HN8000兆歐表檢定裝置

HN8000型兆歐表檢定裝置是根據(jù)JJG622-1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規(guī)程》，JJG 1005-2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》，DL/T 979-2005 《直流高壓高阻箱檢定規(guī)程》之要求設(shè)計(jì)制造的新型絕緣電阻表檢定裝置，其測試電壓可達(dá)10000V。各項(xiàng)指標(biāo)均符合規(guī)程的要求。它不僅能檢定型號、不同規(guī)格的國產(chǎn)、進(jìn)口絕緣電阻表（兆歐表），而且可用作高阻計(jì)的檢定。很多測試項(xiàng)目(乘用車路試)很難重復(fù)進(jìn)行，因此對數(shù)據(jù)保存的可靠性提出了更高的要求。橫河的SMARTDAC+系列采集器，采用本地存儲設(shè)計(jì)，儀器內(nèi)置非易失性大內(nèi)存，按照時(shí)間間隔(保存周期)分割保存到內(nèi)存的數(shù)據(jù)文件，會同時(shí)自動保存至外部SD存儲卡從而實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的雙重備份。將數(shù)據(jù)保存至SD存儲卡時(shí)，如果SD卡的可用空間不足，儀器會按照數(shù)據(jù)的更新時(shí)間刪除早的文件，然后保存新文件。該功能稱為FIFO(先進(jìn)先出)，可以被手動關(guān)閉。

2.5 結(jié)構(gòu)

    采用十進(jìn)制步進(jìn)序列，高阻部分和低阻部分分開的分體式結(jié)構(gòu)，其中高阻部分采用密封式鑄鋁機(jī)箱，電阻輸出范圍10⁹~10¹²Ω，低阻部分采用半封閉式鐵皮機(jī)箱，電阻輸出范圍10²~10⁹Ω；端電壓測量范圍100V~10kV。

2.6  兆歐表檢定裝置未列指標(biāo)均符合高阻箱檢定規(guī)程之要求。

2.7  體積、重量：618×290×130（mm）、20kg圓鋼的生產(chǎn)往往伴隨著高溫、粉塵、氧化鐵皮等。四路測徑儀成功克服了以上問題，實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的在線測量，本文介紹的四路測徑儀是大直徑的圓鋼測徑儀，其測頭采用鋁合金制造，散熱性能良好。在高壓離心風(fēng)機(jī)持續(xù)為測徑儀送風(fēng)的工作條件下，可以保證測頭內(nèi)光電元件處于正常工作溫度范圍內(nèi)。LPBJ15.12型測徑儀內(nèi)共設(shè)置八路7單測頭和四路由7單測頭組合的15雙測頭。其中7單測頭的測量范圍為～7mm，用于測量直徑φ1～φ45mm的軋材；雙測頭的測量范圍為2～15mm，用于測量直徑φ46～φ11mm的軋材。

使用方法

5.1 使用前的準(zhǔn)備

檢查裝置中各開關(guān)能否正常旋轉(zhuǎn)，端電壓表能否正常顯示。

5.2  數(shù)字式兆歐表電阻測量功能的檢定

5.2.1 按圖4要求接線（同名端相接）。

5.2.2選擇全檢量程調(diào)節(jié)旋鈕直接輸出對應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)電阻值，記錄數(shù)字式兆歐表的讀數(shù)，依據(jù)公式算出相對誤差：

式中：δ —— 被檢兆歐表電阻讀數(shù)值的相對誤差，%；

R_x —— 被檢兆歐表電阻讀數(shù)值，Ω；

R_n —— 檢定裝置電阻標(biāo)稱值，Ω。

5.3  指針式兆歐表電阻測量功能的檢定

5.3.1 按圖5要求接線（同名端相接）。

5.3.2 按兆歐表中的被檢分度值預(yù)置高阻箱的電阻值。

5.3.3 啟動恒轉(zhuǎn)速源（轉(zhuǎn)速設(shè)定在120轉(zhuǎn)/分，若需其它轉(zhuǎn)速，按增、減速鍵即可）。

5.3.4 調(diào)節(jié)高阻箱的電阻值，使得兆歐表指針與被檢分度線重合，高阻箱示值即為被檢分度值對應(yīng)的實(shí)測值，依據(jù)公式(2)算出誤差：

