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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6微水測(cè)試儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體定量檢漏儀 高質(zhì)量

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6微水測(cè)試儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體定量檢漏儀 高質(zhì)量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微水測(cè)試儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體定量檢漏儀 高質(zhì)量
sf6微水測(cè)試儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體定量檢漏儀 高質(zhì)量

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

在玻璃尺或玻璃盤上類似于刻線標(biāo)尺或度盤那樣,進(jìn)行長(zhǎng)刻線(一般為1?12mm)的密集刻劃,得到如下圖所示的黑白相間間隔細(xì)小的條紋,沒(méi)有刻劃的白的地方透光,刻劃的發(fā)黑處不透光,這就是光柵。柵線放大圖實(shí)際上,光柵很早就被人們發(fā)現(xiàn)了,但應(yīng)用于技術(shù)領(lǐng)域只有一百多年的歷史。早期,人們利用光柵的衍射效應(yīng)進(jìn)行光譜和光波波長(zhǎng)的測(cè)定。到了2世紀(jì)5年代,人們開(kāi)始利用光柵的莫爾條紋現(xiàn)象進(jìn)行精密測(cè)量,從而出現(xiàn)了光柵式傳感器。sf6微水測(cè)試儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體定量檢漏儀 高質(zhì)量1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。且在新形勢(shì)社會(huì)下,已不再完全是大魚(yú)吃小魚(yú),更多是快魚(yú)吃慢魚(yú)的形態(tài)了,如果你發(fā)現(xiàn)一個(gè)新市場(chǎng)不去快速搶占,則很快被對(duì)手搶占先機(jī)讓你變得非常被動(dòng),甚至無(wú)法滲入直接放棄;如果你發(fā)現(xiàn)一個(gè)新電路而不去申請(qǐng)保護(hù),很快你就要面臨重新設(shè)計(jì)方案或花費(fèi)高額使用權(quán)而煩惱。電路的設(shè)計(jì)電源模塊的電路方案已越趨于成熟,針對(duì)不同的電源模塊性能需求,所選的電路方案也已基本固定成型,要使產(chǎn)品,就必須得在設(shè)計(jì)電路上要舍得投入研究突破,如無(wú)損電路、軟開(kāi)關(guān)、新式電路等,像有一種新式變換器“開(kāi)關(guān)電容變換器”,省去了磁芯變壓器,產(chǎn)品的體積就可以設(shè)計(jì)得非常小。sf6微水測(cè)試儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體定量檢漏儀 高質(zhì)量

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

功率器件熱阻分布示意圖舉個(gè)例子來(lái)說(shuō),大家常用的S8050在25℃(Tc)的耗散功率是0.625W,額定電流為0.5A,結(jié)點(diǎn)溫度為150℃,此代入公式有:從上面公式可以推算出Rja為200℃/W(Rja表示結(jié)點(diǎn)到空氣的熱阻)。假設(shè)芯片殼溫(Tc)為55℃,熱耗散功率有0.5W時(shí),此刻芯片結(jié)點(diǎn)溫度為:Tj=Tc+PD*Rjc代入得到155℃,已經(jīng)超過(guò)了結(jié)溫150℃了。故需要降額使用,然而降額曲線在數(shù)據(jù)手冊(cè)中并未標(biāo)注,所以小編只能自行計(jì)算。sf6微水測(cè)試儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體定量檢漏儀 高質(zhì)量

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。在應(yīng)答場(chǎng)里,發(fā)送站發(fā)送兩個(gè)“隱性”位。當(dāng)接收器正確地接收到有效的報(bào)文,接收器就會(huì)在應(yīng)答間隙(ACKSLOT)期間(發(fā)送ACK信號(hào))向發(fā)送器發(fā)送一“顯性”的位以示應(yīng)答。發(fā)送節(jié)點(diǎn)檢測(cè)到總線呈顯式狀態(tài)時(shí),就認(rèn)為有節(jié)點(diǎn)進(jìn)行了有效的應(yīng)答并且自己所發(fā)出的幀是正常的。CAN總線位時(shí)間組成CAN網(wǎng)絡(luò)通信位定時(shí)參數(shù)如所示。位定時(shí)示意圖CAN總線通信中每一位的時(shí)間由4部分組成,即同步段、傳播段、相位緩沖段相位緩沖段2,劃分為3段。sf6微水測(cè)試儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體定量檢漏儀 高質(zhì)量

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 20世紀(jì)80年始,非制冷紅外焦平面陣列探測(cè)器在美國(guó)支持下發(fā)展起來(lái)的,在1992年研發(fā)完成后才對(duì)布。初期技術(shù)路線包括德州儀器研制的BST熱釋電探測(cè)器和霍尼韋爾研制的氧化釩(VOx)微測(cè)輻射熱計(jì)探測(cè)器。后來(lái)由于熱釋電技術(shù)本身的一些局限性,微測(cè)輻射熱計(jì)探測(cè)器逐漸勝出。2009年,L-3公司終宣布停止繼續(xù)生產(chǎn)熱釋電探測(cè)器。之后,法國(guó)的CEA/LETI以及德州儀器公司又分別研制了非晶硅(a-Si)微測(cè)輻射熱計(jì)探測(cè)器。sf6微水測(cè)試儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體定量檢漏儀 高質(zhì)量


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