HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
生產(chǎn)廠家 衝擊電壓發(fā)生裝置 油浸式試驗變壓器 匝間衝擊耐壓試驗儀產(chǎn)品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設備等試品進行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗，檢驗絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質衝擊擊穿、放電等試驗中。

正確選擇電源的集成電路(IC)表麵上看似易如反掌。然而，隨著需要多電源電壓軌的消費類電子產(chǎn)品的推出，這項工作變得愈發(fā)複雜。當選擇實際工作中所需的IC時，必須考慮成本、解決方案的外形尺寸、電源、占空比以及所需的輸出功率等諸多因素。另外，必須根據(jù)重要性和相應選擇的電源，對這些因素進行排序。在本文中，我們將確定所示電源的解決方案。示例應用中采用的是便攜式電源，同時要求程度地降低功耗以及減小封裝尺寸、並由一塊單體鋰離子電池供電(12V供電電源對其進行不間斷充電)。

衝擊測試係統(tǒng)係應用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關的標準規(guī)範執(zhí)行全波（full）或截斷（chopped） 的閃電突波（L.I）

因為探測器口的位置及擋板的設置是固定的，而不同的反射分布直接表現(xiàn)為信號起伏。在普通的測量係統(tǒng)中，不同的正向發(fā)散角的LE同一LED不同的放置方向、同一方向不同位置等差異，即使光通量是一致，表現(xiàn)出來的測量值也表現(xiàn)出的差。根據(jù)客戶的驗證結果，普通LED測量係統(tǒng)LED的放置方向對光通量測量結果的影響往往超過50%(這一點尤其在國產(chǎn)設備上表現(xiàn)特彆明顯)。在測量不同LED不同發(fā)光角度時，由於在積分球內表麵的分布差異使得直接反射的分布對探測器的影響也不同，從而直接影響到兩者測量的準確性的差異。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動或自動完成充放電過程，真正實現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗要求，調節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間，能夠手動或者自動控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控製方式充電時，根據(jù)設定值，自動充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動作控製

本體球距大小能夠自動跟蹤設定充電電壓值，也可手動控製調節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設定充電電壓值，也可手動控製調節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設定等功能。

手動/自動控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時

熱像儀每秒記錄一次溫度。數(shù)據(jù)圖形是圖像中所有像素的平均值。數(shù)據(jù)直方圖雖然顯示得更清楚，但大部分的數(shù)據(jù)點都位於36.8?C至37?C之間。記錄的寬溫度範圍是從36.6?C至37.2?C。我們來看下這個數(shù)據(jù)，所有像素平均值的預期精度可能達到0.5?C。有些人可能甚至會聲稱FLIRA325sc等使用相同探測器的其他熱像儀的精度為±1?C。不過，也有些人可能會辯稱，上麵圖形顯示的是所有像素的平均值，可能並不能代表個彆的像素。