HN300電纜故障測(cè)試儀 電纜外護(hù)套故障測(cè)試儀 HN300係列 電纜刺紮器現(xiàn)貨供應(yīng)

 用於35kV及以下不同等級(jí)、不同截麵、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類(lèi)故障，包括：開(kāi)路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測(cè)試的低壓脈衝法、衝擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法。 全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。據(jù)悉，一般測(cè)控係統(tǒng)有傳感器、中間變換器和顯示記錄儀組成。傳感器將被測(cè)量檢出並轉(zhuǎn)換成已與測(cè)量的物理量，中間變換器對(duì)傳感器的輸出量進(jìn)行、處理、轉(zhuǎn)換成後級(jí)儀表能接受的信號(hào)，輸出給其他係統(tǒng)，或由顯示記錄儀對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行顯示、記錄。傳感器是測(cè)量係統(tǒng)的的環(huán)節(jié)，對(duì)於控製係統(tǒng)來(lái)說(shuō)，如果把計(jì)算機(jī)比作大腦，那麼傳感器就相當(dāng)於五官，直接影響到係統(tǒng)的控製精度。傳感器一般由敏感元件、轉(zhuǎn)換文件、轉(zhuǎn)換電路組成。由敏感元件直接感受被測(cè)量，同時(shí)它自身的某一參數(shù)值變化與被測(cè)量值的變化有確定的關(guān)係，且這一參數(shù)容易測(cè)量輸出；然後由轉(zhuǎn)換元件將敏感元件的輸出轉(zhuǎn)換成電參數(shù)；後又轉(zhuǎn)換電路將轉(zhuǎn)換元件輸出的電參數(shù)放大，轉(zhuǎn)換成便於顯示、記錄、處理、控製的有用電信號(hào)。

技術(shù)參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈衝法、衝擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈衝寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設(shè)置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類(lèi)型自設(shè)定

5. 衝擊高壓：35kV及以下

6. 測(cè)試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測(cè)試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏

新一代“萬(wàn)人迷”——2018年2月1日，版本的LabVIEWNXG，是LabVIEW工程係統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件的下一代版本，引發(fā)業(yè)內(nèi)震動(dòng)。工程師都需要麵對(duì)一個(gè)直接但複雜到難以想象的挑戰(zhàn)：解決尚未解決的難題。甚至，人們還期望他們能以更快的速度更少的資源，來(lái)解決問(wèn)題。，測(cè)試家用溫控器。溫控器僅由雙金屬線(xiàn)圈構(gòu)成的年代已經(jīng)一去不複返了。從濕度和溫度傳感器到無(wú)線(xiàn)電路和動(dòng)作感應(yīng)，如今的溫控器融合了先進(jìn)技術(shù)。係統(tǒng)的驗(yàn)證需要各樣的儀器、傳感器和軟件專(zhuān)業(yè)知識(shí)，麵對(duì)這些挑戰(zhàn)，工程師應(yīng)當(dāng)從何入手？在工程中，儘可能找到省力的途徑來(lái)測(cè)量和測(cè)試複雜係統(tǒng)讓人感到十分困難。

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時(shí)域反射（TDR）原理，即對(duì)電纜發(fā)射一電脈衝，電脈衝將在電纜中勻速傳輸，當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點(diǎn)），電脈衝將產(chǎn)生反射。測(cè)距主機(jī)將電脈衝的發(fā)射和反射的變化以時(shí)域形式通過(guò)液晶屏顯示出來(lái)，通過(guò)屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開(kāi)關(guān)按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開(kāi)電源。開(kāi)機(jī)2分鐘無(wú)任何操作時(shí)，屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。為了描述物理層結(jié)構(gòu)的特征，還必須進(jìn)行頻域。S參數(shù)模型說(shuō)明了這些數(shù)字電路結(jié)構(gòu)所展示出來(lái)的模擬特點(diǎn)包括：不連續(xù)點(diǎn)反射、頻率相關(guān)損耗、串?dāng)_和EMI等性能。為使設(shè)備性能符合標(biāo)準(zhǔn)，眼圖增加了重要的統(tǒng)計(jì)功能。為利用特性檢定技術(shù)改善仿真能力，可以采用基於測(cè)試結(jié)果的S參數(shù)或RLCG模型提取技術(shù)。隨著在多種工作模式下進(jìn)行數(shù)字和模擬綜合（時(shí)域和頻域）變得越來(lái)越重要，要完成這些測(cè)試功能，通常需要使用多種測(cè)試儀表，同時(shí)操作多種儀表正變得越來(lái)越困難。

② 充電端口：用於連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時(shí)針旋動(dòng)中值向上走動(dòng)；逆時(shí)針旋動(dòng)中值向下走動(dòng)。（需采樣刷新才有變化）大；逆時(shí)針旋動(dòng)幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用於連接采樣線(xiàn)。綜上所述，對(duì)音頻儀器設(shè)備的測(cè)試源的設(shè)計(jì)和選擇有幅度可變、頻率可調(diào)兩個(gè)基本要求。通常的激勵(lì)源隻能做到單一的幅度可調(diào)(而頻率不變)或者頻率可調(diào)(而幅度不變)，冇有二者皆同時(shí)可調(diào)，這樣就導(dǎo)致了測(cè)試效率極低。為了提高測(cè)試效率，可以采用以正弦為載波包絡(luò)按指數(shù)衰減的信號(hào)作為測(cè)試源。1原理及仿真1.1設(shè)計(jì)原理如所示，該信號(hào)為按指數(shù)衰減的正弦信號(hào)，即其包絡(luò)為單邊衰減的指數(shù)信號(hào)，包絡(luò)內(nèi)是按正弦載波振蕩的。這樣指數(shù)衰減的包絡(luò)能反映出信號(hào)由大到小的變換規(guī)律，能滿(mǎn)足放大性能動(dòng)態(tài)範(fàn)圍的測(cè)試;而頻率可調(diào)可以方便頻率響應(yīng)的測(cè)試。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見(jiàn)“工作界麵介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈衝”、“閃絡(luò)方法”和“速度測(cè)量”。儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)“低壓脈衝”，根據(jù)測(cè)試需要，可選擇相應(yīng)的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈衝寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個(gè)選項(xiàng)，分彆為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測(cè)試距離選擇合適的脈寬，按對(duì)應(yīng)的子菜單鍵可以對(duì)脈衝寬度進(jìn)行選擇，儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項(xiàng)功能。注意：在高壓閃絡(luò)法測(cè)試中此項(xiàng)不做選擇。

泰克科技公司日前宣布，為Keithley4200A-SCS參數(shù)儀推出兩款源測(cè)量單元(SMU)模塊，即使在由於長(zhǎng)電纜和複雜的測(cè)試設(shè)置而產(chǎn)生高負(fù)載電容時(shí)，其仍能執(zhí)行低電流測(cè)量。許多主要測(cè)試應(yīng)用都麵臨著這一挑戰(zhàn)，如LCD顯示器製造和卡盤(pán)上的納米FET器件測(cè)試。在被測(cè)器件本身電容很小的情況下，許多低電流測(cè)量應(yīng)用中所需要的測(cè)試設(shè)置也會(huì)增加SMU輸出端的電容。當(dāng)測(cè)試連接電容太大時(shí)，終的低電流測(cè)量結(jié)果可能會(huì)變得不穩(wěn)定。