HNZDL系列可編程直流恒流大電流電源 三相交直流儀表校驗裝置 價格 交流采樣校驗儀 交流標準源

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059
輸入電壓：AC380V±10℅,50Hz
輸出電壓：0-6000V可調(diào)輸出 或 固定輸出 根據(jù)客戶要求
輸出電流：0-100KA可調(diào)輸出 

電容器完成充電之后必須及時拔除電源，以避免它向電源放電。USB中的數(shù)據(jù)可以導入Excel進行深入。技巧3了解瞬態(tài)響應您注意過在啟動空調(diào)以后屋里的燈光瞬間變暗的情況嗎？這是因為空調(diào)吸收了大量電流，致使供電電壓下降，進而導致了燈光變暗。一小段時間之后，電壓還會恢復正常。直流電源上的輸出阻抗，也會造成類似的電壓瞬變。對電流的需求突然增加時，電源的輸出電壓就會瞬間下降。同理，電流的下降會導致電源電壓突然升高。

高壓大功率穩(wěn)壓電源具有高穩(wěn)定性和可靠性、控制靈活方便、可實現(xiàn)計算機遠程控制、率、低功耗、相對尺寸小、抗打火，耐沖擊等特點。

此電源已應用在工業(yè)等領域，如試驗、氣體放電、給電容充電、磁控管、供電及靜電紡絲生產(chǎn)設備上，也可應用于元器件的測試老煉及其他一切需要使用高壓的場合。

我們可根據(jù)客戶的要求定制高電壓的大功率電源，電壓可連續(xù)可調(diào)，有短路、過壓、過流保護，可長期滿載連續(xù)穩(wěn)定的工作。

半導體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關知識經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

進口可控硅作為功率器件，原裝富士模塊作為調(diào)壓穩(wěn)壓器件。與市場上普通的繼電器調(diào)壓式和調(diào)壓變壓器調(diào)壓式直流電源相比，具有精度高，紋波小，穩(wěn)定性極高的特點。電壓電流值從零至額定值連續(xù)可調(diào)，恒壓恒流自動轉換在確定范圍內(nèi)任意選擇且限制保護點。電壓、電流同時LED數(shù)碼管顯示。廣泛應用于各大專院校實驗室，自動測試設備，電子檢驗設備，生產(chǎn)線的電阻器、繼電器，馬達等電子元件老練，例行試驗，電解電容器老練，鉭電容器賦能。通訊設備。自動老化設備等一切需要直流電源的場合