HN11C高壓開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試儀高壓開(kāi)關(guān)時(shí)間特性測(cè)試儀 HN11C系列 移相器 定制定做
一、功能特點(diǎn) 

測(cè)試指標(biāo)：可測(cè)試國(guó)產(chǎn)（進(jìn)口）真空、六氟化硫、油高壓斷路器，負(fù)荷開(kāi)關(guān)、GIS接地刀閘開(kāi)關(guān)、接觸器、繼電器、空氣開(kāi)關(guān)等。合、分閘時(shí)間、同期、彈跳時(shí)間、次數(shù)、自動(dòng)重合閘、行程、速度、電流、動(dòng)作電壓等各項(xiàng)數(shù)據(jù)、波形。

抗擾通道：可抵御550KV變電所現(xiàn)場(chǎng)靜電干擾！世界半導(dǎo)體工業(yè)界，這種進(jìn)步至少仍將持續(xù)10到15年。面對(duì)現(xiàn)有的晶體管模式及技術(shù)已經(jīng)臨近極限，借助芯片設(shè)計(jì)人員巨大的創(chuàng)造才能，使一個(gè)個(gè)看似不可逾越的難關(guān)化險(xiǎn)為夷，硅晶體管繼續(xù)著小型化的步伐。近期美國(guó)科學(xué)家的科技成果顯示，將10納米長(zhǎng)的圖案壓印在硅片上的時(shí)間為四百萬(wàn)分之一秒，把硅片上晶體管的密度提高了100倍，同時(shí)也大大提高了線(xiàn)生產(chǎn)的速度。這一成果將使電子產(chǎn)品繼續(xù)微小化，使摩爾定律繼續(xù)適用。

位移通道：1路位移信號(hào)采集，適配耐用的精密電阻線(xiàn)性位移、角位移傳感器。亦可適配用戶(hù)傳統(tǒng)自配的滑線(xiàn)電阻傳感器。

同步觸發(fā)：可響應(yīng)電壓、電流、傳感器、斷口變化多種同步觸發(fā)方式。具有無(wú)電位接點(diǎn)操作控制模塊，無(wú)彈跳接點(diǎn)，接點(diǎn)開(kāi)斷容量： 30A，250V（AC/DC）

操作界面：5.7″黑白液晶屏，菜單式操作，并在面板上增加了快捷設(shè)置按鍵。配備高精度激光傳感器，傳感器安裝迅速、快捷、簡(jiǎn)單；同時(shí)也可配置滑線(xiàn)電阻傳感器和角度傳感器；并配備齊全相關(guān)傳感器、斷路器的測(cè)試支架；傳統(tǒng)傳感器是以機(jī)-電測(cè)量為基礎(chǔ)，而光纖傳感器則以光學(xué)測(cè)量為基礎(chǔ)。如下圖所示，以電為基礎(chǔ)的傳統(tǒng)傳感器是一種把被測(cè)量的狀態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)榭蓽y(cè)電信號(hào)的裝置，是由電源、敏感元件、信號(hào)接收和處理系統(tǒng)，以及傳輸信息所用金屬導(dǎo)線(xiàn)組成。光纖傳感器則是一種把被測(cè)量的狀態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)榭蓽y(cè)光信號(hào)的裝置。由光發(fā)送器、敏感元件(光纖或非光纖的)、光接收器、信號(hào)處理系統(tǒng)，以及光纖構(gòu)成。由光發(fā)送器發(fā)出的光經(jīng)源光纖引導(dǎo)至敏感元件，在這里，光的某一性質(zhì)受到被測(cè)量的調(diào)制。

速度定義：提供了常用的開(kāi)關(guān)速度定義庫(kù)和可編輯速度定義庫(kù)兩種模式可供用戶(hù)自行選擇。

錄波功能：12路普通金屬觸頭通斷、線(xiàn)圈電流；行程、時(shí)間波形。具有斷路器型號(hào)庫(kù)功能，測(cè)試時(shí)可直接調(diào)用數(shù)據(jù)庫(kù)斷路器型號(hào)，無(wú)需特別設(shè)置

U盤(pán)存儲(chǔ)：可將數(shù)據(jù)及波形文件快速存儲(chǔ)到U盤(pán)，直接用上位機(jī)軟件打開(kāi)。

在線(xiàn)幫助：儀器內(nèi)置豐富的接線(xiàn)、安裝、測(cè)試操作幫助。無(wú)說(shuō)明書(shū)就能簡(jiǎn)單使用。尤其是在以下兩種情況下，非常不建議采用兩線(xiàn)制測(cè)試：測(cè)試導(dǎo)線(xiàn)過(guò)長(zhǎng)，R1R2偏大，有時(shí)甚至?xí)叱霰粶y(cè)電阻，兩線(xiàn)制測(cè)試極易導(dǎo)致結(jié)果錯(cuò)誤；被測(cè)電阻Rb為低阻值時(shí)，饋線(xiàn)電阻的影響會(huì)比平時(shí)更大，也容易造成讀數(shù)誤差較大。蓄電池的內(nèi)阻很小，2V電芯的典型內(nèi)阻為.3mΩ，所以對(duì)于此類(lèi)阻值的測(cè)量，需要采用更的測(cè)試方法。四線(xiàn)制測(cè)試原理四線(xiàn)制測(cè)試法即為開(kāi)爾文測(cè)試法。如下圖所示，開(kāi)爾文連接有兩個(gè)要求：對(duì)于每個(gè)測(cè)試點(diǎn)都有一條激勵(lì)線(xiàn)和一條檢測(cè)線(xiàn),二者嚴(yán)格分開(kāi)，各自構(gòu)成立回路：激勵(lì)回路用于測(cè)定流過(guò)Rb的電流I1，檢測(cè)回路用于測(cè)定Rb兩端的電壓V34，因電壓表的內(nèi)部阻抗遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于檢測(cè)回路的饋線(xiàn)電阻R3和R4，因此流經(jīng)電壓表的電流I2幾乎為零，所量到的電壓V34也幾乎是Rb本身的壓降。