HN7062A變壓器損耗參數(shù)測(cè)試儀 (容量，空負(fù)載測(cè)試儀 ）變壓器容量及損耗測(cè)試儀 變壓器損耗參數(shù)測(cè)試儀 華能牌 可定製

設(shè)備相當(dāng)於四種設(shè)備：有源變壓器容量測(cè)試儀 +變壓器損耗參數(shù)測(cè)試儀 +諧波儀 +示波器。它可對(duì)變壓器的容量、空載電流、空載損耗、短路損耗、阻抗電壓等一係列工頻參數(shù)進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)量，並能測(cè)量空負(fù)載試驗(yàn)時(shí)的電壓、電流失真度和諧波含量，還可以進(jìn)行矢量。它以大屏幕彩色液晶作為顯示窗口，菜單操作並配有漢字提示，集多參量於一屏的顯示界麵，人機(jī)對(duì)話(huà)界麵友好，使用簡(jiǎn)便、快捷，是各級(jí)電力用戶(hù)的采購(gòu)產(chǎn)品。一個(gè)是測(cè)量室，一個(gè)是參比室。兩室通過(guò)切光板以一定周期同時(shí)或交替開(kāi)閉光路。在測(cè)量室中導(dǎo)入被測(cè)氣體後，具有被測(cè)氣體特有波長(zhǎng)的光被吸收，從而使透過(guò)測(cè)量室這一光路而進(jìn)入紅外線(xiàn)接收氣室的光通量減少。氣體濃度越高，進(jìn)入到紅外線(xiàn)接收氣室的光通量就越少；而透過(guò)參比室的光通量是一定的，進(jìn)入到紅外線(xiàn)接收氣室的光通量也一定。被測(cè)氣體濃度越高，透過(guò)測(cè)量室和參比室的光通量差值就越大。這個(gè)光通量差值是以一定周期振動(dòng)的振幅投射到紅外線(xiàn)接收氣室的。

主菜單共有五個(gè)可選項(xiàng)，分彆為：容量測(cè)試、負(fù)載測(cè)試、空載測(cè)試、曆史數(shù)據(jù)。需要選擇就用手觸摸相應(yīng)的圖標(biāo)，下端顯示當(dāng)前的日期時(shí)間、內(nèi)部電池的電壓幅值和剩餘電量百分比，從而可以及時(shí)掌握儀器的電池電量情況，了解儀器是否要充電避免冇有及時(shí)充電而在現(xiàn)場(chǎng)無(wú)法正常工作的情況。濾波器是通用的無(wú)源、線(xiàn)性、兩端口器件，通常采用掃頻傳輸/反射測(cè)試技術(shù)來(lái)完整的表征他的特性。雖然濾波器是一種簡(jiǎn)單的電氣元件，但是它的特性在元件測(cè)試係統(tǒng)中的地位是很重要的。此案例是測(cè)試一個(gè)低通濾波器，要求它對(duì)於帶寬內(nèi)的信號(hào)具有的損耗和失真，而對(duì)寬帶之外的信號(hào)具有的。為了地測(cè)試這些特性,要求測(cè)量係統(tǒng)的頻率和功率電平在很寬的範(fàn)圍內(nèi)都要非常。用GA4063可以對(duì)測(cè)試濾波器做簡(jiǎn)單的定性，測(cè)試方法和實(shí)測(cè)效果如下圖所示。

各功能選項(xiàng)的用途分彆為：

容量測(cè)試：用來(lái)測(cè)量變壓器的容量值。

負(fù)載測(cè)試：使用外接的三相電源進(jìn)行變壓器的負(fù)載測(cè)試

空載測(cè)試：使用外接的三相電源進(jìn)行變壓器的空載試驗(yàn)。

曆史數(shù)據(jù)：查看已保存的測(cè)試結(jié)果記錄。

係統(tǒng)設(shè)置：設(shè)置儀器的參數(shù)，及廠(chǎng)家出廠(chǎng)調(diào)

下麵介紹每個(gè)界麵的操作方法和儀器接線(xiàn)方法

1、 容量測(cè)試界麵近日，“-希臘激光技術(shù)聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室”在故宮啟動(dòng)並舉行揭牌儀式?；顒?dòng)當(dāng)日，故宮對(duì)外展示了五個(gè)儀器——大樣品室環(huán)境掃描電子顯微鏡、粉末X射線(xiàn)衍射儀、波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀、能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀和顯微共聚焦激光拉曼光譜儀。故宮博物院作為明清兩朝皇宮，無(wú)數(shù)的奇珍異寶彙聚其中，很多館藏都曆經(jīng)了數(shù)百年乃至上千年的滄桑，對(duì)於的保養(yǎng)修複似乎是一個(gè)永遠(yuǎn)說(shuō)不儘的話(huà)題。近日，“-希臘激光技術(shù)聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室”在故宮啟動(dòng)並舉行揭牌儀式。

