安規(guī)測試儀檢定裝置有以下幾種 接地電阻測試儀校驗儀 模擬交直流標(biāo)準(zhǔn)電阻器 HN系列 絕緣電阻測試儀校驗儀 5年保修

HN8061A

依據(jù)JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規(guī)程》,用于檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10T相較于手持式體溫檢測設(shè)備，它更方便，也更**。但劉建國解釋，國內(nèi)已有紅外無感測試產(chǎn)品目前存在兩大技術(shù)痛點，其一是復(fù)雜環(huán)境適應(yīng)性較差，存在篩查測量不準(zhǔn)確問題，其二是在人員走動戴口罩條件下，人臉識別難度大。此次，研究團(tuán)隊利用在光電集成光電子工程方面積累的經(jīng)驗，提出了自標(biāo)校算法，突破了室外復(fù)雜環(huán)境下溫度監(jiān)測不準(zhǔn)確的難題，使溫度篩查不再局限于溫度測量，大幅度提升了在人群中對發(fā)熱個體篩查的概率。

HN8062A接地電阻表校驗裝置

用于檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規(guī)程》所適用的我目前生產(chǎn)的型號的模擬式、數(shù)字式接地電阻表以及進(jìn)口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調(diào)節(jié)范圍寬，使用方便，造型美觀等優(yōu)點。消防領(lǐng)域為什么要用紅外熱像儀紅外熱像儀以溫度場紅外成像測溫為基礎(chǔ)，是目前預(yù)知性維護(hù)的高技術(shù)領(lǐng)域，也是消防災(zāi)害的有效、高速手段。是各行各業(yè)在應(yīng)對危險品火災(zāi)、燃爆的重要手段。消防用的紅外熱像儀，它的主要作用是幫助我們的消防員，在濃煙或者漆黑的環(huán)境下，能夠看清火場中的環(huán)境，對火勢做出迅速的判斷，營救遇險人員。在火場中由于有濃煙的存在，我們用人眼是看不到很多東西的。濃煙可以說比霧霾更濃重幾十倍、幾百倍。

HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置

1、測量準(zhǔn)度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準(zhǔn)度：1級  0.5級  0.2級很少有研究調(diào)查車載網(wǎng)絡(luò)中可能存在的威脅和對策。Liu等人、McCune等人和Kelberger等人，，提出了車載（控制器局域網(wǎng)（CAN），本地互連網(wǎng)絡(luò)（LIN），F(xiàn)lexRay等）的威脅和可能的對策，網(wǎng)絡(luò)**問題（基于VANET的問題不是考慮）。我們目前的調(diào)查是次在網(wǎng)聯(lián)車輛的背景下審查異常檢測技術(shù)。III.調(diào)查方法為了確?？芍貜?fù)性，我們的調(diào)查遵循Wholin的滾雪球方法如下。范圍定義：繼Chandola等人之后。

HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置

一、性能特點

1、源、表測量范圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計：10-100Hz可由檢測到的脈沖數(shù)，計算出流速。使脈沖數(shù)與葉輪轉(zhuǎn)速再與流速建立關(guān)系。利用標(biāo)定曲線V=kn+c計算流速V。其中：k為變換系數(shù)：c為預(yù)置值，n為葉輪轉(zhuǎn)速?？蓪⑷~輪的轉(zhuǎn)速直接換算成流速。光電風(fēng)速傳感器所示，風(fēng)帶動風(fēng)速計旋轉(zhuǎn)，經(jīng)齒輪傳動后帶動凸輪成比例旋轉(zhuǎn)。光纖被徒輪輪番遮斷形成一串光脈沖，經(jīng)光電管轉(zhuǎn)換成定信號，經(jīng)計算可檢測出風(fēng)速。非接觸式旋轉(zhuǎn)速度傳感器壽命長，無需增加補(bǔ)償電路。但脈沖當(dāng)量不是距離（mm）整數(shù)倍，因此速度運算相對比較復(fù)雜。

HN8066A型接地導(dǎo)通電阻測試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續(xù)帶電可調(diào)。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。AMRC擔(dān)負(fù)著研究航天和其他高附加值生產(chǎn)部門的先進(jìn)制造和材料研究，通過與波音公司合作，在工業(yè)界和學(xué)術(shù)界之間的強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)合，現(xiàn)已成為研究中心的運營模式。AMRC中的內(nèi)部部門是先進(jìn)結(jié)構(gòu)試驗中心（AdvancedStructuralTestingCentre簡稱ASTC），是一家擁有高能力和性能并致力于填補(bǔ)總工程過程中的漏洞的測試和認(rèn)證中心。由于許多AMRC研制的技術(shù)和產(chǎn)品都會用于關(guān)鍵安件，所以對于產(chǎn)品的認(rèn)證和評價，是對新制造方法和技術(shù)的關(guān)鍵參考。

HN8068A型回路電阻測試儀，直流電阻測試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調(diào)。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。

接地電阻測試儀校驗儀 模擬交直流標(biāo)準(zhǔn)電阻器 HN系列 絕緣電阻測試儀校驗儀 5年保修半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機(jī)臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。