相位噪聲指標對於當前的射頻微波係統(tǒng)、移動通信係統(tǒng)、雷達係統(tǒng)等電子係統(tǒng)影響非常明顯，將直接影響係統(tǒng)指標的優(yōu)劣。該項指標對於係統(tǒng)的研發(fā)、設計均具有指導意義。相位噪聲指標的測試手段很多，如何能夠的測量該指標是射頻微波領域的一項重要任務。隨著當前接收機相位噪聲指標越來越高，相應的測試技術和測試手段也有了很大的進步。同時，與相位噪聲測試相關的其他測試需求也越來越多，如何準確的進行這些指標的測試也愈發(fā)重要。
HN7010A係列直流電阻測試儀常州 三通道直流電阻測試儀 價格 絕緣油色譜儀可定製
產(chǎn)品概述

變壓器的直流電阻是變壓器製造中半成品、成品出廠試驗、安裝、交接試驗及電力部門預防性試驗的必測項目，能有效發(fā)現(xiàn)變壓器線圈的選材、焊接、連接部位鬆動、缺股、斷線等製造缺陷和運行後存在的隱患。

二、功能特點

l 對星型接法有中性點引出的繞組測試時，儀器可以采取三相同時測量的方式測試A0、B0、C0相的直流電阻，大大節(jié)省測試時間；

l 顯示、打印變壓器的高中低壓繞組的測試數(shù)據(jù)，並自動計算出三相不平衡率；

l 具有完善的反電勢保護功能；

GB/T12325-2008《V錐流量計》中規(guī)定：電能質量儀的35kV及以上供電電壓正、負偏差值之和不超過標稱電壓的10%；20kV及以下三相供電電壓允許偏差為標稱電壓的土7%；220V單相供電電壓允許偏差為標稱電壓的+7%，－10%。三相電壓不平衡GB/T15543-2008《電能質量三相電壓不平衡》中規(guī)定：電力係統(tǒng)公共連接點電壓不平衡度限值為：電網(wǎng)正常運行時，負序電壓不平衡度不超過2%，短時不得超過4%；低壓係統(tǒng)零序電壓限值暫不做規(guī)定，但各相電壓必須滿足GB/T12325的要求。

三、技術參數(shù)

輸出電流   三相測試：2*10A、2*5A、2*2A

單相測試：20A、10A、2A

測試範圍   2*10A：500μΩ～500mΩ

2*5A： 1mΩ～1Ω

2*2A： 2.5mΩ～2.5Ω

20A：  250μΩ～1Ω

10A：  500μΩ～2Ω

2A：   2.5mΩ～10Ω

分 辨 率   0.1μΩ

測量精度   ±(0.2%讀數(shù)+2字)

外形尺寸   420mm×250mm×340mm

儀器重量   15kg但同時，這種短路保護帶有局限性，在線纜、熔斷器和斷路器的測試時，會由於電源的主動保護而無法進行。為解決此問題，全天科技可編程直流電源引入壓模式，可正常進行線纜、熔斷器和斷路器測試，如線纜內阻、熔斷器熔斷時間。設置方式：按下前麵板[Menu]鍵，進入主界麵，選擇2.OUTPUTSETTING；選擇5.ADVANCEDFUNC，進入功能菜單；選擇3.SHORTMODE，進入壓模式的設置；該項默認的設置為ON，若用戶有線纜或者斷路器測試的需求，將此選項設定為OFF後便可正常進行。

麵板介紹

1.IA、IB、IC、Io：電流輸出接線柱；

2.UA、UB、UC、Uo：電壓輸入接線柱；

3.電源開關：儀器的電源開關及；

4.接 地 柱：儀器**接地；

5.打 印 機：打印測試數(shù)據(jù)；

6.液 晶 屏：顯示測試數(shù)據(jù)，操作提示功能；

7.鍵    盤：『返回』對應的返回上一層菜單功能；

『確定』對應光標按鈕的執(zhí)行功能；

『存儲』對應測試項目的數(shù)據(jù)存儲；

『選擇』對應光標選擇菜單功能；

HIL測試一大部分是真實模擬切換和故障注入。真實模擬切換意味著每個I/O點必須能夠在模擬的模型驅動信號和真實的組件（執(zhí)行器、傳感器、控製器等）之間進行物理切換。故障注入開關需要注入故障（開路、斷路、引腳短路、反極性、短接地、與軌道短路、相鄰信號短路）來確保被測設備反應適當。這些需求意味著需要大量的開關，每一個簡單的2線模擬信號可能需要6-12個繼電器，以確保能夠排除故障和真實模擬連接的所有交換。

六、儀器接線

6.1將電源線把儀器與外部AC220V電源連接，將接地端子與大地連接。

6.2然後依次將接線端子的四個測試鉗（黃綠紅黑）分彆接到變壓器高壓側的A、B、C、O。也可以將接線端子的四個測試鉗（黃綠紅黑）分彆接到變壓器低壓側的a、b、c、o，如果隻有三個套管，可以不接黑色測試鉗，但這種情況不可以選擇三相同時測量和單相電阻測量，隻能選擇單線電阻測量且不用再移動測試鉗。

6.3當選擇單相電阻測試時必須接黑色的測試鉗，當選擇單線電阻測試時，需注意所選的測試方式與所夾的測試鉗要一一對應。

6.4單相變壓器使用時將接線端子黃色和黑色的測試鉗接到單相變壓器的高壓側或低壓側，選擇單相電阻測試方式測量即可。

6.5儀器配套的測試線已經(jīng)將電流、電壓線設計到同一測試鉗口上，接線簡單方便毋庸置疑，這種運營方式代價高昂，更不必說這絕不可能是無懈可擊的全天候控製過程。多年來，采礦工業(yè)極為關心泄漏和水資源管理對環(huán)境的影響，並且一直在積極尋求改進監(jiān)控方法?！笨紤]到這些需求，IntelliView開發(fā)出一種行之有效的、能在數(shù)秒鐘之內檢測和報警小規(guī)模地上液體泄漏、噴射和彙聚成池的方法。IntelliView的泄漏檢測解決方案采用新一代稱之為DCAM?(雙攝像頭模塊)的產(chǎn)品，一款將可見光相機和FLIR熱像儀與內置型泄漏技術集於一體的緊湊型產(chǎn)品。18年1月3日，NI(美國儀器，NationalInstruments,簡稱NI)作為致力於為工程師和科學家提供基於平臺的係統(tǒng)解決方案來應對嚴峻工程挑戰(zhàn)的供應商，宣布推出PXIe-4163高密度源測量單元(SMU)，該測量單元提供了比以往NIPXISMU高達6倍的直流通道密度，適用於測試RMEMS以及混合信號和其他模擬半導體元件。NI銷售和市場執(zhí)行副總裁EricStarkloff表示：“5物聯(lián)網(wǎng)和自動駕駛汽車等性的技術發(fā)展給半導體企業(yè)帶來持續(xù)的壓力。