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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6抽真空充放裝置 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6抽真空充放裝置 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6抽真空充放裝置 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量
冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6抽真空充放裝置 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

NCP175應(yīng)用電路圖率準(zhǔn)諧振(QR)和高功率因數(shù)單級(jí)PFC反激電源也得到了快速發(fā)展,可能很快成為AC-DC電源主流,代表IC如安森美(ON)推出的NCP138和NCP1247。在運(yùn)算放大器、傳感器、MCU和基準(zhǔn)源等應(yīng)用中,它們對(duì)電源的紋波噪聲和電壓精度要求比較高,那么Power1還需要經(jīng)過(guò)線性電源轉(zhuǎn)換到Power4線路中,才能給其系統(tǒng)供電。傳統(tǒng)的線性電源一般采用NPN機(jī)構(gòu)作為功率管,或者用達(dá)林頓結(jié)構(gòu)功率管,如所示,LM785和LM317等,都是這種結(jié)構(gòu)。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6抽真空充放裝置 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。直流電機(jī)主要有直流有刷電機(jī)和無(wú)刷直流電機(jī)兩種。有刷直流電機(jī)直流電機(jī)以良好的啟動(dòng)性能、調(diào)速性能等優(yōu)點(diǎn)著稱,其中屬于直流電機(jī)一類的有刷直流電機(jī)采用機(jī)械換向器,使得驅(qū)動(dòng)方法簡(jiǎn)單。電機(jī)主要由永磁材料制造的定子、繞有線圈繞組的轉(zhuǎn)子(電樞)、換向器和電刷等構(gòu)成。只要在電刷的A和B兩端通入一定的直流電流,電機(jī)的換向器就會(huì)自動(dòng)改變電機(jī)轉(zhuǎn)子的磁場(chǎng)方向,這樣,直流電機(jī)的轉(zhuǎn)子就會(huì)持續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)下去。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6抽真空充放裝置 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1

分別調(diào)整重復(fù)次數(shù),使總線負(fù)載率為10%、30%、50%、70%、90%。使用ID篩選的方式,對(duì)應(yīng)觀察被測(cè)DUT的應(yīng)用數(shù)據(jù)是否間隔時(shí)間是否正常。為篩選出被測(cè)DUT發(fā)出的181H的ID,通過(guò)增量時(shí)間的方式觀察是否有異常。依據(jù)GMW14241,測(cè)試結(jié)果為DUT在10%、30%、50%、70%、90%負(fù)載下均可以正常工作,并且不會(huì)因?yàn)樨?fù)載過(guò)高而死機(jī),則通過(guò)測(cè)試。其實(shí)通過(guò)負(fù)載率測(cè)試的過(guò)程我們不難發(fā)現(xiàn),如果測(cè)試CAN一致性測(cè)試的項(xiàng)目都需要手動(dòng)測(cè)試完成會(huì)非常耗費(fèi)精力。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6抽真空充放裝置 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。TestCenter具有完全自主的知識(shí)產(chǎn)權(quán)。2012年,TestCenter入選國(guó)防科技工業(yè)百項(xiàng)先進(jìn)工業(yè)技術(shù)研究推廣應(yīng)用工程。如所示,為Testercenter的界面,TestCenter可以在多個(gè)測(cè)試領(lǐng)域中被應(yīng)用,包括消費(fèi)類電子產(chǎn)品及裝備的電路板級(jí)、模塊級(jí)、系統(tǒng)級(jí)的功能測(cè)試與故障診斷。Testcenter界面IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介故障診斷在裝備綜合保障中應(yīng)用廣泛,為了規(guī)范測(cè)試診斷過(guò)程和實(shí)現(xiàn)診斷知識(shí)的共享,IEEE制訂了人工智能應(yīng)用于系統(tǒng)測(cè)試與診斷領(lǐng)域的通用標(biāo)準(zhǔn)即IEEE1232標(biāo)準(zhǔn),也稱作AI-ESTATE標(biāo)準(zhǔn)。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6抽真空充放裝置 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 本文用一個(gè)具體的例子比較在電壓軌上完成電流檢測(cè)的幾種不同方法。種方法是使用帶分立電阻器的單運(yùn)放差分放大器;種方法是用V+而不是地作為參考軌;種方法在IC解決方案中很常見(jiàn),在這種方案中,晶體管和運(yùn)算放大器一起工作,以接地參考電流測(cè)量。針對(duì)在電壓軌上實(shí)現(xiàn)電流檢測(cè)的不同方法,絕大多數(shù)直流電流檢測(cè)電路的核心設(shè)計(jì)思路,是從供電線路中的電阻下手(盡管磁場(chǎng)感應(yīng)是個(gè)好選擇,尤其是在電流較高的情況下)。人們只需簡(jiǎn)單地測(cè)量電阻兩端的電壓降,并根據(jù)需要調(diào)節(jié)阻值來(lái)讀取電流(E=I×R,如果不包含這個(gè),有人會(huì)抱怨)。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6抽真空充放裝置 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量


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