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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)
冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

,任何一種光源的發(fā)光都與其物質(zhì)內(nèi)部粒子的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)有關(guān),當(dāng)處于低能級(jí)上的粒子(原子、分子或離子)吸收了適當(dāng)頻率外來(lái)能量(光)被激發(fā)而躍遷到相應(yīng)的高能級(jí)上(受激吸收)后,總是力圖躍遷到較低的能級(jí)去,同時(shí)將多余的能量以光子形式釋放出來(lái)。如果光是在沒(méi)有外來(lái)光子作用下自發(fā)地釋放出來(lái)的(自發(fā)輻射),此時(shí)被釋放的光即為普通的光(如電燈、霓虹燈等),其特點(diǎn)是光的頻率大小、方向和步調(diào)都很不一致。但如果是在外來(lái)光子直接作用下,由高能級(jí)向低能級(jí)躍遷時(shí)將多余的能量以光子形式釋放出來(lái)(受激輻射),被釋放的光子則與外來(lái)的入射光子在頻率、位相、傳播方向等方面完全一致,這就意味著外來(lái)光得到了加強(qiáng),我們把它稱之為“光放大”。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。激光測(cè)距儀有哪些牌子激光測(cè)距儀當(dāng)今熱門進(jìn)口有:徠卡、圖柏斯、歐尼卡、喜利得、紐康、博世、博士能、奧卡、鐳創(chuàng)……國(guó)產(chǎn)優(yōu)利德也有激光測(cè)距儀。多、測(cè)量距離、測(cè)量功能各不相同。如果選擇適合自己的激光測(cè)距儀確實(shí)如同大海撈針,今天給大家講講測(cè)距儀的分類和選擇。按激光波長(zhǎng)劃分徠卡、喜利得、博世這三個(gè)熱門對(duì)應(yīng)激光測(cè)距儀激光波長(zhǎng)都是635納米,這個(gè)波段代表的是可見(jiàn)激光,短距離測(cè)距儀,測(cè)量范圍-2米內(nèi)。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

ES21E智能型雙鉗相位伏安表,可同時(shí)測(cè)量電壓,電流,相位,功率,頻率等參數(shù)。且量程為全自動(dòng)換檔。外觀設(shè)計(jì)輕巧、方便。配有USB接口可上傳數(shù)據(jù)。此實(shí)例為測(cè)量電能表中的相位及功率?;鹁€與零線的相位角測(cè)量方法測(cè)量電表將被測(cè)電壓線L、N對(duì)應(yīng)接入儀表的U1紅、COM黑插孔電流鉗I1鉗住被測(cè)L線路,可以測(cè)試單相線路電壓、電流、相位、頻率、功率參數(shù)等,ES21E測(cè)量電壓,電流,相位,頻率等,無(wú)需換檔。正確插上即可讀數(shù)4.ES21E為二通道相位表。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。帶寬的不同對(duì)測(cè)試結(jié)果而言到底有什么樣的影響呢?下面我們看一個(gè)實(shí)際測(cè)試案例,在某LED測(cè)試現(xiàn)場(chǎng),用兩臺(tái)帶寬不同的功率計(jì)測(cè)試LED驅(qū)動(dòng)的輸入(市電工頻50Hz)電參數(shù),包括電壓、電流、功率、功率因數(shù)等,測(cè)試結(jié)果如下圖所示:從圖中可以看到,兩臺(tái)設(shè)備測(cè)試的電壓、有功功率基本一致,但是功率因素確相差很大。而功率因數(shù)的計(jì)算跟無(wú)功功率有非常密切的關(guān)系,因此可以判斷兩臺(tái)設(shè)備測(cè)試的無(wú)功功率肯定有相差。兩臺(tái)設(shè)備的標(biāo)稱的基本精度都一樣,但帶寬卻相差很大。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 推理機(jī)只負(fù)責(zé)診斷推理,測(cè)試則由測(cè)試系統(tǒng)完成。與傳統(tǒng)的診斷和測(cè)試融合在一起不同,診斷模塊(IEEE1232推理機(jī))在不同測(cè)試系統(tǒng)間是可互換的。在故障樹時(shí),依照IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)生成可交換的診斷信息文件,診斷知識(shí)將在不同測(cè)試系統(tǒng)間共享。通過(guò)嚴(yán)格按標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施推理機(jī)的通信接口,就可以實(shí)現(xiàn)診斷模塊的移植,達(dá)到測(cè)試與診斷的分離。參考IEEE1232標(biāo)準(zhǔn),TestCenter開發(fā)了故障診斷子系統(tǒng),如所示,TestCenter故障診斷由三部分組成:診斷模型制作器、診斷推理機(jī)和診斷程序。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)


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