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HN2016智能sf6微水測試儀微水測試儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 5年保修
露點(diǎn) |
測量範(fàn)圍 |
-80 ℃~+20 ℃ |
測量精度 |
±1℃(-80℃~+20℃) |
|
測量時(shí)間 (+20℃) |
<3分鐘。 |
|
環(huán)境溫度 |
-40℃~+60℃ |
X射線光譜儀的好壞常常是以X射線強(qiáng)度測量的理論統(tǒng)計(jì)誤差來表示的,BX係列波長色散X射線熒光儀的穩(wěn)定性和再現(xiàn)性,已足以保證待測樣品測量的精度,被樣品的製樣技術(shù)成為影響準(zhǔn)確度的至關(guān)重要的因素,在樣品製備方麵所花的工夫?qū)从吃诮Y(jié)果的質(zhì)量上。X射線熒光儀器誤差的來源主要有以下幾個(gè)方麵:1.采樣誤差:非均質(zhì)材料樣品的代表性2.樣品的製備:製樣技術(shù)的穩(wěn)定性產(chǎn)生均勻樣品的技術(shù)3.不適當(dāng)?shù)臉?biāo)樣:待測樣品是否在標(biāo)樣的組成範(fàn)圍內(nèi)標(biāo)樣元素測定值的準(zhǔn)確度標(biāo)樣與樣品的穩(wěn)定性4.儀器誤差:計(jì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)誤差樣品的位置靈敏度和漂移重現(xiàn)性5.不適當(dāng)?shù)亩繑?shù)學(xué)模型:不正確的算法元素間的乾擾效應(yīng)未經(jīng)校正顆粒效應(yīng)純物質(zhì)的熒光強(qiáng)度隨顆粒的減小而增大,在多元素體係中,已經(jīng)證明一些元素的強(qiáng)度與吸收和增應(yīng)有關(guān),這些效應(yīng)可以引起某些元素的強(qiáng)度增加和另一些元素的強(qiáng)度減小。1、連接SF6設(shè)備
將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥;
再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;
將排氣管道連接到出氣口。
後將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;
2、檢查電量
本儀器優(yōu)先使用交流電。
使用直流電時(shí),請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。
3、開始測量
打開儀測量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點(diǎn)。
設(shè)備測量時(shí)間需要5~10分鐘,其後每臺設(shè)備需要3~5分鐘。
4、存儲數(shù)據(jù)
設(shè)備測量完成後,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。幾乎所有需要進(jìn)行波形顯示的測量儀器都麵臨一個(gè)問題:待顯示的波形片段中的采樣點(diǎn)數(shù)不等於屏幕顯示區(qū)域的像素?cái)?shù),在這樣的情況下,如何把波形繪製到顯示區(qū)域中去?本文將為你介紹一下解決這一問題的幾種方案。種情況:波形片段中的采樣點(diǎn)數(shù)大於屏幕顯示區(qū)域的像素?cái)?shù),在不同情況下,使用的抽取方案不同。等間隔抽取等間隔抽取這其實(shí)就是一個(gè)如何把大量波形壓縮到特定點(diǎn)數(shù)的問題,針對這個(gè)問題我們很自然就可以想到采用等間隔波形抽取。
5、測量其他設(shè)備
一臺設(shè)備測量後,關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備,按照上麵步驟繼續(xù)測量下一臺設(shè)備。
6、測量結(jié)束
所有設(shè)備測量結(jié)束後,關(guān)閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。
電源開機(jī)時(shí)間的測試開機(jī)時(shí)間(TurnOnTim:輸入電壓開始供電給電源時(shí)到電源輸出的電壓達(dá)到要求電壓值Va時(shí)的時(shí)間,如上圖所示。測試方法:啟動(dòng)測試:選擇啟動(dòng)測試觸發(fā)源為外部觸發(fā),可選用我司IT65C/D係列直流電源或IT76係列交流電源作為待測電源的DC/AC輸入,並通過模擬量接口提供同步信號給負(fù)載,當(dāng)負(fù)載接收到TRI信號時(shí),開始測試;結(jié)束測試:選擇結(jié)束測試觸發(fā)源為電平觸發(fā)方式,觸發(fā)電平設(shè)定為Va,當(dāng)待測電源輸出電壓達(dá)到Va時(shí),停止測試;負(fù)載計(jì)算出兩個(gè)觸發(fā)信號之間的時(shí)間差,即為待測電源的開機(jī)時(shí)間。
1、保存數(shù)據(jù)
在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁麵,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號。
設(shè)備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。
輸入編號後,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。
2、查看記錄
在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁麵。
顯示時(shí)從後一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。當(dāng)我們用臺式硬度計(jì)測量洛氏硬度時(shí),硬度計(jì)壓頭是金剛石錐體,壓頭(錐頂直徑為0.4毫米)與被測表麵的接觸麵積較小。加載時(shí),壓頭很容易穿透擠壓層,因此硬度的測量偏差較小。試驗(yàn)證明,測量偏差一般在5HRC以內(nèi)。用臺式硬度計(jì)測量布氏硬度時(shí),硬度計(jì)壓頭是鋼球壓頭,壓頭與被測表麵的接觸麵積較大。加載時(shí),壓頭必須克服擠壓層的較大阻力才能被測表麵,這就使硬度計(jì)壓頭的量不夠,所壓得的圓形壓痕也隨之變小,致使相應(yīng)的硬度值偏高於其真實(shí)值。
3、刪除記錄
在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。
4、修改時(shí)間
在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁麵。
通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。
輸入小時(shí)、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。
我們家裡的空調(diào)、冰箱等家電都貼有一張“能效標(biāo)識”,標(biāo)明了該家電的能耗等級。你知道這個(gè)能耗等級是怎麼測試出來的嗎?特彆是一些小功率設(shè)備的待機(jī)功耗,其測試方法不同會嚴(yán)重影響結(jié)果。讓我們來看一個(gè)實(shí)際測試案例。某工程師用致遠(yuǎn)電子的功率計(jì)PA31測試開關(guān)電源的待機(jī)功耗。次測試時(shí),發(fā)現(xiàn)待機(jī)功耗達(dá)到3mW,比理論值大出很多。測試參數(shù)如下圖所示:該工程師非常疑惑,於是與我司技術(shù)人員溝通測試方案,在詳細(xì)了解其測試過程以及儀器參數(shù)設(shè)置之後,我司技術(shù)人員給出了測試建議,修改了部分設(shè)置參數(shù)以及測試接線方式,得到了真實(shí)的待機(jī)功耗數(shù)據(jù),測試參數(shù)如下圖所示:對比上麵兩張圖,可以發(fā)現(xiàn),修改參數(shù)和接線後,測試的待機(jī)功耗隻有.4mW,與修改前的3mW相差將近8倍。