HN2016智能sf6微水測試儀sf6微水測試儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 氣體定量檢漏儀 5年保修

露點(diǎn)	測量範(fàn)圍	－80 ℃～+20 ℃
	測量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測量時(shí)間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

即便如此，在輸入時(shí)信噪比(SNR)也會(huì)受影響。在這些應(yīng)用中，可編程增益儀表放大器(PGIA)是適合前端的解決方案，可適應(yīng)傳感器接口的靈敏度，同時(shí)優(yōu)化SNR。集成PGIA可實(shí)現(xiàn)良好的直流和交流規(guī)格。本文討論集成PGIA及其優(yōu)勢。文中還會(huì)討論相關(guān)限製，以及為滿足特定要求而構(gòu)建分立PGIA時(shí)應(yīng)遵循的指導(dǎo)原則。集成PGIAADI公司的產(chǎn)品係列中有許多集成PGIA。集成PGIA具有設(shè)計(jì)時(shí)間更短、尺寸更小的優(yōu)勢。1、連接SF₆設(shè)備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好，用扳手?jǐn)Q緊，關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥；

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關(guān)接頭與SF₆電氣設(shè)備測量接口連接好，用扳手?jǐn)Q緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí)，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低於約20％，請關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥，然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開始測量SF₆露點(diǎn)。

設(shè)備測量時(shí)間需要5～10分鐘，其後每臺(tái)設(shè)備需要3～5分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測量完成後，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。它用於飛機(jī)複合材料構(gòu)件製造、修理過程中產(chǎn)生或使用中形成的近表麵缺陷（如分層、脫粘、空洞、異物、積水等）的檢測。紅外熱像檢測係統(tǒng)簡介紅外檢測按是否需要外部激勵(lì)可分為主動(dòng)紅外檢測和被動(dòng)紅外檢測。主動(dòng)式紅外檢測係統(tǒng)主要由紅外熱像儀和熱激勵(lì)裝置構(gòu)成，對於的熱激勵(lì)裝置如調(diào)製輻射源等還有的控製單元，如果需要，可采用計(jì)算機(jī)軟件對采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理以輔助判讀；被動(dòng)式紅外檢測係統(tǒng)不需要熱激勵(lì)裝置。紅外熱像儀的主要參數(shù)有顯示屏尺寸及圖像分辨率、空間分辨率、聲等效溫度差、測溫範(fàn)圍等，在采購時(shí)應(yīng)注意滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和手冊的要求。

5、測量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測量後，關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF₆電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備，按照上麵步驟繼續(xù)測量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測量結(jié)束

所有設(shè)備測量結(jié)束後，關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài)，通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單，如圖1。

據(jù)故宮博物院院長單霽翔介紹，、希臘同為擁有悠久曆史的文明古國，在收藏與研究保護(hù)領(lǐng)域多有共通之處。希臘電子結(jié)構(gòu)與激光研究所在激光光學(xué)領(lǐng)域享譽(yù)歐洲，一直致力於將激光技術(shù)應(yīng)用於文化遺產(chǎn)的研究與保護(hù)工作中。特彆是他們近與雅典衛(wèi)城博物館合作的“大理石表麵汙染物激光”項(xiàng)目，獲得了修護(hù)協(xié)會(huì)頒發(fā)的凱克獎(jiǎng)，已經(jīng)成為世界範(fàn)圍內(nèi)石質(zhì)激光清洗的代表案例。高科技設(shè)備可釉燒溫度隨著時(shí)代發(fā)展，科學(xué)技術(shù)在保護(hù)過程中應(yīng)用日益廣泛，為害的診斷、的預(yù)防性保護(hù)和修複提供了重要的支撐。

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁麵，保存數(shù)據(jù)時(shí)，可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號。

設(shè)備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號後，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入查看記錄頁麵。

顯示時(shí)從後一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。就以上的難點(diǎn)，ITECH依托於強(qiáng)大的硬件韌體功能，均已一一突破，並為國內(nèi)熔斷器製造商實(shí)驗(yàn)室完成了3A熔斷時(shí)間的係統(tǒng)方案。熔斷時(shí)間方案優(yōu)勢使用IT89A/E係列負(fù)載自帶Measure功能量測熔斷時(shí)間在熔斷器熔斷時(shí)間測試應(yīng)用中，熔斷時(shí)間對應(yīng)下圖中從C點(diǎn)下降到E點(diǎn)的時(shí)間（正脈寬時(shí)間），且時(shí)間量測精度可媲美示波器.量測時(shí)間的測定通過上位機(jī)軟件發(fā)送指令，，測試電源電壓從1V到8V，電流從1A到5A的上升和下降時(shí)間，可以發(fā)送如下指令：在熔斷器測試方案中，主要應(yīng)用到IT89A/E係列大功率負(fù)載和IT6係列大功率電源。

3、刪除記錄

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間，按“確定”鍵，進(jìn)入修改時(shí)間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒後，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 電路板缺陷檢測包括兩部分:焊點(diǎn)缺陷檢測和元器件檢測，傳統(tǒng)的檢測采用人工檢測方法，容易漏檢、檢測速度慢、檢測時(shí)間長、成本高，已經(jīng)逐漸不能夠滿足生產(chǎn)需要。設(shè)計(jì)一種搭載工業(yè)相機(jī)以取代人眼的機(jī)器視覺電路板檢測係統(tǒng)，具有非常重要的現(xiàn)實(shí)意義。機(jī)器視覺檢測技術(shù)是建立在圖像處理算法的基礎(chǔ)上，通過數(shù)字圖像處理與模式識彆的方法來實(shí)現(xiàn)，與傳統(tǒng)的人工檢測技術(shù)相比，提高了缺陷檢測的效率和準(zhǔn)確度。機(jī)器視覺係統(tǒng)一般采用CCD或CMOS工業(yè)相機(jī)攝取檢測圖像並轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號，再通過計(jì)算機(jī)軟、硬件技術(shù)對圖像數(shù)字信號進(jìn)行處理，從而得到所需要的目標(biāo)圖像特征值，並由此實(shí)現(xiàn)零件識彆或缺陷檢測等多種功能。