半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓製造，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝後測(cè)試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過(guò)電性參數(shù)來(lái)監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控製測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey後，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。
KX303A熱繼電器校驗(yàn)儀/電動(dòng)機(jī)保護(hù)器校驗(yàn)儀

功能簡(jiǎn)介：

適用於單相、三相熱繼電器及有源或無(wú)源電動(dòng)機(jī)保護(hù)器的過(guò)壓、過(guò)流、缺相、不平衡、堵轉(zhuǎn)及時(shí)間測(cè)試,還可測(cè)試電流繼電器的動(dòng)作電流及額定電流的動(dòng)作時(shí)間。

技術(shù)參數(shù)：

可長(zhǎng)時(shí)間輸出0～50A或0～500A電流

三相電流可均衡輸出，具有細(xì)調(diào)功能

常開(kāi)、常閉接點(diǎn)自動(dòng)識(shí)彆

可同時(shí)串接若乾隻校驗(yàn)，提高工作效率

2、主要技術(shù)指標(biāo)

電源輸入：AC  380/220V  50Hz  三相四線

儀表等級(jí)：0.2級(jí)

輸出電流：3×50A或3×500A

時(shí)間測(cè)試：0.001S-999.999S青島KX303A單相熱繼電器校驗(yàn)儀 5年保修當(dāng)然這種方法也會(huì)更加準(zhǔn)確一些，無(wú)論是找人，還是對(duì)中。後，人與人可以試試在一起，判斷彼此性格以及其他是不是合適，這個(gè)就與對(duì)中法非常接近了。對(duì)中法也需要數(shù)據(jù)，電腦進(jìn)行運(yùn)算，同樣，判斷對(duì)方是不是良人，也需要很多數(shù)據(jù)，用大腦去思考對(duì)錯(cuò)。雖然在效率上冇有特彆的優(yōu)勢(shì)，但是準(zhǔn)確性十分高。同時(shí)呢，這樣的方法可以降低能耗，提高生產(chǎn)率；就像用心感受出來(lái)的人才能更幸福的走向未來(lái)。下麵是解開(kāi)這個(gè)高大上的對(duì)中法。

使用說(shuō)明：  

選用足夠**載流量的電源線接通容量足夠的220V電源，把各功能開(kāi)關(guān)選到需要位置，輸出調(diào)節(jié)手輪旋轉(zhuǎn)至零位，即可接被測(cè)器件，儀器即可開(kāi)始工作。當(dāng)輸出電流較大時(shí)，應(yīng)選用內(nèi)阻較小的電源，若電源內(nèi)阻過(guò)大，輸出電流不易升到設(shè)定值。

  1、測(cè)試熱繼電器

測(cè)試時(shí)應(yīng)蓋好熱繼電器蓋，小電流值熱繼電器用小電流檔位,把三個(gè)熱元件串接後，再接在相應(yīng)的測(cè)試柱上，常閉點(diǎn)接輔助接點(diǎn)柱上，量程轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)選至適當(dāng)電流檔位，輸出調(diào)節(jié)手輪置零位，自鎖開(kāi)關(guān)斷開(kāi)，檢查各接線端柱接觸應(yīng)良好，打開(kāi)電源開(kāi)關(guān),按啟動(dòng)鈕，測(cè)試電源接通,旋轉(zhuǎn)輸出調(diào)節(jié)手輪至被測(cè)熱繼電器額定電流，使雙金屬片達(dá)到熱穩(wěn)定狀態(tài)，以此穩(wěn)定熱態(tài)再旋轉(zhuǎn)輸出調(diào)節(jié)手輪使測(cè)試電流到額定電流的1.2 倍，計(jì)時(shí)從零開(kāi)始，進(jìn)入測(cè)試階段，規(guī)定時(shí)間內(nèi)，熱繼電器應(yīng)脫扣為合格一項(xiàng)，熱繼電器接點(diǎn)斷開(kāi)，測(cè)試電流消失，計(jì)時(shí)停止，並顯示測(cè)驗(yàn)時(shí)間，測(cè)試終了信號(hào)由燈光和聲響給出，當(dāng)要停止信號(hào)時(shí)可按關(guān)斷聲光開(kāi)關(guān)。     

當(dāng)測(cè)試額定 時(shí)，一般按規(guī)程應(yīng)從熱元件冷態(tài)開(kāi)始。熱繼電器的其它參數(shù)整定請(qǐng)參閱有關(guān)規(guī)程進(jìn)行,也可按被保護(hù)的電動(dòng)機(jī)負(fù)荷情況選定熱繼電器的安—秒脫扣特性。在時(shí)域，當(dāng)有快沿階躍信號(hào)輸入時(shí)，平坦頻率響應(yīng)示波器會(huì)使脈衝產(chǎn)生過(guò)衝和振鈴，我們知道過(guò)衝和振鈴是示波器的響應(yīng)，但這種情況，隻有在信號(hào)上升時(shí)間很快，遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)示波器可測(cè)量範(fàn)圍時(shí)，才會(huì)產(chǎn)生。在這種情況下，使用更高帶寬的示波器，否則測(cè)量誤差會(huì)很大。與高斯係統(tǒng)不同，平坦頻響示波器的係統(tǒng)帶寬不能由其子係統(tǒng)部件的RMS值確定。用於高斯響應(yīng)示波器係統(tǒng)的帶寬和上升時(shí)間公式不適用於平坦響應(yīng)示波器係統(tǒng)，而需要示波器廠商提供示波器係統(tǒng)帶寬，即由示波器/及其前端附件構(gòu)成組合的帶寬。

2、測(cè)電動(dòng)機(jī)保護(hù)器

在測(cè)試前要仔細(xì)檢查各活動(dòng)部位，是否鏽蝕、卡住，活動(dòng)軸應(yīng)有少量潤(rùn)滑油脂才好，試合閘後，人工觸動(dòng)熱脫扣，瞬時(shí)間脫扣無(wú)誤後再進(jìn)行檢測(cè)。

電動(dòng)機(jī)保護(hù)器有輔助接點(diǎn)的同熱繼電器接法相同，測(cè)完斷開(kāi)時(shí)，其信號(hào)由關(guān)斷裝置的傳感器送來(lái)，關(guān)斷測(cè)試電源，並顯示測(cè)驗(yàn)時(shí)間，發(fā)出測(cè)試完畢信號(hào)。紅外熱成像儀通過(guò)熱成像鏡頭將物體的紅外輻射投射紅外探測(cè)器上，紅外探測(cè)器再將強(qiáng)弱不等的輻射信號(hào)轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的電信號(hào)，經(jīng)過(guò)放大和處理，形成可供人眼觀察的圖像。(光譜圖)在完全漆黑的環(huán)境及天氣條件下進(jìn)行觀測(cè)的新型工具，通過(guò)使用紅外熱像儀"看清"物體散發(fā)出的熱能。紅外熱像儀可生成可見(jiàn)紅外線或"熱"輻射圖像。根據(jù)物體間的溫差生成清晰的圖像，即使的細(xì)節(jié)也能纖毫畢現(xiàn)，實(shí)現(xiàn)晝夜工作。紅外熱成像儀的優(yōu)勢(shì)：1.全天候工作，無(wú)需光源，不怕強(qiáng)光。