HN1015A蓄電池充放電，活化測(cè)試儀 單體蓄電池放電測(cè)試儀 HN1016B 直流接地故障查找儀試驗(yàn)方法

本儀器是針對(duì)整組蓄電池係列測(cè)試，不同規(guī)格型號(hào)對(duì)整組要求不同，具體根據(jù)儀表為準(zhǔn)。單體電池電壓為2V\12V（根據(jù)具體指標(biāo)定）的鉛酸蓄電池組進(jìn)行測(cè)試的儀器。

測(cè)試步驟介紹半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓製造，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝後測(cè)試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過(guò)電性參數(shù)來(lái)監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠(chǎng)出貨到封測(cè)廠(chǎng)的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控製測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey後，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。

1.4.1在線(xiàn)監(jiān)測(cè)測(cè)試：

步：連接單體電壓采集器。（詳見(jiàn)章節(jié)2.4）

步：把整組電壓測(cè)試線(xiàn)連接到電池組兩端。（詳見(jiàn)章節(jié)2.5）

步：插入電源，主機(jī)開(kāi)機(jī)。

第四步：進(jìn)入在線(xiàn)監(jiān)測(cè)參數(shù)設(shè)置。(詳見(jiàn)章節(jié)3.1）

第五步：“確定”開(kāi)始測(cè)試。

1.4.2 放電測(cè)試：同時(shí)，還需要解決相關(guān)的測(cè)試效率選優(yōu)算法和評(píng)價(jià)體係等問(wèn)題。係統(tǒng)建模問(wèn)題並行測(cè)試係統(tǒng)具有複雜的網(wǎng)狀特征，係統(tǒng)建模除了要描述包含哪些UUT、哪些測(cè)試任務(wù)、測(cè)試任務(wù)和儀器之間的耦合關(guān)係等之外，更重要的是要描述清楚並行測(cè)試任務(wù)之間的控製相關(guān)性和時(shí)序相關(guān)性。信號(hào)鏈路動(dòng)態(tài)建立問(wèn)題再好的車(chē)也得跑在平坦舒適的路上方能彰顯其性能的和不凡。並行測(cè)試不但要提供“路”，而且需要提供“多車(chē)道路”，更需要根據(jù)車(chē)型提供“個(gè)性化道路”。

步：連接單體電壓采集器（詳見(jiàn)章節(jié)2.4）。純負(fù)載不具此功能

步：放電開(kāi)關(guān)，撥到分的位置(防止放電電纜反接，損壞儀器；反接告警提示)。

步：把放電線(xiàn)一端連到主機(jī)，另一端連到電池組兩端。（注意紅正黑負(fù)）。接反會(huì)告警提示。（詳見(jiàn)章節(jié)2.5）

第四步：把整組電壓測(cè)試線(xiàn)連接到電池組2端。

第五步：插入電源(電池組供電不用接AC220V電源，直接將放電開(kāi)關(guān)撥到合的位置)，主機(jī)開(kāi)機(jī)。

第六步：進(jìn)入放電參數(shù)設(shè)置。(詳見(jiàn)章節(jié)3.2）

第七步：將放電開(kāi)關(guān)撥到合的位置（電池組供電省略此步驟）。

第八步：“確定”開(kāi)始測(cè)試。

1.4.3容量快測(cè)（選配功能）因?yàn)槭褂昧艘缘碗娮?、高速開(kāi)關(guān)為特點(diǎn)的SiC和GaN等新型功率元件的PWM變頻器和AC/DC轉(zhuǎn)換器、DC/DC轉(zhuǎn)換器，其應(yīng)用係統(tǒng)的普及正在不斷加速。構(gòu)成這些係統(tǒng)的變頻器轉(zhuǎn)換器馬達(dá)等裝置的開(kāi)發(fā)與測(cè)試則需要相較以前有著更高精度、更寬頻帶、更高穩(wěn)定性的能夠迅速測(cè)量損耗和效率的測(cè)量係統(tǒng)。各裝置的損耗和效率與裝置的輸入功率和輸出功率同時(shí)測(cè)量，利用它們的差和比計(jì)算。功率通過(guò)電壓和電流測(cè)量，機(jī)械輸出通過(guò)扭矩和轉(zhuǎn)速測(cè)量並計(jì)算。

步：連接單體電壓采集器（詳見(jiàn)章節(jié)2.4）。

步：放電開(kāi)關(guān)，撥到分的位置(防止放電電纜反接，損壞儀器；反接告警提示)。

步：把放電線(xiàn)一端連到主機(jī)，另一端連到電池組兩端。（注意紅正黑負(fù)）。接反會(huì)告警提示。（詳見(jiàn)章節(jié)2.5）

第四步：把整組電壓測(cè)試線(xiàn)連接到電池組2端。

第五步：插入電源，主機(jī)開(kāi)機(jī)。

第六步：進(jìn)入容量快測(cè)參數(shù)設(shè)置。(詳見(jiàn)章節(jié)3.3）

第七步：將放電開(kāi)關(guān)撥到合的位置。

第八步：“確定”開(kāi)始測(cè)試。精度誤差可以稱(chēng)為靈敏度錯(cuò)誤。分辨率就是測(cè)得值的表示或顯示精細(xì)度。即使係統(tǒng)的分辨率為12位，也並不意味著它能測(cè)量精度為12位的值。，假設(shè)一塊萬(wàn)用表可以用6位數(shù)來(lái)表示測(cè)量值。則該萬(wàn)用表的分辨率為6位，如果後一位或兩位數(shù)似乎在測(cè)量值之間擺動(dòng)，則分辨率會(huì)受到影響，測(cè)量精度同樣會(huì)受到影響。係統(tǒng)或信號(hào)鏈裡的誤差會(huì)一直累積，使原始測(cè)量值失真。了解係統(tǒng)的動(dòng)態(tài)範(fàn)圍也很關(guān)鍵，以便衡量要設(shè)計(jì)的信號(hào)鏈的精度和分辨率。單體蓄電池放電測(cè)試儀 HN1016B 直流接地故障查找儀試驗(yàn)方法