HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微量水分測(cè)試儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6氣體定量檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

露點(diǎn)	測(cè)量範(fàn)圍	－80 ℃～+20 ℃
	測(cè)量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測(cè)量時(shí)間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

另外，LM71-Q1可以監(jiān)測(cè)TCU模塊的總體溫度，當(dāng)溫度處?kù)?40°C和+150°C之間時(shí)，測(cè)量精度可達(dá)+3/-2°C。如前所述，TCU采用來(lái)自變速箱的溫度數(shù)據(jù)，作為其決策過(guò)程的一部分。LMT01-Q1是采用雙引腳引線封裝的一種易用型數(shù)字溫度傳感器，您可以把它安裝在變速箱上。將導(dǎo)線與LMT01-Q1封裝的引線壓接在一起，即可把這些導(dǎo)線連接至TCU電路板。LMT01-Q1通過(guò)發(fā)送脈衝來(lái)傳輸溫度數(shù)據(jù)，MCU/處理器會(huì)為脈衝計(jì)數(shù)。1、連接SF₆設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好，用扳手?jǐn)Q緊，關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥；

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

後將開(kāi)關(guān)接頭與SF₆電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好，用扳手?jǐn)Q緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí)，請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量，如果電量低於約20％，請(qǐng)關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥，然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開(kāi)始測(cè)量SF₆露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要5～10分鐘，其後每臺(tái)設(shè)備需要3～5分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成後，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。當(dāng)兩個(gè)重載輸出時(shí)，電流在整個(gè)1-D周期持續(xù)流動(dòng)，輸出電壓平衡良好。然而，當(dāng)一個(gè)重載輸出和另一個(gè)輕載輸出時(shí)，輕載輸出上的輸出電容傾向於從該基座電壓發(fā)生峰值充電；因?yàn)殡娏餮杆倩厣搅?，其輸出二極管將停止導(dǎo)通，。請(qǐng)參見(jiàn)中的波形。這些寄生電感的峰值充電交叉調(diào)節(jié)影響通常比整流器正向壓降單引起的要差得多。當(dāng)對(duì)兩個(gè)輸出施加重載時(shí)，在整個(gè)1-D周期內(nèi)，次級(jí)繞組電流在兩個(gè)次級(jí)繞組中流動(dòng)。您可以看到上方紅色跡線上的基座電壓。

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量後，關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF₆電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備，按照上麵步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束後，關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單，如圖1。

當(dāng)用一種材料校正儀器後(常用試塊為鋼)又去測(cè)量另一種材料時(shí)，將產(chǎn)生錯(cuò)誤的結(jié)果。溫度的影響。一般固體材料中的聲速隨其溫度升高而降低，有試驗(yàn)數(shù)據(jù)表明，熱態(tài)材料每增加100℃，聲速下降1%。對(duì)於高溫在役設(shè)備常常碰到這種情況。耦合劑的影響。耦合劑是用來(lái)排除和被測(cè)物體之間的空氣，使超聲波能有效地穿入工件達(dá)到檢測(cè)目的。如果選擇種類或使用方法不當(dāng)，將造成誤差或耦合標(biāo)誌閃爍，無(wú)法測(cè)量。實(shí)際使用中由於耦合劑使用過(guò)多，造成離開(kāi)工件時(shí)，儀器示值為耦合劑層厚度值。

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)麵，保存數(shù)據(jù)時(shí)，可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位，可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)後，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè)，此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入查看記錄頁(yè)麵。

顯示時(shí)從後一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。時(shí)間交錯(cuò)技術(shù)可使用多個(gè)相同的ADC（文中雖然僅討論了ADC，但所有原理同樣適用於DAC的時(shí)間交錯(cuò)特性），並以比每一個(gè)單數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器工作采樣速率更高的速率來(lái)處理常規(guī)采樣數(shù)據(jù)序列。簡(jiǎn)單說(shuō)來(lái)，時(shí)間交錯(cuò)（IL）由時(shí)間多路複用M個(gè)相同的ADC並聯(lián)陣列組成。如圖1所示。這樣可以得到更高的淨(jìng)采樣速率fs（采樣周期Ts=1/fs），哪怕陣列中的每一個(gè)ADC實(shí)際上以較低的速率進(jìn)行采樣（和轉(zhuǎn)換），即fs/M。舉例而言，通過(guò)交錯(cuò)四個(gè)10位/100MSPSADC，理論上可以實(shí)現(xiàn)10位/400MSPSADC。

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間，按“確定”鍵，進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)麵。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒後，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 當(dāng)外界熱激勵(lì)時(shí)，缺陷的存在會(huì)影響熱傳導(dǎo)，導(dǎo)致表麵溫度分布異?；虮睃I溫度隨時(shí)間的變化異常。采用紅外熱像儀測(cè)量被檢複合材料構(gòu)件表麵溫度變化，通過(guò)一定的信號(hào)處理，甚至借助於參塊，獲得其表麵或內(nèi)部缺陷的特征（包括缺陷的位置、大小及性質(zhì)等）。一般來(lái)說(shuō)，缺陷越大，越靠近被檢表麵，與基體材料的熱性質(zhì)差彆越大，越容易被檢測(cè)出來(lái)。1應(yīng)用特點(diǎn)紅外熱像檢測(cè)是無(wú)損檢測(cè)方法之一，具有直觀、快速、無(wú)汙染、一次檢測(cè)麵積大等優(yōu)點(diǎn)，適用於複合材料構(gòu)件的現(xiàn)場(chǎng)、快速檢測(cè)，如器結(jié)構(gòu)的原位檢測(cè)。