HN2016智能sf6微水測試儀冷鏡式露點儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點測試儀 定制定做

露點	測量范圍	－80 ℃～+20 ℃
	測量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測量時間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

本文說明了一種通用的集成電路RF噪聲測量技術。RF抗干擾能力測試將電路板置于可控制的RF信號電平下，RF電平代表電路工作時可能受到的干擾強度。從而產(chǎn)生了一個標準化、結(jié)構化的測試方法，使用這種方法能夠得到在質(zhì)量中可重復的測試結(jié)果。這樣的測試結(jié)果有助于IC選型，從而獲得能夠抵抗RF噪聲的電路?？梢詫⒈粶y器件(DUT)靠近正在工作的蜂窩，以測試其RF敏感度。為了得到一個的、具有可重復性的測試結(jié)果，需要采用一種固定的測量方法，在可重復的RF場內(nèi)測試DUT。1、連接SF₆設備

將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好，用扳手擰緊，關閉測量管道上另一端的針型閥；

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關接頭與SF₆電氣設備測量接口連接好，用扳手擰緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低于約20％，請關機充電后繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥，然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開始測量SF₆露點。

設備測量時間需要5～10分鐘，其后每臺設備需要3～5分鐘。

4、存儲數(shù)據(jù)

設備測量完成后，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。作為21世紀具發(fā)展?jié)摿Φ募夹g之一,RFID技術的發(fā)展帶來了巨大的市場價值。RFID技術已廣泛的應用在了零售業(yè)、物流業(yè)、制造業(yè)等諸多領域。在領域，由于飛機制造商、零部件供應商和公司的通力合作，RFID技術已經(jīng)滲透到領域供應鏈系統(tǒng)的各個環(huán)節(jié)，但整體上，RFID技術在領域起步較晚,在我國領域的應用起步更晚。開展領域RFID技術研究具有重要意義。領域射頻識別技術應用布局RFID技術在領域的應用，按大類分，目前主要分為三個大的方向，包括制造、運營與維護、機場管理等。

5、測量其他設備

一臺設備測量后，關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF₆電氣設備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設備，按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺設備。

6、測量結(jié)束

所有設備測量結(jié)束后，關閉儀器電源。

一、 菜單操作

在測量狀態(tài)，通過確定鍵可以進入功能菜單，如圖1。

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進入保存數(shù)據(jù)頁面，保存數(shù)據(jù)時，可以根據(jù)設備進行編號。

設備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號后，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進入查看記錄頁面。

顯示時從后一個被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。尤其在使用高速數(shù)據(jù)網(wǎng)絡時，攔截大量信息所需要的時間顯著低于攔截低速數(shù)據(jù)傳輸所需要的時間。數(shù)據(jù)雙絞線中的絞合線對在低頻下可以靠自身的絞合來抵抗外來干擾及線對之間的串音，但在高頻情況下(尤其在頻率超過250MHz以上時)，僅靠線對絞合已無法達到抗干擾的目的，只有才能夠抵抗外界干擾。電纜層的作用就像一個法拉第護罩，干擾信號會進入到層里，但卻進入不到導體中。數(shù)據(jù)傳輸可以無故障運行。由于電纜比非電纜具有較低的輻射散發(fā)，因而防止了網(wǎng)絡傳輸被攔截。

3、刪除記錄

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時間

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進入修改時間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。

輸入小時、分鐘、秒后，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個修改域內(nèi)。

 如分子結(jié)構與組成、立體規(guī)整性、結(jié)晶與去向、分子相互作用，以及表面和界面的結(jié)構等。從拉曼峰的寬度可以表征高分子材料的立體化學純度。如無規(guī)立場試樣或頭-頭，頭-尾結(jié)構混雜的樣品，拉曼峰是弱而寬，而高度有序樣品具有強而尖銳的拉曼峰。研究內(nèi)容包括：化學結(jié)構和立構性判斷、組分定量、動力學過程研究、高分子取向研究聚合物共混物的相容性以及分子相互作用研究、復合材料應力松弛和應變過程的監(jiān)測、聚合反應過程和聚合物固化過程監(jiān)控。