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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:溫升大電流發(fā)生器 斷路器溫升試驗設(shè)備 母線槽溫升測試儀 30年經(jīng)驗

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗,電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負載試驗及溫升試驗。溫升大電流發(fā)生器 斷路器溫升試驗設(shè)備 母線槽溫升測試儀 30年經(jīng)驗
詳情介紹:

HNDL係列全自動大電流發(fā)生器測試係統(tǒng)溫升大電流發(fā)生器 斷路器溫升試驗設(shè)備 母線槽溫升測試儀 30年經(jīng)驗
溫升大電流發(fā)生器 斷路器溫升試驗設(shè)備 母線槽溫升測試儀 30年經(jīng)驗
是青島華能遠見有限公司自主研製開發(fā)的專業(yè)應(yīng)用於母線槽、頻率
50Hz開關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。
則有效的保證了測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。整機測試單元包括:高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器(進口件)、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調(diào)壓輸出電流。你知道現(xiàn)在的處理器已經(jīng)發(fā)展為8核和10核處理器了嗎?這些處理器需要多個內(nèi)核來同時運行很多應(yīng)用程序,操作遊戲和高質(zhì)量流的圖形處理器。這些全新的處理器需要很高的電流(有時超過10A),並且需要以儘可能快的速度傳送這個電流。由於不斷增長的內(nèi)核數(shù)量,為這些處理器供電的器件的屬性也在發(fā)生著變化。在滿足小外形尺寸需要的同時,需要真正的業(yè)內(nèi)進的電源技術(shù)。TI有幾款為處理器供電的降壓轉(zhuǎn)換器,諸如TPS62180、LP8758和TPS62184。

溫升大電流發(fā)生器 斷路器溫升試驗設(shè)備 母線槽溫升測試儀 30年經(jīng)驗特點

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作;測試無需外接任何輔助設(shè)備,全自動控製,式操作,簡單方便。

2、 帶有自動穩(wěn)流係統(tǒng),工控機可實現(xiàn)四遙控能

3、 采用當(dāng)前電力電子技術(shù),抗乾擾能力強,輸出精度高,紋波係數(shù)小於0.2%,準(zhǔn)確度高於0.5%;。

4、 自動試驗隻需設(shè)置好目標(biāo)電流即可,無需人工監(jiān)控,僅需設(shè)定測試電流,省去手動調(diào)壓,減小勞動強度,提高工作效率。運行時間可自由設(shè)定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級:B

 溫升大電流發(fā)生器 斷路器溫升試驗設(shè)備 母線槽溫升測試儀 30年經(jīng)驗CAN波特率跟傳輸距離的關(guān)係既然線纜都會有寄生電容,那寄生電容對CAN總線的影響是怎麼樣的呢?我們用CANScope模擬給總線上加不同的電容,通過眼圖來看看會發(fā)生什麼,如,可以看到隨著電容的增大,顯性位跟隱性位的下降沿變得越來越緩。線纜不同電容對波形的影響當(dāng)總線上CANL對地短路後,那麼CAN傳輸就隻有CANH這條線維持了,這種情況下CAN總線就類似於單線CAN,差分傳輸?shù)膬?yōu)勢就蕩然無存,那麼我們就看看在高速CAN下,CANL短路會出現(xiàn)什麼情況。

二、技術(shù)指標(biāo)

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設(shè)定。

3. 輸出開口電壓:0-20V.

4.電流精度 :各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào),精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數(shù)值,精度高、穩(wěn)定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)遠遠高於國標(biāo)<<GB14048.2-14>>.

6.保護設(shè)置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範(fàn)圍:0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.溫升大電流發(fā)生器 斷路器溫升試驗設(shè)備 母線槽溫升測試儀 30年經(jīng)驗目前許多智能差壓變送器的精度可以達到0.075級,但由於種種原因,在實際運行中其測量誤差常常較大,有時甚至達到15%~25%,在進行經(jīng)濟核算時,這一問題顯得尤為突出。找出測量誤差產(chǎn)生的原因並儘量克服,具有重要的實際意義。筆者根據(jù)多年的工作經(jīng)驗,總結(jié)了差壓流量計誤差產(chǎn)生的一些常見原因及消除誤差的方法。差壓式流量計的組成與工作原理差壓式流量計由標(biāo)準(zhǔn)節(jié)流裝置(如標(biāo)準(zhǔn)孔板)、引壓管路和差壓變送器組成,如所示。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓,在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。

2、打開儀器側(cè)麵空氣開關(guān),等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖:

電流輸出線與常閉觸點接入後,注急停按鈕不要按下,直接按啟動按鈕,即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗結(jié)束後,都要按下麵板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動歸零位)。

2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖:

自動試驗時,每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來設(shè)置輸出電流大小。做長時間運行可自由設(shè)定運行時間。如下圖:示波器的采樣根據(jù)Nyquist采樣定理,當(dāng)對一個頻率為f的帶限信號進行采樣時,采樣頻率SF必須大於f的兩倍以上才能確保從采樣值完全重構(gòu)原來的信號。這裡,f稱為Nyquist頻率,2f為Nyquist采樣率。對於正弦波,每個周期至少需要兩次以上的采樣才能保證數(shù)字化後的脈衝序列能較為準(zhǔn)確的還原原始波形。如果采樣率低於Nyquist采樣率則會導(dǎo)致混迭(Aliasing)現(xiàn)象。采樣率SF2f,混迭失真和顯示的波形看上去非常相似,但是頻率測量的結(jié)果卻相差很大,究竟哪一個是正確的?仔細觀察我們會發(fā)現(xiàn)中觸發(fā)位置和觸發(fā)電平冇有對應(yīng)起來,而且采樣率隻有250MS/s,中使用了20GS/s的采樣率,可以確定,顯示的波形欺騙了我們,這即是一例采樣率過低導(dǎo)致的混迭(Aliasing)給我們造成的假像。溫升大電流發(fā)生器 斷路器溫升試驗設(shè)備 母線槽溫升測試儀 30年經(jīng)驗

1.在連接儀器測試線前,應(yīng)先檢查各項調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。

2.輸出電流2500A以上時,電流輸出線一定要緊固。試驗時間300s。封測是封裝和測試製程的合稱,其中封裝是為保護芯片不受環(huán)境因素的影響,而將晶圓代工廠商製造好的集成電路裝配為芯片的過程,具有連接芯片內(nèi)部和外部電路溝通的作用;測試環(huán)節(jié)的目的是檢查出芯片。作為半導(dǎo)體核心產(chǎn)業(yè)鏈上重要的一環(huán),封測雖在摩爾定律驅(qū)動行業(yè)發(fā)展的時代地位上不及設(shè)計和製造,但隨著“超越摩爾時代”概念的提出和到來,先進封裝成為了延續(xù)摩爾定律的關(guān)鍵,在產(chǎn)業(yè)鏈上的重要性日漸提升。既然先進封裝將成為行業(yè)未來發(fā)展的關(guān)鍵推動力之一,那麼我們就有必要對封裝產(chǎn)業(yè)尤其是國內(nèi)的封裝產(chǎn)業(yè)進行一個大致的了解,以便窺探產(chǎn)業(yè)未來發(fā)展趨勢。溫升大電流發(fā)生器 斷路器溫升試驗設(shè)備 母線槽溫升測試儀 30年經(jīng)驗

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