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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量
sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

新型LTE23無線通信系統(tǒng)充分利用低頻段覆蓋距離遠(yuǎn)以及4GLTE先進(jìn)技術(shù)的優(yōu)勢(shì),具有大容量、廣覆蓋、率、高**性等特點(diǎn),在電力無線專網(wǎng)領(lǐng)域受到越來越多的關(guān)注。統(tǒng)LTE23電力無線通信系統(tǒng)可直接部署在23MHz電力4個(gè)授權(quán)頻點(diǎn)上,符合對(duì)低頻段的技術(shù)升級(jí)改造政策,當(dāng)前LTE23電力無線通信專網(wǎng)已經(jīng)在北京東城區(qū)、江蘇揚(yáng)州、浙江海鹽等多處開展了試點(diǎn)工作,為電力通信專網(wǎng)建設(shè)提供了良好的借鑒意義和示范作用。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。當(dāng)總線接口受到靜電放電時(shí),由于總線側(cè)懸空,能量只能通過隔離柵的等效電容Ciso進(jìn)行泄放,由于Ciso非常小,僅有幾皮法至十幾皮法,Ciso被迅速充電,兩端電壓Viso會(huì)非常高,幾乎等同于放電電壓。電壓施加在隔離接口模塊的隔離柵,若電壓超出了隔離柵的電壓承受范圍,則會(huì)導(dǎo)致內(nèi)部隔離柵損壞。圖3對(duì)于一般的隔離接口模塊,隔離柵可承受的靜電放電電壓只有4kV,對(duì)于更高等級(jí)的6kV或8kV的靜電來說是非常脆弱的,極易出現(xiàn)損壞情況。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

拉曼光譜技術(shù)在材料科學(xué)研究中的應(yīng)用拉曼光譜在材料科學(xué)中是物質(zhì)結(jié)構(gòu)研究的有力工具,在相組成界面、晶界等課題中可以做很多工作。包括:薄膜結(jié)構(gòu)材料拉曼研究:拉曼光譜已成CVD(化學(xué)氣相沉積法)制備薄膜的檢測(cè)和鑒定手段。拉曼可以研究單、多、微和非晶硅結(jié)構(gòu)以及硼化非晶硅、氫化非晶硅、金剛石、類金剛石等層狀薄膜的結(jié)構(gòu)。超晶格材料研究:可通過測(cè)量超晶格中的應(yīng)變層的拉曼頻移計(jì)算出應(yīng)變層的應(yīng)力,根據(jù)拉曼峰的對(duì)稱性,知道晶格的完整性。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。本文將向您展示如何使用LabVIEWNXG的版本來解決以下四個(gè)組織挑戰(zhàn),并快速進(jìn)入到下一個(gè)工程設(shè)計(jì):減少測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)置和配置時(shí)間盡快開始下一次測(cè)量增加測(cè)試軟件之間的協(xié)作將正確的測(cè)試數(shù)據(jù)展示給正確的人通過減少系統(tǒng)設(shè)置和配置時(shí)間更智能地進(jìn)行測(cè)試您需要多少工程時(shí)間來搜索手冊(cè)、引腳、正確的硬件驅(qū)動(dòng)程序、正確的實(shí)用程序等?NI近對(duì)多個(gè)行業(yè)的400多名工程師進(jìn)行的調(diào)查顯示,測(cè)試工程師面臨的重要且常見的困難之一就是在需要連接和集成組件的環(huán)境中,短時(shí)間內(nèi)完成測(cè)量,這些組件通常包含來自不同供應(yīng)商的儀器。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 環(huán)境方面外部環(huán)境方面所引起的故障大多是因?yàn)閮x表受外界電磁波、電機(jī)磁場(chǎng)、雜散電流等干擾引發(fā)的。外界電磁波干擾主要是由信號(hào)電纜引入,通常采用單層或者多層進(jìn)行保護(hù)。電流干擾通常采取比較良好的單接地保護(hù)即可獲得滿意測(cè)量。流體方面流體內(nèi)的微小氣泡一般情況下影響不了正常的電磁流量計(jì)測(cè)量,只是測(cè)得的流體體積流量為流體和氣體之和。流體內(nèi)的微小氣泡增大會(huì)使流量計(jì)的輸出信號(hào)產(chǎn)生變化,如果流體內(nèi)的微小氣泡增大到覆蓋整個(gè)電極表面,將使電極信號(hào)回路瞬間斷開,使所測(cè)得的輸出信號(hào)產(chǎn)生比較大的變化。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量


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