HNZDL系列可編程直流穩(wěn)壓電源 可編程直流開關電源 脈沖電鍍電源 程控交流大電流恒流源 30年經驗

一、產品特點 

1、采用超大TFT真彩大液晶觸摸屏（800X480）人機界面，用戶在觸摸屏上很方便的直接編程操作。

2、本機一次可執(zhí)行30組不同電壓、電流、延遲時間、運行時間的設定，并可連續(xù)循環(huán)999999次。

3、輸出電壓可以從零伏起調；輸出電流可以從零預置;現代生活日新月異，人們一刻也離不開電。在用電過程中就存在著用電**問題，在電器設備中，電機、電纜、家用電器等。它們的正常運行之一就是其絕緣材料的絕緣程度即絕緣電阻的數值。當受熱和受潮時，絕緣材料便老化。其絕緣電阻便降低。從而造成電器設備漏電或短路事故的發(fā)生。為了避免事故發(fā)生，就要求經常測量電器設備的絕緣電阻。判斷其絕緣程度是否滿足設備需要。普通電阻的測量通常有低電壓下測量和高電壓下測量兩種方式。

交流輸入 15KW以下（單相110V±10%、220V±10%、或者三相380V±15%）

15KW以上（三相380V±15%）

頻率：50HZ、60HZ、400HZ任選

直流輸出 電壓（穩(wěn)壓值CC）：0- 6000V連續(xù)可調  

電流（恒流值CV）：0- 100000A連續(xù)可調   

源電壓效應 ≤0.2%有效值

負載效應 穩(wěn)壓精度：≤0.5%有效值（阻性負載）

恒流精度：≤0.5%有效值（阻性負載）與儀器儀表有關的生命周期服務有：安裝與調試、支持與維護服務、搬遷規(guī)劃與升級項目、儀器咨詢與流程，以及培訓、校驗、零件與維修服務。這些服務的一個重要方面是協助客戶避免因信號完整性不足或儀器、執(zhí)行器的故障引起突發(fā)停機。突發(fā)停機會帶來嚴重后果會造成數千甚至數百萬美元的生產損失和資源浪費。ABB提供的緊急維修協助，旨在縮短突發(fā)停機的時間。在目前情況下，客戶要求儀器供應商進行拜訪或簽署合同，在預定的停工時間內進行定期維護，這種方法的檢修成本勢必很高。

輸出紋波 穩(wěn)壓狀態(tài)（CC）：≤0.3%+10mV（rms）（有效值）

穩(wěn)流狀態(tài)（CV）：≤0.5%+10mA（rms）（有效值）

輸出顯示 4位半數字表     精度 ：±1% +1個字

顯示格式  00.00V-19.99V；000.0V-199.9V；0000V-1999V；

電壓電流設定 多圈電位器、按鍵式、液晶觸摸屏（可選）

過壓保護 內置O.V.P保護，保護值為額定值+5%，保護后關閉輸出，重新開機解鎖

過流保護 過載、短路、定電流輸出半導體生產流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關知識經常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。