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HN2016智能sf6微水測試儀冷鏡式露點(diǎn)儀 氣體抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 5年保修
露點(diǎn) |
測量範(fàn)圍 |
-80 ℃~+20 ℃ |
測量精度 |
±1℃(-80℃~+20℃) |
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測量時間 (+20℃) |
<3分鐘。 |
|
環(huán)境溫度 |
-40℃~+60℃ |
Simplelink傳感器控製器是的16位處理單元(CPU)核心,在活動模式、待機(jī)模式和啟動耗能階段均隻消耗極低功率。如圖2所示,該傳感器控製器包括模擬和數(shù)字外圍設(shè)備,它們專為實(shí)現(xiàn)超低功率而進(jìn)行了優(yōu)化。利用這些外圍設(shè)備和2MHz時鐘模式,使得該控製器非常適合感應(yīng)式測量應(yīng)用,從而實(shí)現(xiàn)超低功率:,基於感應(yīng)式測量原則,可以在100Hz時達(dá)到低至3.9μA的平均電流消耗值。欲了解詳情,請參閱流量表應(yīng)用示例,閱讀“采用CC13x2R無線MCU的單芯片流量表解決方案。1、連接SF6設(shè)備
將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥;
再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;
將排氣管道連接到出氣口。
後將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;
2、檢查電量
本儀器優(yōu)先使用交流電。
使用直流電時,請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。
3、開始測量
打開儀測量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點(diǎn)。
設(shè)備測量時間需要5~10分鐘,其後每臺設(shè)備需要3~5分鐘。
4、存儲數(shù)據(jù)
設(shè)備測量完成後,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。紅外線測溫儀的標(biāo)準(zhǔn)化檢定方法是采用黑體爐檢定。黑體是指在任何情況下對一切波長的入射輻射的吸收率都等於1的物體,黑體是一種理想化的物體模型,因此引入了一個隨材料性質(zhì)及表麵狀態(tài)變化的輻射係數(shù),即發(fā)射率,它的定義為實(shí)際物體與同溫度黑體輻射性能之比。物體的輻射與吸收紅外輻射規(guī)律滿足基爾霍夫定律,當(dāng)一束輻射投射到任一物體表麵時,根據(jù)能量守恒原理,物體對入射輻射的吸收率、反射率、透過率三者之和必等於1,一般發(fā)射率不容易測定,通??赏ㄟ^測量吸收率來確定發(fā)射率,所以黑體輻射源作為輻射標(biāo)準(zhǔn)用來檢定紅外輻射源的輻射強(qiáng)度。
5、測量其他設(shè)備
一臺設(shè)備測量後,關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備,按照上麵步驟繼續(xù)測量下一臺設(shè)備。
6、測量結(jié)束
所有設(shè)備測量結(jié)束後,關(guān)閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。
乾擾源、相合途徑及敏感設(shè)備是電磁兼容的三要素,缺一不可。電磁兼容的詳細(xì)內(nèi)容如所示。電磁兼容如所示,電磁乾擾信號的耦合途徑有傳導(dǎo)和輻射兩種。而根據(jù)耦合結(jié)果不同,乾擾又分為共模乾擾和差模乾擾,共模乾擾存在於所有的信號線(包括信號線、數(shù)據(jù)線和電源線等)和地線之間,而差模乾擾存在於信號線之間。提高電磁兼容性措施的有三個方麵:提高電子設(shè)備本身的EMC性能、對輻射性耦合使用技術(shù)加以、對傳導(dǎo)耦取隔離加以。
1、保存數(shù)據(jù)
在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁麵,保存數(shù)據(jù)時,可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號。
設(shè)備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。
輸入編號後,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時不保存數(shù)據(jù)。
2、查看記錄
在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁麵。
顯示時從後一個被保存的數(shù)據(jù)開始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。標(biāo)準(zhǔn)中均涉及一項(xiàng)重要測試即振動(複合溫度)試驗(yàn),本文以下將重點(diǎn)介紹利用艾德克斯IT6400係列電源,對**氣囊係統(tǒng)進(jìn)行振動模擬測試。振動(複合溫度)試驗(yàn)振動(複合溫度)試驗(yàn)是將**氣囊係統(tǒng)置於一定的溫濕度條件下,同時按規(guī)定的周期將電振動應(yīng)力施加到待測**氣囊上,去模擬待測物在運(yùn)輸過程中或者汽車行駛在不同道路狀況下對於**氣囊的振動疲勞破壞,更客觀評價**氣囊在溫濕度和振動複合環(huán)境下的適應(yīng)能力。實(shí)際工作過程中,**氣囊必須在通電狀態(tài)下才能發(fā)揮作用,因此如上圖表所示,檢測標(biāo)準(zhǔn)中均規(guī)定需“模擬工作狀態(tài)加載脈衝電流”。
3、刪除記錄
在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。
4、修改時間
在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時間頁麵。
通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。
輸入小時、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個修改域內(nèi)。
Atmel、賽普拉斯、Microchip和NXP等多家公司已經(jīng)把部分用戶可定義邏輯添加到自己的部件上,用於修複部分此類問題。這些器件主要是帶附加邏輯的微控製器。CPU仍然是主要的處理器件,附加邏輯的作用是提高CPU的工作效率。這類器件常見於成本敏感性產(chǎn)品中,但也在低級任務(wù)中用作小型協(xié)處理器,以減輕主處理器的負(fù)擔(dān),從而提升效率。另一方麵FPGA也正在朝著類似的目標(biāo)前進(jìn),雖然是從另一個方向。賽靈思和Altera多年來一直在添加軟硬核處理器以創(chuàng)建片上係統(tǒng)。