安規(guī)測(cè)試儀檢定裝置有以下幾種 接地電阻表校驗(yàn)裝置 耐電壓測(cè)試儀檢定裝置 HN係列 接地導(dǎo)通測(cè)試儀檢定裝置 廠家供應(yīng)

HN8061A

依據(jù)JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規(guī)程》,用於檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10T斜視角的熱像儀係統(tǒng)（記錄高分辨率三維圖像）通常用於勘查城市地區(qū)以及從空中獲取地理數(shù)據(jù)。直到217年，這些係統(tǒng)都未能記錄3D熱圖像。為了滿足這一需求，德國(guó)德紹的安哈爾特應(yīng)用科學(xué)大學(xué)的一個(gè)研究小組開發(fā)了一種熱成像/RGB係統(tǒng)，該係統(tǒng)通過(guò)重疊使用四臺(tái)數(shù)字?jǐn)z像機(jī)和四臺(tái)FLIRA65sc紅外熱像儀采用25°視場(chǎng)拍攝的圖像，生成三維圖像。FLIRA65sc熱成像溫度傳感器。安哈爾特應(yīng)用科學(xué)大學(xué)的地理信息與測(cè)量研究所的其中一個(gè)項(xiàng)目包括開發(fā)一種新型熱成像和RGB攝像機(jī)係統(tǒng)，該係統(tǒng)通過(guò)重疊使用八臺(tái)攝像機(jī)從旋翼機(jī)拍攝的圖片來(lái)生成三維圖像。16年4月，負(fù)責(zé)研究所的地理數(shù)據(jù)采集和傳感技術(shù)部門的LutzBannehr教授提出了這個(gè)想法。雖然具有極高分辨率的3D攝像機(jī)係統(tǒng)（稱為RGB斜視角攝像機(jī)係統(tǒng)）可用，但這些係統(tǒng)都不能提供熱數(shù)據(jù)提供的優(yōu)勢(shì)。Bannehr教授在熱成像領(lǐng)域擁有豐富的經(jīng)驗(yàn)，他於21年購(gòu)買了FLIRSC3製冷型紅外熱像儀，並參加了熱成像培訓(xùn)。他確信使用非製冷型紅外熱像儀的解決方案也是可行的。紅外熱像儀有許多潛在用途，包括：收集庫(kù)存數(shù)據(jù)、監(jiān)視、露天采礦作業(yè)中的體積監(jiān)測(cè)、森林火災(zāi)監(jiān)測(cè)、絕緣、光伏和太陽(yáng)能供熱係統(tǒng)的產(chǎn)量估算、環(huán)境監(jiān)測(cè)、地質(zhì)和地形成像，甚至用於生成數(shù)字城市模型。

HN8062A接地電阻表校驗(yàn)裝置

用於檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規(guī)程》所適用的我目前生產(chǎn)的型號(hào)的模擬式、數(shù)字式接地電阻表以及進(jìn)口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調(diào)節(jié)範(fàn)圍寬，使用方便，造型美觀等優(yōu)點(diǎn)。我們把積分時(shí)間這個(gè)術(shù)語(yǔ)定義為熱像儀內(nèi)部熱成像探測(cè)器生成一個(gè)單幀的曝光時(shí)間。以較長(zhǎng)的曝光時(shí)間來(lái)操作熱像儀能夠提高靈敏度，但與此同時(shí)，這也限製了熱像儀的測(cè)溫範(fàn)圍：高溫物體如此明亮，以至於它們超出了熱像儀的規(guī)定測(cè)溫範(fàn)圍。如果一個(gè)場(chǎng)景或一組連續(xù)鏡頭包含需要同時(shí)測(cè)量的溫差，熱像儀的曝光時(shí)間應(yīng)大大縮短。但由於超出了規(guī)定的測(cè)溫範(fàn)圍，這種縮短本身會(huì)造成場(chǎng)景較冷區(qū)域溫差測(cè)量的能力下降，導(dǎo)致這些區(qū)域在屏幕上顯示為黑色或噪點(diǎn)，如至4所示。

