安規(guī)測(cè)試儀檢定裝置有以下幾種 回路電阻測(cè)試儀檢定裝置 耐電壓測(cè)試儀校驗(yàn)儀 HN系列 兆歐表校驗(yàn)儀 量大價(jià)優(yōu)

HN8061A

依據(jù)JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規(guī)程》,用于檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10T半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝后測(cè)試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey后，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。

HN8062A接地電阻表校驗(yàn)裝置

用于檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規(guī)程》所適用的我目前生產(chǎn)的型號(hào)的模擬式、數(shù)字式接地電阻表以及進(jìn)口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調(diào)節(jié)范圍寬，使用方便，造型美觀等優(yōu)點(diǎn)。然后通過“自動(dòng)下一幀”菜單，選擇要查看的波形幀數(shù)，可以選擇從幀開始，到后一幀介紹，然后設(shè)定每一幀的回放速度（從人眼的反應(yīng)考慮，建議選擇2ms/幀以上），點(diǎn)擊開始之后，界面中的波形會(huì)進(jìn)行回放，當(dāng)看到想要看的波形后按停止按鍵，然后通過“數(shù)據(jù)序號(hào)”來調(diào)整波形，確?？吹阶约合胍牟ㄐ危缢?；第四步，找到了想要觀察的波形幀之后，可以通過“FORM按鍵調(diào)整界面的窗口時(shí)間，對(duì)波形進(jìn)行任意放大或縮小”并可以調(diào)出光標(biāo)測(cè)量任意兩點(diǎn)的橫縱軸數(shù)據(jù)。

HN8063A耐電壓測(cè)試儀校驗(yàn)裝置

1、測(cè)量準(zhǔn)度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準(zhǔn)度：1級(jí)  0.5級(jí)  0.2級(jí)望遠(yuǎn)鏡配置包含了八個(gè)子望遠(yuǎn)鏡陣列和光束組合望遠(yuǎn)鏡位于陣列的，用來采集來自子望遠(yuǎn)鏡的光線，并且可以在聚焦平面上產(chǎn)生干涉圖像。光學(xué)延遲線可以均衡來自每個(gè)子望遠(yuǎn)鏡不同波前進(jìn)入路徑的差別，后到達(dá)覆蓋在上面的聚焦平面。干涉邊緣圖案樣式在聚焦平面上形成，并且具有良好的可見度，在干涉儀臂之間的光學(xué)路徑差（OPD）被保持在比相干長度小的范圍之內(nèi)。隨著OPD的增加，邊緣圖案變得越來越黯淡，即其可見度越來越低。這是因?yàn)楦缮鎯x并非工作在單一的波長上，而是工作在有限的頻帶上。

HN8065A型泄漏電流測(cè)試儀檢定裝置

一、性能特點(diǎn)

1、源、表測(cè)量范圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計(jì)：10-100Hz磁耦器件可提供5000Vrms/min及6000V/10sec的電壓隔離保護(hù)，多種型號(hào)的磁耦帶有±15KV的ESD保護(hù)。長壽命。采用芯片級(jí)變壓器技術(shù)傳輸信號(hào)，消除光耦傳輸時(shí)的器件損耗。器件內(nèi)部基本不存在損耗，正常工作條件下至少達(dá)到50年工作壽命。低功耗。磁耦基于芯片級(jí)變壓器傳輸原理，信號(hào)傳輸時(shí)幾乎不存在能量損耗，因此能以極低的功耗實(shí)現(xiàn)高度的數(shù)據(jù)隔離。相同速率下，其功耗僅為光耦的1/10~1/6。電源隔離信號(hào)通道做隔離后，建議電源通道也做隔離，可直接采用帶隔離的DC-DC隔離模塊實(shí)現(xiàn)，如下圖所示。

HN8066A型接地導(dǎo)通電阻測(cè)試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續(xù)帶電可調(diào)。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。煤炭工業(yè)中，測(cè)控技術(shù)的應(yīng)用有：采煤過程的煤層氣測(cè)井儀器、礦井空氣成分檢測(cè)儀器、礦井瓦斯檢測(cè)儀、井下**保障監(jiān)控系統(tǒng)等，煤精煉過程的熄焦過程控制、煤氣回收控制、精煉過程控制、生產(chǎn)機(jī)械傳動(dòng)控制等。石油工業(yè)中，測(cè)控技術(shù)的應(yīng)用有：采油過程的磁性儀、含水儀、壓力計(jì)等支撐測(cè)井技術(shù)的測(cè)量?jī)x表，煉油過程的供電系統(tǒng)、供水系統(tǒng)、供蒸汽系統(tǒng)、供氣系統(tǒng)、儲(chǔ)運(yùn)系統(tǒng)和三廢處理系統(tǒng)與其連續(xù)生產(chǎn)過程中大量參數(shù)的檢測(cè)儀表等。

HN8068A型回路電阻測(cè)試儀，直流電阻測(cè)試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調(diào)。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。

回路電阻測(cè)試儀檢定裝置 耐電壓測(cè)試儀校驗(yàn)儀 HN系列 兆歐表校驗(yàn)儀 量大價(jià)優(yōu)好像在突然之間，電容式傳感器就無處不在了。它被安裝在汽車座位里以控制氣囊配置和**帶預(yù)緊裝置，在洗碗機(jī)和干燥機(jī)中以校正旋轉(zhuǎn)桶的狀態(tài)，甚至冰箱也使用其來控制自動(dòng)去冰過程。但是直到現(xiàn)在，它的潛在應(yīng)用領(lǐng)域還是觸摸開關(guān)，觸摸開關(guān)已越來越多地出現(xiàn)在消費(fèi)電子產(chǎn)品中。因?yàn)榛旌闲盘?hào)IC工藝得到廣泛的采用，電磁流量計(jì)這種技術(shù)允許芯片設(shè)計(jì)師優(yōu)化芯片的模擬和數(shù)字子系統(tǒng)，以構(gòu)建具有的靈敏度和耐用性的電容式傳感器，而且成本是機(jī)械式開關(guān)所不能比擬的。