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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 5年保修

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 5年保修
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 5年保修
冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 5年保修

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

智能化:隨著嵌入式微處理器、大規(guī)模集成電路及軟件的發(fā)展,自動(dòng)測(cè)量對(duì)象識(shí)別、自動(dòng)量程切換、智能數(shù)據(jù)處理與存儲(chǔ)、自動(dòng)網(wǎng)絡(luò)接入適應(yīng)、故障自珍、報(bào)警、記錄與保護(hù)、使用環(huán)境自適應(yīng)等正在成為標(biāo)配。4)全信息顯示:實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)技術(shù)與彩色液晶顯示器的發(fā)展,帶來(lái)了電磁測(cè)量?jī)x表顯示方式的,從過(guò)去的指針顯示、數(shù)字顯示、圖形化顯示正向“全信息顯示”發(fā)展,它可同時(shí)顯示所需要的多種信息。全信息顯示使現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量與技術(shù)有了飛躍式的發(fā)展。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 5年保修1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。日本在農(nóng)業(yè)方面,正面臨著如勞動(dòng)者老年化、后繼無(wú)人、TPP(跨太平洋戰(zhàn)略經(jīng)濟(jì)伙伴協(xié)定)導(dǎo)致的貿(mào)易自由化等諸多非常棘手的問(wèn)題。為了化解這些問(wèn)題,圍繞農(nóng)業(yè)化和自動(dòng)化的研究也開(kāi)展的如火如荼。由大學(xué)大學(xué)院工學(xué)系研究科的三宅亮教授、秋天縣立大學(xué)生物資源科學(xué)部的小川敦史教授、廣島大學(xué)納米材料與生物結(jié)合科學(xué)研究所的小出哲士準(zhǔn)教授等組成的研究團(tuán)隊(duì),在科學(xué)技術(shù)振興機(jī)構(gòu)戰(zhàn)略的基礎(chǔ)研究(JSTCREST)方面,以“針對(duì)建立在農(nóng)田用耐用儀器與農(nóng)作物循環(huán)系統(tǒng)流體回路模型基礎(chǔ)上的性狀改變推測(cè)技術(shù)的研究”為研究課題進(jìn)行了大量的科研工作。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 5年保修

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

電機(jī)測(cè)試臺(tái)架能夠模擬工況,在不同工況下測(cè)量的震動(dòng)狀態(tài)更加。震動(dòng)傳感器負(fù)責(zé)采集震動(dòng)數(shù)據(jù),上位機(jī)軟件負(fù)載處理數(shù)據(jù)且以報(bào)表、曲線的形式展現(xiàn)出來(lái)圖1測(cè)震測(cè)量系統(tǒng)框圖震動(dòng)傳感器的選擇震動(dòng)傳感器是將被測(cè)震體的震動(dòng)參數(shù)轉(zhuǎn)換成適當(dāng)?shù)碾妳?shù),目前廣泛采用的震動(dòng)傳感器是加速度型傳感器。按照震動(dòng)傳感器的原理有以下幾種:磁電式傳感器、壓電式傳感器、電阻式傳感器、電容式傳感器。按照傳輸方式又可分為;有線、無(wú)線,無(wú)線傳感有的優(yōu)勢(shì)是便于安裝、避免測(cè)量信號(hào)衰弱。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 5年保修

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。本文探討了目前LED分布光度計(jì)的發(fā)展?fàn)顩r,主要是對(duì)基于成像光度學(xué),采用CCD或是數(shù)碼相機(jī)作為分布光度測(cè)量手段的儀器進(jìn)行了和研究。此研究根據(jù)LED為半面發(fā)光的特點(diǎn),采用拋物面反射器的設(shè)置,對(duì)LED的發(fā)光進(jìn)行聚光反射,LED方向可通過(guò)步進(jìn)馬達(dá)進(jìn)行一定角度的轉(zhuǎn)換,從而得到不同角度位置的光斑,使用CCD或是數(shù)碼相機(jī)進(jìn)行測(cè)試。得到LED反射的發(fā)光光斑后,通過(guò)合適的圖像處理,可根據(jù)光斑得到LED的配光曲線。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 5年保修

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 此類紅外熱像儀不需要制冷,且成本比量子探測(cè)器紅外熱像儀低。制冷型量子探測(cè)器采用銻華銦(InS、銦鎵砷(InGaAs)或應(yīng)變超晶格制成。這類探測(cè)器為光電探測(cè)器,即光子撞擊像素點(diǎn),轉(zhuǎn)化為可存儲(chǔ)于積分電容器的電子。像素采用的電子快門,通過(guò)斷開(kāi)或短路積分電容器來(lái)控制快門。銻化銦(InSb)探測(cè)器熱像儀,比如FLIRX69sc,在測(cè)量-2?C至35?C之間的物體溫度時(shí),其典型的積分時(shí)間可能低至.48μs。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 5年保修


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