HN8063A耐電壓測(cè)試儀校驗(yàn)裝置

1、測(cè)量準(zhǔn)度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準(zhǔn)度：1級(jí)  0.5級(jí)  0.2級(jí)老化測(cè)試是產(chǎn)品生產(chǎn)中的環(huán)節(jié)，對(duì)於CAN通信設(shè)備如何進(jìn)行批量的老化測(cè)試呢？本文將從成本及方案優(yōu)化兩方麵簡(jiǎn)述測(cè)試方法。什麼是老化測(cè)試?yán)匣瘻y(cè)試是將產(chǎn)品置於實(shí)際使用環(huán)境中評(píng)測(cè)其使用壽命、穩(wěn)定性等指標(biāo)的一種測(cè)試方式。比如對(duì)塑膠材料製品，常使用光照老化、濕熱老化、熱風(fēng)老化。對(duì)於電子設(shè)備的老化測(cè)試，除了以上材料老化測(cè)試還經(jīng)常需要上電測(cè)試，以此來(lái)考驗(yàn)產(chǎn)品的穩(wěn)定性。老化測(cè)試通常在的老化室中進(jìn)行。老化室CAN通訊設(shè)備老化測(cè)試對(duì)於CAN通信設(shè)備的老化測(cè)試，主要是功能性老化測(cè)試。

HN8065A型泄漏電流測(cè)試儀檢定裝置

一、性能特點(diǎn)

1、源、表測(cè)量範(fàn)圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計(jì)：10-100Hz普通模式普通模式是常見，示波器一般工作在此模式下，其特點(diǎn)如下：采樣是分次且立的，采樣之間存在死區(qū)，可設(shè)置觸發(fā)條件，波形在采樣完成後輸出，對(duì)於周期信號(hào)一般可以穩(wěn)定顯示。優(yōu)點(diǎn)：適用於觀察周期性信號(hào)，眼圖，低概率的異常信號(hào)，可對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行強(qiáng)大的處理，如測(cè)量、搜索、等如.1所示。缺點(diǎn)：采樣之間有死區(qū)，會(huì)丟失一定的數(shù)據(jù)，有時(shí)可能是致命的。當(dāng)水平時(shí)基較大時(shí)，波形刷新較慢，因?yàn)椴蓸訒r(shí)間變長(zhǎng)了。.1大時(shí)基模式大時(shí)基模式與普通模式大同小異，區(qū)彆僅在於波形在觸發(fā)後開始輸出，在結(jié)束前邊采樣邊輸出。

HN8066A型接地導(dǎo)通電阻測(cè)試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續(xù)帶電可調(diào)。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。對(duì)於產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中引用標(biāo)準(zhǔn)的變更，實(shí)驗(yàn)室更應(yīng)關(guān)注，以免采用作廢標(biāo)準(zhǔn)開展檢驗(yàn)而造成檢驗(yàn)結(jié)果的誤判和可能帶來(lái)的檢驗(yàn)風(fēng)險(xiǎn)。亂用CNAS、CMCAL標(biāo)識(shí)很多實(shí)驗(yàn)室通過(guò)了CNAS認(rèn)可，也通過(guò)了實(shí)驗(yàn)室資質(zhì)認(rèn)定，而這兩個(gè)認(rèn)可不在同一時(shí)間進(jìn)行認(rèn)可，當(dāng)申請(qǐng)擴(kuò)項(xiàng)或標(biāo)準(zhǔn)變更時(shí)，往往是一個(gè)通過(guò)了，而另一個(gè)還要過(guò)段時(shí)間才認(rèn)可。有部分實(shí)驗(yàn)室尤其是部分中小實(shí)驗(yàn)室，取得能力範(fàn)圍以CMA和CAL為主，CNAS的能力範(fàn)圍很小，而檢驗(yàn)報(bào)告的封麵一般是將幾個(gè)檢測(cè)標(biāo)識(shí)均直接印在封麵上，這使得實(shí)驗(yàn)室誤用標(biāo)識(shí)。

HN8068A型回路電阻測(cè)試儀，直流電阻測(cè)試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調(diào)。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。

接地電阻表校驗(yàn)裝置 耐電壓測(cè)試儀檢定裝置 HN係列 接地導(dǎo)通測(cè)試儀檢定裝置 廠家供應(yīng)關(guān)於MOSFET很多人都不甚理解，這次小編再帶大家仔細(xì)梳理一下，也許對(duì)於您的知識(shí)係統(tǒng)更加。下麵是對(duì)MOSFET及MOSFET驅(qū)動(dòng)電路基礎(chǔ)的一點(diǎn)總結(jié)，其中參考了一些資料。在使用MOS管設(shè)計(jì)開關(guān)電源或者馬達(dá)驅(qū)動(dòng)電路的時(shí)候，大部分人都會(huì)考慮MOS的導(dǎo)通電阻，電壓等，電流等，也有很多人僅僅考慮這些因素。這樣的電路也許是可以工作的，但並不是的，作為正式的產(chǎn)品設(shè)計(jì)也是不允許的。