HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6純度儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)

露點(diǎn)	測(cè)量范圍	－80 ℃～+20 ℃
	測(cè)量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測(cè)量時(shí)間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

由于采用了現(xiàn)代測(cè)控手段，這些設(shè)備可以做得相當(dāng)精密，卻因設(shè)備復(fù)雜，昂貴，運(yùn)作費(fèi)時(shí)費(fèi)工，主要作為標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量之用，其測(cè)量精度可達(dá)±2%RH-±1.5%RH。靜態(tài)法中的飽和鹽法，是濕度測(cè)量中常見(jiàn)的方法，簡(jiǎn)單易行。但飽和鹽法對(duì)液、氣兩相的平衡要求很?chē)?yán)，對(duì)環(huán)境溫度的穩(wěn)定要求較高。用起來(lái)要求等很長(zhǎng)時(shí)間去平衡，低濕點(diǎn)要求更長(zhǎng)。特別在室內(nèi)濕度和瓶?jī)?nèi)濕度差值較大時(shí)，每次開(kāi)啟都需要平衡6~8小時(shí)。露點(diǎn)法是測(cè)量濕空氣達(dá)到飽和時(shí)的溫度，是熱力學(xué)的直接結(jié)果，準(zhǔn)確度高，測(cè)量范圍寬。1、連接SF₆設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好，用扳手?jǐn)Q緊，關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥；

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

后將開(kāi)關(guān)接頭與SF₆電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好，用扳手?jǐn)Q緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí)，請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量，如果電量低于約20％，請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥，然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開(kāi)始測(cè)量SF₆露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要5～10分鐘，其后每臺(tái)設(shè)備需要3～5分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。測(cè)試時(shí)，探針壓在PCB表面的待測(cè)點(diǎn)，然后通電測(cè)試每個(gè)網(wǎng)點(diǎn)的通斷，并報(bào)告存在的短路和斷路缺陷。其局限在于只能檢測(cè)短路和斷路兩種缺陷，缺口、針孔和殘留銅等其它缺陷都無(wú)法檢測(cè)。針床夾具的成本過(guò)高，小批量生產(chǎn)不合適；但是隨著電子組裝向更高密度、更小尺寸、更復(fù)雜的PCB混合技術(shù)的縱深發(fā)展，僅依靠人眼檢測(cè)或電測(cè)試印制電路板的質(zhì)量無(wú)法滿足品質(zhì)要求。為提高產(chǎn)品質(zhì)量，減少進(jìn)入下步工序的有缺陷電路板的數(shù)量，對(duì)PCB檢測(cè)中的關(guān)鍵設(shè)備----自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)系統(tǒng)的需求也越來(lái)越大。

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后，關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF₆電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備，按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后，關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單，如圖1。

在電子技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域，經(jīng)常要對(duì)開(kāi)關(guān)電源、線性電源、UPS電源、變壓器、整流器、電池、充電器等電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，傳統(tǒng)的測(cè)試方法中一般都采用電阻、滑動(dòng)變阻器、電阻箱等充當(dāng)測(cè)試負(fù)載，但這些負(fù)載不能滿足我們對(duì)負(fù)載多樣性的需求，如：恒定電流的負(fù)載，隨意調(diào)節(jié)阻值的負(fù)載，恒定功率的負(fù)載，動(dòng)態(tài)負(fù)載等，可編程電子負(fù)載才被設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)出來(lái)。根據(jù)負(fù)載所接電流類別，電子負(fù)載可以分為兩大類：直流電子負(fù)載和交流電子負(fù)載。本文主要討論直流電子負(fù)載。

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面，保存數(shù)據(jù)時(shí)，可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位，可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè)，此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。低功耗、高速度、高集成度的LSI電路是成多電子產(chǎn)品的要考慮，這也就導(dǎo)致裝置比以往任何時(shí)候更容易受到電磁干擾的威脅。此外，大功率家電及辦公自動(dòng)化設(shè)備的增多，以及移動(dòng)通信、無(wú)線網(wǎng)絡(luò)的廣泛應(yīng)用等，又大大增加了電磁擾源。這些變化迫使人們把電磁兼容作為重要的技術(shù)問(wèn)題加以關(guān)注。電磁兼容采用一定的技術(shù)手段，使同一電磁環(huán)境中的電子、電氣設(shè)備都能正常工作，并且不干擾其他設(shè)備的正常工作，這就是電磁兼容（ElectromagneticCompatibility，縮寫(xiě)為EMC)。

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間，按“確定”鍵，進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 但通過(guò)熱像儀，我們可以準(zhǔn)確看到佛像左小手臂下方有明顯的裂縫存在。這其中的原理是，裂縫中存在空氣對(duì)流的情況，導(dǎo)致裂紋處的表面溫度與佛像本體的溫度存在溫差。熱像儀將溫度場(chǎng)分布通過(guò)圖像的形式來(lái)表達(dá)，所以在紅外圖中可以直觀看到，但在可見(jiàn)光中無(wú)法看到該裂縫。受潮檢測(cè)佛像底座受潮檢測(cè)，針對(duì)霉變隱患處進(jìn)行防霉除霉處理。由于佛像依山開(kāi)鑿，山體中的毛細(xì)水沿著山勢(shì)經(jīng)年累月緩慢地浸入佛像底座。佛像中濕度大的區(qū)域與干燥的區(qū)域，存在細(xì)微溫差。