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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6微水測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6檢漏儀 定制定做

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6微水測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6檢漏儀 定制定做
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微水測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6檢漏儀 定制定做
sf6微水測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6檢漏儀 定制定做

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

先測(cè)試出可控硅的峰值電壓,將電線正負(fù)極連接至K兩極,接地線接至室內(nèi)主接地上,逐漸升壓,測(cè)試其漏電流數(shù)值。進(jìn)行漏電測(cè)試后,逐漸升壓,觀測(cè)漏電流,當(dāng)數(shù)值超過(guò)其額定峰值電壓后,可控硅被擊穿,但采用此方法可能會(huì)破壞其PN結(jié),并且只能測(cè)試其是否導(dǎo)通,而不能測(cè)試其導(dǎo)通是否良好,故不再采用此法進(jìn)行測(cè)試。搖表測(cè)試法用搖表對(duì)可控硅進(jìn)行測(cè)量,參照之前使用的漏電檢測(cè)法。為防止搖表法測(cè)試過(guò)程中擊穿或損壞可控硅,改變搖表操作方法,即要對(duì)搖表電壓和轉(zhuǎn)速進(jìn)行控制,兩筆端鏈接K極對(duì)其進(jìn)行測(cè)試。sf6微水測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6檢漏儀 定制定做1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。漏電檢測(cè)原理對(duì)電力系統(tǒng)回路進(jìn)行漏電檢測(cè)的方法有很多,如絕緣監(jiān)測(cè)裝置,低頻探測(cè)法,變頻探測(cè)法,霍爾磁式平衡等。本設(shè)計(jì)采用了霍爾磁式平衡原理,為克服傳感器的剩磁所帶來(lái)的對(duì)系統(tǒng)檢測(cè)到的漏電大小的影響,采取了將零點(diǎn)設(shè)計(jì)為可以通過(guò)按鍵調(diào)整的系統(tǒng)?;魻柎攀狡胶鈾z測(cè)的基本原理如所示。觀察直流系統(tǒng)任一支路,從電源正端流出的電流IL+,流經(jīng)支路負(fù)載后,返回電源負(fù)端的支路電流為IL-,當(dāng)該支路沒(méi)有接地電流時(shí),IL+=IL-,穿過(guò)傳感器的電流大小相等,傳感器無(wú)輸出。sf6微水測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6檢漏儀 定制定做

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

漏電檢測(cè)原理對(duì)電力系統(tǒng)回路進(jìn)行漏電檢測(cè)的方法有很多,如絕緣監(jiān)測(cè)裝置,低頻探測(cè)法,變頻探測(cè)法,霍爾磁式平衡等。本設(shè)計(jì)采用了霍爾磁式平衡原理,為克服傳感器的剩磁所帶來(lái)的對(duì)系統(tǒng)檢測(cè)到的漏電大小的影響,采取了將零點(diǎn)設(shè)計(jì)為可以通過(guò)按鍵調(diào)整的系統(tǒng)。霍爾磁式平衡檢測(cè)的基本原理如所示。觀察直流系統(tǒng)任一支路,從電源正端流出的電流IL+,流經(jīng)支路負(fù)載后,返回電源負(fù)端的支路電流為IL-,當(dāng)該支路沒(méi)有接地電流時(shí),IL+=IL-,穿過(guò)傳感器的電流大小相等,傳感器無(wú)輸出。sf6微水測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6檢漏儀 定制定做

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。電源開(kāi)機(jī)時(shí)間的測(cè)試開(kāi)機(jī)時(shí)間(TurnOnTim:輸入電壓開(kāi)始供電給電源時(shí)到電源輸出的電壓達(dá)到要求電壓值Va時(shí)的時(shí)間,如上圖所示。測(cè)試方法:?jiǎn)?dòng)測(cè)試:選擇啟動(dòng)測(cè)試觸發(fā)源為外部觸發(fā),可選用我司IT65C/D系列直流電源或IT76系列交流電源作為待測(cè)電源的DC/AC輸入,并通過(guò)模擬量接口提供同步信號(hào)給負(fù)載,當(dāng)負(fù)載接收到TRI信號(hào)時(shí),開(kāi)始測(cè)試;結(jié)束測(cè)試:選擇結(jié)束測(cè)試觸發(fā)源為電平觸發(fā)方式,觸發(fā)電平設(shè)定為Va,當(dāng)待測(cè)電源輸出電壓達(dá)到Va時(shí),停止測(cè)試;負(fù)載計(jì)算出兩個(gè)觸發(fā)信號(hào)之間的時(shí)間差,即為待測(cè)電源的開(kāi)機(jī)時(shí)間。sf6微水測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6檢漏儀 定制定做

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 ,如果誤差周期是20mm,查閱機(jī)床手冊(cè)我們發(fā)現(xiàn)絲杠的導(dǎo)距也是20mm,很顯然誤差可能與絲杠旋轉(zhuǎn)問(wèn)題有關(guān),絲杠可能在近的一次維修或機(jī)床移動(dòng)時(shí)被弄彎了,或者絲杠偏心旋轉(zhuǎn)。偏移偏移是指去程和回程兩次測(cè)試之間具有不變的垂直偏移。產(chǎn)生偏移曲線的可能原因主要是機(jī)床方面的問(wèn)題,如反向間隙未補(bǔ)償或不當(dāng)補(bǔ)償、車架與導(dǎo)軌之間存在間隙(松動(dòng))等。針對(duì)以上問(wèn)題可采取以下解決措施:絲杠/滾珠絲桿驅(qū)動(dòng)裝置;檢查球狀螺母或絲杠是否磨損;檢查絲杠軸承的端部浮動(dòng)情況;使用角度光學(xué)鏡組檢查軸線反轉(zhuǎn)時(shí)的車架角度間隙;檢查控制器內(nèi)設(shè)置的反向間隙補(bǔ)償是否正確;機(jī)架和小齒驅(qū)動(dòng)裝置;檢查牙是否正確嚙合;檢查齒輪箱是否磨損和線性編碼器系統(tǒng)的狀況。sf6微水測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6檢漏儀 定制定做


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