安規(guī)測(cè)試儀檢定裝置有以下幾種 回路電阻測(cè)試儀檢定裝置 模擬交流標(biāo)準(zhǔn)電阻器 HN系列 兆歐表校驗(yàn)裝置 生產(chǎn)廠家

HN8061A

依據(jù)JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規(guī)程》,用于檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10T為什么這么說呢？我們來看一個(gè)設(shè)計(jì)示例：0-1012V標(biāo)稱值、5mΩ的感測(cè)電阻。：明顯的電流檢測(cè)方案使用差分放大器。這種方案甚至都不需考慮使用分立電阻，除非它們是精密匹配網(wǎng)絡(luò)的一部分（當(dāng)然也就不是真正分立的）。對(duì)于1V的電源電壓偏移和80dB的差分放大器CMRR（這意味著約0.01％的電阻匹配），你會(huì)看到相當(dāng)于20mA的電流漂移（1V變化、80dB的CMRR導(dǎo)致輸入0.1mV偏移，再除以5mΩ檢測(cè)電阻的5mV/A標(biāo)定）。

HN8062A接地電阻表校驗(yàn)裝置

用于檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規(guī)程》所適用的我目前生產(chǎn)的型號(hào)的模擬式、數(shù)字式接地電阻表以及進(jìn)口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調(diào)節(jié)范圍寬，使用方便，造型美觀等優(yōu)點(diǎn)。M9703A具有實(shí)時(shí)DDC功能和超高帶寬，可作為該測(cè)試系統(tǒng)的解決方案，特別適用于校準(zhǔn)應(yīng)用。其多模塊處理同步功能可提供的通道間相位相參性。雖然參考解決方案針對(duì)的是窄帶測(cè)量，但是M9703A也能捕獲帶寬更寬的信號(hào)（使用DDC特性時(shí)可達(dá)300MHz，不使用DDC時(shí)可達(dá)600MHz）。假設(shè)大多數(shù)相位陣列天線都是在射頻/微波頻率上，并且使用一個(gè)中頻數(shù)字轉(zhuǎn)換器，此時(shí)有必要利用模擬混頻技術(shù)將捕獲到的信號(hào)下變頻至M9703A通帶內(nèi)的中頻。

HN8063A耐電壓測(cè)試儀校驗(yàn)裝置

1、測(cè)量準(zhǔn)度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準(zhǔn)度：1級(jí)  0.5級(jí)  0.2級(jí)無人機(jī)可搭載可見光相機(jī)和紅外熱像儀進(jìn)行航拍，不受空間和地理位置的局限，熱像儀通過探測(cè)物體本身發(fā)出的紅外線，對(duì)景物溫度分布進(jìn)行成像，能在能見度低和有危險(xiǎn)性位置進(jìn)行探測(cè)，兩者技術(shù)的重疊可用于夜視追蹤、搜尋救援、設(shè)備巡檢、農(nóng)林牧漁等領(lǐng)域，尤其是在一些災(zāi)難預(yù)防以及監(jiān)測(cè)中，也發(fā)揮不可小覷的作用。熱成像+智能化監(jiān)控經(jīng)歷了由人力值守、辨別發(fā)展到機(jī)器自動(dòng)的發(fā)展過程，已經(jīng)完成了由事后檢索逐步過渡到自動(dòng)化、智能化的身份轉(zhuǎn)變。

HN8065A型泄漏電流測(cè)試儀檢定裝置

一、性能特點(diǎn)

1、源、表測(cè)量范圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計(jì)：10-100Hz數(shù)字示波器是一種通用測(cè)試儀表，本質(zhì)上是一種圖形顯示設(shè)備，相當(dāng)于具有圖形顯示的電壓表或萬用表，能在屏幕上直觀的顯示信號(hào)隨時(shí)間變化的波形，并對(duì)波形的周期、電壓、頻率等參數(shù)進(jìn)行測(cè)量和，廣泛應(yīng)用于科研、生產(chǎn)等各個(gè)領(lǐng)域，是工程師設(shè)計(jì)，調(diào)試，維修產(chǎn)品時(shí)的主要測(cè)試儀表，對(duì)測(cè)試工作起著舉足輕重的作用。很多工程師在使用數(shù)字示波器時(shí)，都會(huì)遇到這樣一些問題：用計(jì)量合格的數(shù)字示波器測(cè)得的信號(hào)幅度和頻率等數(shù)據(jù)有時(shí)會(huì)與信號(hào)本身設(shè)計(jì)值相差很遠(yuǎn)，于是就去找電路的問題，但費(fèi)時(shí)費(fèi)力后，卻一無所獲，不知問題出在哪里。

HN8066A型接地導(dǎo)通電阻測(cè)試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續(xù)帶電可調(diào)。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝后測(cè)試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey后，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。

HN8068A型回路電阻測(cè)試儀，直流電阻測(cè)試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調(diào)。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。

回路電阻測(cè)試儀檢定裝置 模擬交流標(biāo)準(zhǔn)電阻器 HN系列 兆歐表校驗(yàn)裝置 生產(chǎn)廠家在壓力監(jiān)測(cè)時(shí)，這些傳感器還涉及安裝困難、長期穩(wěn)定性差等問題。井下光纖傳感器沒有井下電子線路、易于安裝、體積小、抗干擾能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)，而這些正是井下監(jiān)測(cè)所必需的。美國CiDRA公司的在光纖壓力監(jiān)測(cè)研究方面處于前沿，他們的科研人員發(fā)現(xiàn)了布喇格光纖光柵傳感器對(duì)壓力的線性響應(yīng)。已開發(fā)的傳感器能夠工作到175oC，2oC和稍高溫度的產(chǎn)品正在開發(fā)，25oC是研發(fā)的下一個(gè)目標(biāo)。不同溫度和壓力下的壓力測(cè)量誤差，在測(cè)試范圍(MPa~34.5MPa)內(nèi)，均小于±6.89kPa，相當(dāng)于電子測(cè)量系統(tǒng)的的水平。