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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 高質(zhì)量

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 高質(zhì)量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 高質(zhì)量
冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 高質(zhì)量

露點(diǎn)

測(cè)量範(fàn)圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

1靜態(tài)電流的測(cè)試一定電壓下,讓IC處?kù)稛o(wú)負(fù)載,無(wú)震蕩狀態(tài),將電流表的一端接電源的正極,另一端接IC的VDD腳,電流表的讀數(shù)極為IC的靜態(tài)電流。2驅(qū)動(dòng)電流的測(cè)試一定電壓下,將IC的負(fù)載用可調(diào)電阻代替,讓IC正常工作,當(dāng)輸出口有輸出時(shí),調(diào)節(jié)可調(diào)電阻的阻值,使IC輸出端的電平滿足測(cè)試要求。以上測(cè)試需求,根據(jù)電壓規(guī)格要求,精度要求,合適的直流電源,如IT64雙極性電源;IT61高速高精度電源;其中IT64雙極性電源高至na級(jí)彆的精度,既作為供電電源,又可以測(cè)試靜態(tài)電流。冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 高質(zhì)量1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

後將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其後每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成後,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。實(shí)時(shí)頻譜功能界麵顯示其中,熒光頻譜圖是基於頻譜統(tǒng)計(jì)的二維圖譜。在熒光頻譜圖中,橫軸代表頻率,縱軸代表幅度,像素點(diǎn)的色彩代表該頻率點(diǎn)的幅度統(tǒng)計(jì)次數(shù),如所示。通過(guò)熒光頻譜圖和無(wú)縫瀑布圖對(duì)實(shí)現(xiàn)信號(hào)實(shí)現(xiàn)無(wú)丟失顯示,實(shí)時(shí)頻譜功能可以發(fā)現(xiàn)瞬態(tài)信號(hào)並顯示信號(hào)的實(shí)時(shí)變化。熒光頻譜原理示意圖熒光頻譜圖的應(yīng)用熒光頻譜將一段時(shí)間內(nèi)所統(tǒng)計(jì)的各個(gè)頻率及相應(yīng)幅度出現(xiàn)的次數(shù)轉(zhuǎn)化為顏色,通過(guò)顏色揭示信號(hào)的概率。一般而言,熒光頻譜圖默認(rèn)設(shè)置能夠滿足絕大數(shù)的信號(hào)顯示要求。冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 高質(zhì)量

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量後,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上麵步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束後,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1

濱鬆於今年正式發(fā)布了的近紅外MPPC研製成果,推出了紅外增強(qiáng)型MPPCS1372係列。其在95納米處具有較高的探測(cè)效率,響應(yīng)速度快,工作溫度範(fàn)圍寬,適合場(chǎng)合下的激光雷達(dá)應(yīng)用,尤其是使用ToF測(cè)距法的長(zhǎng)距離測(cè)量。下圖是濱鬆推出的紅外增強(qiáng)型MPPC(矽光電倍增管)S1372係列。矽PIN光電二極管成本低,且不易受周圍環(huán)境光的乾擾,但相比APD/SPAD和MPPC,探測(cè)距離較短。矽PIN光電二極管的上升和下降時(shí)間非常短(通常為1納秒或更短),因此非常適合於接收25納秒數(shù)量級(jí)的光脈衝。冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 高質(zhì)量

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)麵,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)後,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)麵。

顯示時(shí)從後一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。大功率電源測(cè)試對(duì)於大功率電源的測(cè)試,采用幾臺(tái)單的電子負(fù)載並聯(lián)後增加電子負(fù)載的功率,這個(gè)方法相信很多工程師都使用過(guò)。但是這樣簡(jiǎn)單的並聯(lián)後,隻能完成大電流的長(zhǎng)時(shí)間帶載這個(gè)基本的電源測(cè)試功能,如果需要對(duì)電源模塊進(jìn)行動(dòng)態(tài)響應(yīng)測(cè)試,一般的單純並聯(lián)負(fù)載的方式就不能勝任了。這是因?yàn)槊颗_(tái)電子負(fù)載內(nèi)部的觸發(fā)並不能做到完全的同步,運(yùn)行一段時(shí)間後,動(dòng)態(tài)模式下的幾個(gè)負(fù)載會(huì)因?yàn)椴煌降膯?wèn)題導(dǎo)致帶載的電流波形出現(xiàn)畸變,原本平滑的上升或下降曲線會(huì)變?yōu)殡A梯狀,並且電流值也會(huì)相對(duì)於設(shè)置值產(chǎn)生偏差。冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 高質(zhì)量

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)麵。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 檢測(cè)時(shí)隻需要一臺(tái)電子天平對(duì)翡翠進(jìn)行稱重,經(jīng)過(guò)計(jì)算得到實(shí)際的密度,與相對(duì)密度進(jìn)行比較。翡翠的相對(duì)密度為3.30-3.36,與其他礦物可以進(jìn)行區(qū)分。折射儀那麼翡翠的透明度又要如何進(jìn)行科學(xué)測(cè)定呢?一般翡翠都是呈現(xiàn)半透明至不透明的狀態(tài),極少數(shù)是透明的,通過(guò)肉眼就可以觀察到這些。根據(jù)《翡翠透明度測(cè)量和分級(jí)》,可以通過(guò)檢測(cè)透過(guò)率對(duì)翡翠的透明度進(jìn)行分級(jí)。在冇有寶石顯微鏡的情況下,鑒定人員可使用聚光手電、放大鏡觀察到翡翠的透明度。冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 高質(zhì)量


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