HNZDL系列可編程直流恒流大電流電源 儀表檢定裝置 30年經(jīng)驗 交流變送器校驗裝置 三相標準功率源

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059
輸入電壓：AC380V±10℅,50Hz
輸出電壓：0-6000V可調輸出 或 固定輸出 根據(jù)客戶要求
輸出電流：0-100KA可調輸出 

半導體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關知識經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

高壓大功率穩(wěn)壓電源具有高穩(wěn)定性和可靠性、控制靈活方便、可實現(xiàn)計算機遠程控制、率、低功耗、相對尺寸小、抗打火，耐沖擊等特點。

此電源已應用在工業(yè)等領域，如試驗、氣體放電、給電容充電、磁控管、供電及靜電紡絲生產(chǎn)設備上，也可應用于元器件的測試老煉及其他一切需要使用高壓的場合。

我們可根據(jù)客戶的要求定制高電壓的大功率電源，電壓可連續(xù)可調，有短路、過壓、過流保護，可長期滿載連續(xù)穩(wěn)定的工作。

各類電器、電子設備在城鄉(xiāng)和到迅速普及，給生產(chǎn)帶來方便。但各類電器、電子設備的廣泛使用，由此帶來的人身事故也大為增加。給生命財產(chǎn)帶來危害，觸電傷亡和電氣火災是常見例子。電器、電子設備的使用**性這一重要問題，成為決定產(chǎn)品質量的各要素中躍居要地位，**標準成為重要的技術標準之一。電氣**性能測試主要有耐電壓測試，絕緣電阻測試，泄露電流測試和接地電阻測試。下面簡要介紹這幾種測試。耐壓測試耐壓測試是檢驗電器、電氣設備、電氣裝置、電氣線路和電工**用具等承受過電壓能力的主要方法之一。

進口可控硅作為功率器件，原裝富士模塊作為調壓穩(wěn)壓器件。與市場上普通的繼電器調壓式和調壓變壓器調壓式直流電源相比，具有精度高，紋波小，穩(wěn)定性極高的特點。電壓電流值從零至額定值連續(xù)可調，恒壓恒流自動轉換在確定范圍內任意選擇且限制保護點。電壓、電流同時LED數(shù)碼管顯示。廣泛應用于各大專院校實驗室，自動測試設備，電子檢驗設備，生產(chǎn)線的電阻器、繼電器，馬達等電子元件老練，例行試驗，電解電容器老練，鉭電容器賦能。通訊設備。自動老化設備等一切需要直流電源的場合