式中：δ —— 被檢兆歐表電阻讀數(shù)值的相對誤差，%；

R_x —— 被檢兆歐表電阻分度線數(shù)值，Ω；

R_n —— 被檢分度線數(shù)值對應(yīng)的實(shí)測值，Ω。

5.3.5 按同樣方法順序檢定每個(gè)標(biāo)有數(shù)值的分度線。

5.3.6本裝置由低阻部分和高阻部分組合而成，當(dāng)被檢兆歐表分度值大于1GΩ時(shí)，需將高阻部分與低阻部分接連使用，其連線方式如下圖： 

紅外攝像機(jī)因?yàn)闊o損檢測使用的紅外攝像機(jī)要以高靈敏度捕捉瞬變現(xiàn)象，因此需要有高時(shí)間分辨率的高幀速率。每個(gè)像素的空間分辨率由與紅外攝像機(jī)一起使用的透鏡所決定的空間分辨率視角決定，如要檢測大型目標(biāo)和精細(xì)區(qū)域，要使用高像素的紅外攝像機(jī)。2.光激發(fā)無損檢測-光學(xué)增強(qiáng)方法的基本原理為光激發(fā)無損檢測裝置概圖。該方法分為所示的脈沖熱成像和所示的鎖相熱成像兩種。-脈沖熱成像的基本原理脈沖熱成像方法通過瞬間燈光激發(fā)使測量對象出現(xiàn)溫度上升,在溫度下降的過程中，通過圖像顯示正常位置和缺陷位置出現(xiàn)的溫度變化和時(shí)間相位滯后。

7.1  該檢定裝置應(yīng)在干燥、無腐蝕氣體、無陽光直射、無強(qiáng)磁場干擾、溫度在23℃±5℃、相對濕度≤75%的環(huán)境中使用。

7.2  如因存放、使用不善，使得該裝置受潮，出現(xiàn)干燥劑變色，除更換干燥劑外，還需用小于50℃的干燥熱風(fēng)對裝置內(nèi)部（特別是高阻值部分）進(jìn)行去濕處理后方能保證該裝置的正常使用。

7.3  檢定裝置若長時(shí)間未使用，在再次使用前應(yīng)將電阻調(diào)節(jié)開關(guān)從頭至尾轉(zhuǎn)動數(shù)次，保證其接觸良好。按照存儲芯片MicroSD卡供電要求的范圍：2.7V-3.6V；不允許超出此范圍，否則，芯片在不穩(wěn)定的電壓下工作會有比較大的風(fēng)險(xiǎn)，甚至?xí)ㄆ恼９ぷ鲙碛绊憽Ｐ枰紤]的是示波器的設(shè)置，究竟是否需要進(jìn)行20MHZ的帶寬限制？詳細(xì)的使用環(huán)境如下圖所示：如何去測試“高頻開關(guān)電源”噪聲IPAD剛引出來的那個(gè)端口可以當(dāng)做電源的源端，而通過后端的外圍模塊后在末端進(jìn)行測試的時(shí)候，電源通過了一段PCB走線，包括一些芯片回路，應(yīng)該存在高頻的噪聲，如果采用20MHZ的帶寬限制，實(shí)際上是將原本屬于模塊的噪聲給濾掉了，為此，我們進(jìn)行了對比測試進(jìn)行驗(yàn)證：步，我先驗(yàn)證IPAD的供電端在工作時(shí)的輸出，如下圖：通過直接驗(yàn)證IPAD的輸出口的電壓,保證源端的供電是正常的；通過測試，我們發(fā)現(xiàn)在源端測量的電壓值在3.4V（500MHZ帶寬測量）左右，峰峰值29mV，是非常穩(wěn)定的供電；可以排除源端供電的問題，接下來，我們直接在通過整個(gè)模塊后在MicroSD卡的供電腳SDVCC對電行測量，如下圖：當(dāng)我們在圖片上的點(diǎn)進(jìn)行測試的時(shí)候，發(fā)現(xiàn)在高頻開關(guān)電源上有相當(dāng)大的噪聲，使得電壓超出了規(guī)范要求的范圍，值達(dá)到了3.814V，峰峰值達(dá)854mV；但當(dāng)我們將示波器設(shè)置為20MHZ帶寬的時(shí)候，高頻開關(guān)電源變的非常好，完全在供電要求的范圍內(nèi)；正如在本文開頭描述的，在本次高頻開關(guān)電源測試過程中，已經(jīng)不是高頻開關(guān)電源紋波測量，而應(yīng)該是噪聲。青島華能供應(yīng) 絕緣電阻表校準(zhǔn)儀 試驗(yàn)方法