HNZDL係列可編程直流恒流大電流電源 程控大功率交流電源 5年保修 變頻加熱電源 直流脈衝穩(wěn)壓穩(wěn)流電源

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059
輸入電壓：AC380V±10℅,50Hz
輸出電壓：0-6000V可調(diào)輸出 或 固定輸出 根據(jù)客戶要求
輸出電流：0-100KA可調(diào)輸出 

電力電子工程師習(xí)慣了從客戶那裡聽取意見，他們也會儘力量去滿足那些要求，力圖在的空間和預(yù)算範(fàn)圍內(nèi)進(jìn)行係統(tǒng)設(shè)計。在進(jìn)行LED驅(qū)動器設(shè)計時也不例外，事實上它麵對更大的預(yù)算壓力，因為傳統(tǒng)的照明技術(shù)已經(jīng)完全實現(xiàn)了商品化，其價格已經(jīng)非常低廉。所以，花好預(yù)算下的每一分錢都非常重要，這也是一些電力電子設(shè)計師工程師被老習(xí)慣“引入歧途”的地方。要將LED電流的度控製到與數(shù)位負(fù)載的供電電壓的精度相同，則會既浪費電，又浪費錢。
高精度直流恒流源內(nèi)部采用PWM高頻開關(guān)電源ZVZCS軟開關(guān)變換工作原理，采用進(jìn)口IG模塊?？烧{(diào)直流恒流電源具體能、高精度、 高穩(wěn)定性等特性，優(yōu)化於線性電源和矽整流電源的率，產(chǎn)品更加節(jié)能主要應(yīng)用於科研單位、實驗室和電子產(chǎn)線等需要精密電源測試時使用。直流恒流電源電流值從零至額定值連續(xù)可調(diào)，在額定範(fàn)圍內(nèi)任意選擇且限製保護(hù)點。開路電壓、電流同時 LED 數(shù)碼管顯示。本機(jī)工作狀態(tài)下允許長時間短路

目前常用的方法是使用雙狄拉克模型。該模型假定概率密度函數(shù)兩側(cè)的尾部是服從高斯分布的，高斯分布很容易模擬，並且可以向下推算出較低的概率分布。總抖動是RJ和DJ概率密度函數(shù)的卷積。業(yè)界對於高斯分布能否地描繪隨機(jī)抖動直方圖的尾部還存在爭議。真正的隨機(jī)抖動是遵守高斯分布的，但實際的測量中多個低幅度的DJ會卷積到一個分布函數(shù)，這導(dǎo)致測量出的概率密度分布的中心接近高斯分布，而尾部卻夾雜了一些DJ。

半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機(jī)臺上，由WATRecipe自動控製測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

保護(hù)功能：過壓保護(hù)、過流保護(hù)、過溫保護(hù)、欠壓保護(hù)、過載保護(hù)；
短路特性：本機(jī)工作狀態(tài)下長時間短路；
外接補(bǔ)償：本機(jī)可選外接補(bǔ)償，可降低因輸出回路較長造成的電壓壓降；
過壓過流保護(hù)值：輸出過壓過流保護(hù)值可調(diào)，保護(hù)後切斷輸出並鎖定，重新開機(jī)恢複；
通信功能：可選RS485/RS232通信數(shù)據(jù)接口，與計算機(jī)數(shù)據(jù)連接控製，或與PLC連接。

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