1）實(shí)驗(yàn)接線(xiàn)方法

容量測(cè)試儀配有三把測(cè)試鉗（黃、綠、紅），每隻鉗子分彆引出兩根測(cè)試線(xiàn)，一根粗線(xiàn)、一根細(xì)線(xiàn)，粗線(xiàn)接到儀器麵板上容量測(cè)試端子對(duì)應(yīng)顏色的電流端子（Ia、Ib、Ic），細(xì)線(xiàn)接到儀器麵板上容量測(cè)試端子對(duì)應(yīng)顏色的電壓端子（Ua、Ub、Uc），將鉗頭按顏色分彆夾在被試變壓器的高壓側(cè)各相接線(xiàn)柱上，變壓器的低壓側(cè)要用短接線(xiàn)良好短接。

2）界麵操作

容量測(cè)試設(shè)置界麵如圖，項(xiàng)目有：一次電壓，二次電壓，變壓器類(lèi)型，阻抗電壓，當(dāng)前溫度，矯正溫度，連接組彆，標(biāo)稱(chēng)容量，變壓器編號(hào)，測(cè)試人員。點(diǎn)擊確定開(kāi)始測(cè)試。點(diǎn)擊返回，返回主界麵

各項(xiàng)參數(shù)的含義和作用如下：熱成像通過(guò)檢測(cè)人表麵的熱輻射進(jìn)行測(cè)溫，基於測(cè)溫大數(shù)據(jù)，通過(guò)測(cè)溫算法映射為內(nèi)部溫度。紅外測(cè)溫如何築起防疫的道防線(xiàn)？毒2019-nCoV的癥狀為發(fā)熱、乾咳、呼吸急促及呼吸困難。溫度升高或發(fā)熱通常是許多嚴(yán)重傳染的可靠預(yù)示。紅外熱成像能夠幫助檢測(cè)表示可能存在發(fā)熱癥狀的體溫升高，還能用作輔助診斷工具，幫助檢測(cè)可能發(fā)熱的人或限製毒性的傳播，如禽流感和豬流感，或感染，如非典型肺炎。

一次電壓：變壓器高壓測(cè)電壓值，指被試變壓器施壓側(cè)的額定電壓值。用於區(qū)彆不同電壓等級(jí)的變壓器；相同容量、不同電壓等級(jí)變壓器的短路試驗(yàn)參數(shù)值是不同的；要做到準(zhǔn)確判斷，就必須輸入被試變壓器的高壓側(cè)額定電壓。點(diǎn)擊黃色輸入框，儀器彈出數(shù)字鍵盤(pán)，輸入一次電壓值，默認(rèn)為10KV。半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓製造，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝後測(cè)試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過(guò)電性參數(shù)來(lái)監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠(chǎng)出貨到封測(cè)廠(chǎng)的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控製測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey後，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。

二次電壓：變壓器低壓測(cè)電壓值，點(diǎn)擊黃色輸入框，儀器彈出數(shù)字鍵盤(pán)，輸入二次電壓值，默認(rèn)為0.4KV。變壓器類(lèi)型：指變壓器的不同類(lèi)型。（不是變壓器形式），主要有8中類(lèi)型，1油式無(wú)勵(lì)磁調(diào)壓配電，2油式無(wú)勵(lì)磁調(diào)壓電力，3油式有載調(diào)壓配電，4油式有載調(diào)壓電力，5乾式無(wú)勵(lì)磁調(diào)壓配電，6乾式無(wú)勵(lì)磁調(diào)壓電力，7乾式有載調(diào)壓配電，8乾式有載調(diào)壓電力。點(diǎn)擊黃色輸入框，出現(xiàn)下拉菜單，選擇點(diǎn)擊相應(yīng)的變壓器類(lèi)型。默認(rèn)為類(lèi)型1(即1油式無(wú)勵(lì)磁調(diào)壓配電)。

4151調(diào)製域儀具有的時(shí)間間隔測(cè)量功能及應(yīng)用演示如下：正時(shí)間間隔測(cè)量。4151調(diào)製域儀提供的正時(shí)間間隔測(cè)量功能，既可以實(shí)現(xiàn)單通道的連續(xù)周期測(cè)試，也可以實(shí)現(xiàn)雙通道之間的相對(duì)時(shí)間間隔測(cè)試，雙通道時(shí)間間隔測(cè)量需設(shè)置相對(duì)關(guān)係，AB或BA的正時(shí)間間隔測(cè)量。4151調(diào)製域儀正時(shí)間間隔的測(cè)量範(fàn)圍為4ns~8s，時(shí)間測(cè)量分辨率為5ps。正時(shí)間間隔測(cè)量演示上圖是用Tek公司的任意波形發(fā)生模擬了雷達(dá)發(fā)射與接收脈衝信號(hào)的正時(shí)間間隔測(cè)試結(jié)果，B通道輸入脈衝信號(hào)的周期為1us，相對(duì)延遲時(shí)間為ns。