HN2016智能sf6微水測試儀微水測試儀 SF6氣體回收裝置 sf6冷鏡法露點儀 定製定做

露點	測量範(fàn)圍	－80 ℃～+20 ℃
	測量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測量時間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

在被檢測氣體溫度較低（0℃～650℃），或被測氣體較清潔時，適宜采樣式檢測方式，如製氮機測氧，實驗室測氧等。直插檢測式氧直插式檢測是將氧化鋯直接插入高溫被測氣體，直接檢測氣體中的氧含量，這種檢測方式適宜被檢測氣體溫度在700℃～1150℃時（結(jié)構(gòu)還可以用於1400℃的高溫），它利用被測氣體的高溫使氧化鋯達到工作溫度，不需另外用加熱器。直插式氧的技術(shù)關(guān)鍵是陶瓷材料的高溫密封和電極問題。由於需要將氧化鋯直接插入檢測氣體中，對氧的長度有較高要求，其有效長度在500mm～1000mm左右，的環(huán)境長度可達1500mm。1、連接SF₆設(shè)備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好，用扳手擰緊，關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥；

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關(guān)接頭與SF₆電氣設(shè)備測量接口連接好，用扳手擰緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低於約20％，請關(guān)機充電後繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥，然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開始測量SF₆露點。

設(shè)備測量時間需要5～10分鐘，其後每臺設(shè)備需要3～5分鐘。

4、存儲數(shù)據(jù)

設(shè)備測量完成後，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。據(jù)故宮博物院院長單霽翔介紹，、希臘同為擁有悠久曆史的文明古國，在收藏與研究保護領(lǐng)域多有共通之處。希臘電子結(jié)構(gòu)與激光研究所在激光光學(xué)領(lǐng)域享譽歐洲，一直致力於將激光技術(shù)應(yīng)用於文化遺產(chǎn)的研究與保護工作中。特彆是他們近與雅典衛(wèi)城博物館合作的“大理石表麵汙染物激光”項目，獲得了修護協(xié)會頒發(fā)的凱克獎，已經(jīng)成為世界範(fàn)圍內(nèi)石質(zhì)激光清洗的代表案例。高科技設(shè)備可釉燒溫度隨著時代發(fā)展，科學(xué)技術(shù)在保護過程中應(yīng)用日益廣泛，為害的診斷、的預(yù)防性保護和修複提供了重要的支撐。

5、測量其他設(shè)備

一臺設(shè)備測量後，關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF₆電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備，按照上麵步驟繼續(xù)測量下一臺設(shè)備。

6、測量結(jié)束

所有設(shè)備測量結(jié)束後，關(guān)閉儀器電源。

一、 菜單操作

在測量狀態(tài)，通過確定鍵可以進入功能菜單，如圖1。

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進入保存數(shù)據(jù)頁麵，保存數(shù)據(jù)時，可以根據(jù)設(shè)備進行編號。

設(shè)備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號後，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進入查看記錄頁麵。

顯示時從後一個被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。算法的原理很簡單：如果個子幀的某個像素飽和了，算法就會從下一個子幀選擇相應(yīng)的像素。如果該像素符合要求，算法就停止運作，否則它會挑選下一個子幀中合適的像素，以此類推。所有像素值都轉(zhuǎn)換為終的超幀圖像的溫度或輻射單位。用兩幅曝光時間為2毫秒和30微秒的比奇空中霸王雙螺旋槳飛機圖像展現(xiàn)了超幀技術(shù)。這些圖像是采用高性能中波紅外（MWIR）熱像儀係統(tǒng)FLIRSC7000以每秒170幀、640512像素的全幀尺寸拍攝。

3、刪除記錄

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時間

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進入修改時間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。

輸入小時、分鐘、秒後，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個修改域內(nèi)。

 PID（PotentianInducedDegradation）是一種電勢誘導(dǎo)衰減現(xiàn)象，是指組件長期在高電壓下使得玻璃，封裝材料之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池表麵。使得電池表麵的鈍化效果惡化，導(dǎo)致填充因子（FF），短路電流（Isc），開路電壓（Voc）降低，使得組件的性能低於設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)，發(fā)電能力也隨之下降。2010年，NREL和Solon證實了無論組件采取何種技術(shù)的P型晶矽電池，組件在負偏壓下都有PID的風(fēng)險。