HN300電纜故障測(cè)試儀 高架電纜故障測(cè)試儀 HN300係列 高壓電橋故障測(cè)試儀（儀）5年保修

 用於35kV及以下不同等級(jí)、不同截麵、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類(lèi)故障，包括：開(kāi)路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測(cè)試的低壓脈衝法、衝擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法。 全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。環(huán)境試驗(yàn)一般隻對(duì)小部分產(chǎn)品進(jìn)行，常見(jiàn)的環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容和方法如下：溫度試驗(yàn)用以檢查溫度環(huán)境對(duì)儀器儀表的影響，確定儀器儀表在高溫和低溫條件下工作和儲(chǔ)存的適應(yīng)性，它包括高溫和低溫負(fù)荷試驗(yàn)、高溫和低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)。高溫試驗(yàn)用以檢查高溫環(huán)境對(duì)儀器儀表的影響，確定儀器儀表在高溫條件下工作和儲(chǔ)存的適應(yīng)性。它包括高溫負(fù)荷試驗(yàn)和高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)。低溫試驗(yàn)用以檢查低溫環(huán)境對(duì)儀器儀表的影響，確定儀器儀表在高溫條件下工作和儲(chǔ)存的適應(yīng)性。

技術(shù)參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈衝法、衝擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈衝寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設(shè)置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類(lèi)型自設(shè)定

5. 衝擊高壓：35kV及以下

6. 測(cè)試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測(cè)試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏

機(jī)器設(shè)備的不平衡、缺陷、緊固件鬆動(dòng)和其它異常現(xiàn)象往往會(huì)轉(zhuǎn)化為振動(dòng)，導(dǎo)致精度下降，並且引發(fā)**問(wèn)題。如果置之不理，除了性能和**問(wèn)題外，若導(dǎo)致設(shè)備停機(jī)修理，也必然會(huì)帶來(lái)生產(chǎn)率損失。即使設(shè)備性能發(fā)生微小的改變，這通常很難及時(shí)，也會(huì)迅速轉(zhuǎn)化為重大的生產(chǎn)率損失。工廠環(huán)境下的過(guò)程控製與維護(hù)自動(dòng)化;無(wú)線(xiàn)檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)的高價(jià)值目標(biāo)，過(guò)程監(jiān)控和基於狀態(tài)的預(yù)見(jiàn)性維護(hù)是一種行之有效的避免生產(chǎn)率損失的方法，但這種方法的複雜性與其價(jià)值不相上下。

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時(shí)域反射（TDR）原理，即對(duì)電纜發(fā)射一電脈衝，電脈衝將在電纜中勻速傳輸，當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點(diǎn)），電脈衝將產(chǎn)生反射。測(cè)距主機(jī)將電脈衝的發(fā)射和反射的變化以時(shí)域形式通過(guò)液晶屏顯示出來(lái)，通過(guò)屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開(kāi)關(guān)按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開(kāi)電源。開(kāi)機(jī)2分鐘無(wú)任何操作時(shí)，屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。在現(xiàn)況下，差分信號(hào)通過(guò)集成電路(IC)封裝、外部器件、不同的PCB結(jié)構(gòu)、連接器和電纜連接子係統(tǒng)進(jìn)行傳播。實(shí)現(xiàn)完全對(duì)稱(chēng)的差分對(duì)是件不太容易的事情。在以後的博文中，我將討論差分對(duì)設(shè)計(jì)的方案，以及限度減少發(fā)射信號(hào)失真的技術(shù)。德州儀器(TI)擁有完整的高速信號(hào)調(diào)理IC產(chǎn)品線(xiàn)，諸如重定時(shí)器（Retimer）和驅(qū)動(dòng)器(Redriver)。它們?cè)诮鉀Q所有類(lèi)型實(shí)際差分對(duì)設(shè)計(jì)時(shí)碰到的不理想情況，和高插入損耗情況大有幫助，從而在現(xiàn)代係統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)了可靠數(shù)據(jù)通信並延長(zhǎng)了傳輸距離。

② 充電端口：用於連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時(shí)針旋動(dòng)中值向上走動(dòng)；逆時(shí)針旋動(dòng)中值向下走動(dòng)。（需采樣刷新才有變化）大；逆時(shí)針旋動(dòng)幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用於連接采樣線(xiàn)。毋庸置疑，這種運(yùn)營(yíng)方式代價(jià)高昂，更不必說(shuō)這絕不可能是無(wú)懈可擊的全天候控製過(guò)程。多年來(lái)，采礦工業(yè)極為關(guān)心泄漏和水資源管理對(duì)環(huán)境的影響，並且一直在積極尋求改進(jìn)監(jiān)控方法?！笨紤]到這些需求，IntelliView開(kāi)發(fā)出一種行之有效的、能在數(shù)秒鐘之內(nèi)檢測(cè)和報(bào)警小規(guī)模地上液體泄漏、噴射和彙聚成池的方法。IntelliView的泄漏檢測(cè)解決方案采用新一代稱(chēng)之為DCAM?(雙攝像頭模塊)的產(chǎn)品，一款將可見(jiàn)光相機(jī)和FLIR熱像儀與內(nèi)置型泄漏技術(shù)集於一體的緊湊型產(chǎn)品。18年1月3日，NI(美國(guó)儀器，NationalInstruments,簡(jiǎn)稱(chēng)NI)作為致力於為工程師和科學(xué)家提供基於平臺(tái)的係統(tǒng)解決方案來(lái)應(yīng)對(duì)嚴(yán)峻工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，宣布推出PXIe-4163高密度源測(cè)量單元(SMU)，該測(cè)量單元提供了比以往NIPXISMU高達(dá)6倍的直流通道密度，適用於測(cè)試RMEMS以及混合信號(hào)和其他模擬半導(dǎo)體元件。NI銷(xiāo)售和市場(chǎng)執(zhí)行副總裁EricStarkloff表示：“5物聯(lián)網(wǎng)和自動(dòng)駕駛汽車(chē)等性的技術(shù)發(fā)展給半導(dǎo)體企業(yè)帶來(lái)持續(xù)的壓力。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見(jiàn)“工作界麵介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈衝”、“閃絡(luò)方法”和“速度測(cè)量”。儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)“低壓脈衝”，根據(jù)測(cè)試需要，可選擇相應(yīng)的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈衝寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個(gè)選項(xiàng)，分彆為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測(cè)試距離選擇合適的脈寬，按對(duì)應(yīng)的子菜單鍵可以對(duì)脈衝寬度進(jìn)行選擇，儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項(xiàng)功能。注意：在高壓閃絡(luò)法測(cè)試中此項(xiàng)不做選擇。

塗鍍層測(cè)厚儀的測(cè)量方法的測(cè)量方法主要分為以下幾種：磁性測(cè)厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測(cè)量精度高；渦流測(cè)厚法：適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種方法較磁性測(cè)厚法精度低；超聲波測(cè)厚法：目前國(guó)內(nèi)還冇有用此種方法測(cè)量塗鍍層厚度的，國(guó)外個(gè)彆廠家有這樣的儀器，適用多層塗鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴\測(cè)量精度也不高；電解測(cè)厚法：此方法有彆於以上三種，不屬於無(wú)損檢測(cè)，需要破壞塗鍍層。