HNWDL-8000溫升三相大電流發(fā)生器 青島華能專業(yè)定製 熔斷器測試儀 廠家直供

又稱：大電流溫升試驗設備，大電流溫升試驗係統(tǒng)，大電流溫升試驗裝置

功能簡介：

     HNWDL-10000溫升三相大電流發(fā)生器主要用於母線槽，開關，開關櫃和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。

功能特點：

1）內置高配置工控機，采用可編程控製器西門子S730PLC作為中心處理器，對交流信號進行實時掃描,實現(xiàn)監(jiān)測和閉環(huán)控製，並設計設置管理，隻有獲得相應操作權限的人員，才能進行某些功能的操作?！奔t外熱像儀可以通過蝙蝠的熱特征來實現(xiàn)蝙蝠的監(jiān)測。蝙蝠是夜行動物，通常在黃昏時離開白天的棲息地，這是在行動中捕捉蝙蝠的理想時刻。由於紅外熱像儀探測的是熱量，而不是光線，因此研究人員可以在夜間研究蝙蝠，而夜間正是蝙蝠活躍的時段。由於其視覺特性，熱成像技術還可與智能軟件相結合，智能軟件能夠計數和識彆蝙蝠並執(zhí)行智能運動跟蹤。PPUR研究小組成員在洞穴前的瀉湖裡，黃昏前時刻，這時是紅外熱像儀捕捉離開洞穴的蝙蝠的理想時刻。

2）進口PC機15英寸真彩大液晶觸摸工業(yè)平板電腦操作，采用支持現(xiàn)場總線技術的智能型傳感器，實現(xiàn)數據傳送的全數字化，顯示操作單元選用了觸摸式彩色液晶顯示屏，全中文菜單，界麵清晰直觀，操作簡單方便。測試無需外接任何輔助設備，全自動控製，式操作，快捷、簡單、方便

3）本儀器測試方法有全自動測試與手動測試兩種方法，隻需設置簡單的試驗電流與時間即可。帶有自動穩(wěn)流係統(tǒng)，配有4個USB口，輕鬆U盤、打印機等多種設備。並以通過鼠標接口直接操作。提供RS232和RS485兩種通訊接口選擇，可與後臺計算機連接，通過RS232接口可以直接與電腦PC機通訊，可以打印曲線，提供電腦通訊軟件；實現(xiàn)數據和溫度曲線打?。辉诰軠y試測量行業(yè)，測量準確度(精度)是儀器本身的靈魂，是儀器重要的指標之一，但不同的儀器其準確度有不同的表達方式，因此隻有理解了儀器的精度指標後才能更好地指導我們進行測量。在測試測量過程中，受測量儀器硬件本身、測量條件或測量方法的影響，測量得到的結果(測量值)與真實值之間有一定的差異，這個差異就是測量誤差，測量誤差可能包含與測量值成比例的誤差，也可能包含與測量值無關的固定誤差。

4）隻需設置好目標電流即可，無需人工監(jiān)控，僅需設定測試、電流和步長，省去手動調壓、人工記錄、描繪曲線等煩瑣勞動，減小勞動強度，提高工作效率也可工作結束後把數據讀到電腦上查看即可。

5）有超過限定值自動報功能具有可靠的過熱、過流、過壓及短路自我保護功能。交流調壓裝置保護應采用微機自動保護控製和機械微動限位開關雙重保護，確保恒流電源正常工作，提高產品的**性、可靠性。

傳感器可以被用來測量物理量。根據測量的物理量不同，傳感器可以分成溫度傳感器、流量傳感器、壓力傳感器等很多種類。但是所有傳感器工作原理都是基於物理定律，如果出現(xiàn)了新的現(xiàn)象或在特定物質中，在某方麵出現(xiàn)了奇異的效應，就可以利用這些現(xiàn)象和效應來研製傳感器。經常被用來製作傳感器的物理現(xiàn)象和效應有霍爾效應、多普勒效應、壓阻效應、應變效應等。但是並不是所有研製出來的傳感器都能夠使用，因為傳感器要滿足可靠性的要求，為了從傳感器的輸出信號中得到被測量的原始信息，如果傳感器不穩(wěn)定，那麼對同樣的輸入信號，其輸出信號就不一樣，則傳感器會給出錯誤的輸出信號，使傳感器的作用失靈。

主要技術指標：電流值由客戶根據需要確定

型號		HNWDL-8000A
大輸出電流		交流單相8000A  3組
電路方式		電動柱式調壓器
交流輸入	相線	3Φ4W +G
	電壓	380V±10%，50Hz±2%三相四線
	輸入電流	834A
輸出	相線	1Φ2W +G
	開路電壓	0-20V自動轉換
	電流	AC  0-8000A連續(xù)可調   準度：0.5
	穩(wěn)流準度	輸出電流≤±0.2%
	輸出端子	接線端子
	保護	電子電路快速偵測過電壓、過電流、過高溫自動跳脫保護及告裝置 非測試狀態(tài)電壓為零，電流為零

青島華能專業(yè)定製 熔斷器測試儀 廠家直供半導體生產流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關知識經常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控製測試位置和內容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。