多，而這通常意味著系統(tǒng)工程師或者整體產(chǎn)品工程師的背景要和這三大領(lǐng)域相關(guān)，同時他們還需盡可能與其他領(lǐng)域的工程師協(xié)作。系統(tǒng)工程師常常會把自己原領(lǐng)域養(yǎng)成的習慣或積累的經(jīng)驗帶入設計工作中，這和一個主要研究數(shù)位系統(tǒng)的電子工程師轉(zhuǎn)去解決電源管理問題時所遇到的情況相同：他們可能依靠單純的模擬，不在試驗臺上對電源做測試就直接在電路板上布線，因為他們沒有認識到：開關(guān)穩(wěn)壓器需要仔細檢查電路板布局；另外，如果沒有經(jīng)過試驗臺測試，實際的工作情況很難與模擬一致。

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進入保存數(shù)據(jù)頁面，保存數(shù)據(jù)時，可以根據(jù)設備進行編號。

設備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號后，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進入查看記錄頁面。

顯示時從后一個被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。本文說明了一種通用的集成電路RF噪聲測量技術(shù)。RF抗干擾能力測試將電路板置于可控制的RF信號電平下，RF電平代表電路工作時可能受到的干擾強度。從而產(chǎn)生了一個標準化、結(jié)構(gòu)化的測試方法，使用這種方法能夠得到在質(zhì)量中可重復的測試結(jié)果。這樣的測試結(jié)果有助于IC選型，從而獲得能夠抵抗RF噪聲的電路?？梢詫⒈粶y器件(DUT)靠近正在工作的蜂窩，以測試其RF敏感度。為了得到一個的、具有可重復性的測試結(jié)果，需要采用一種固定的測量方法，在可重復的RF場內(nèi)測試DUT。

3、刪除記錄

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時間

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進入修改時間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。

輸入小時、分鐘、秒后，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個修改域內(nèi)。

 架空光纜還要受到日曬雨淋和風吹擺動、車輛震動等影響，這些都有可能使接頭部位發(fā)生故障。在光通信應用的前期，有些光纖是硅橡膠涂覆層，保護較困難，接頭部位出現(xiàn)故障的可能性更大。接頭部位的故障多數(shù)為中斷性，也有少數(shù)表現(xiàn)為衰耗大幅度增加，導致全程衰耗超出允許范圍，這種故障發(fā)生的前幾天，可能出現(xiàn)通信不穩(wěn)定。外因造成的故障；這種故障大多發(fā)生在光纜的中間非接頭部位（當然接頭附近有可能）。架空光纜由于外界人為原因造成的損傷（砍樹時砸斷光纜）、起大風倒桿或樹木刮傷光纜；直埋光纜容易被修路工人挖傷，管道光纜則可能由于管道損傷、人孔內(nèi)人為造成損傷、管道內(nèi)鼠咬傷光纜等。