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所以一定要保持一定的半徑,使在纖芯裡傳輸時,避免產(chǎn)生一些不必要的損耗。。野外接續(xù)盒一定要密封好,防止進(jìn)水。熔接盒進(jìn)水後,由於光纖及光纖熔接點(diǎn)長期浸泡在水中,可能會光纖測試光纖在架設(shè),熔接完工後就是測試工作,使用的儀器主要是OTDR測試儀或光源光功率計,用加拿大EXFO公司的FTB-100B便攜式中文彩色觸摸屏OTDR測試儀(動態(tài)範(fàn)圍有32/337.5/340/345/43db),可以測試,光纖斷點(diǎn)的位置;光纖鏈路的全程損耗;了解沿光纖長度的損耗分布;光纖接續(xù)點(diǎn)的接頭損耗。
HN7010A係列直流電阻測試儀華能 三通道直流電阻測試儀廠家 接地引下線導(dǎo)通電阻測試儀大量供應(yīng)
產(chǎn)品概述
變壓器的直流電阻是變壓器製造中半成品、成品出廠試驗(yàn)、安裝、交接試驗(yàn)及電力部門預(yù)防性試驗(yàn)的必測項目,能有效發(fā)現(xiàn)變壓器線圈的選材、焊接、連接部位鬆動、缺股、斷線等製造缺陷和運(yùn)行後存在的隱患。
二、功能特點(diǎn)
l 對星型接法有中性點(diǎn)引出的繞組測試時,儀器可以采取三相同時測量的方式測試A0、B0、C0相的直流電阻,大大節(jié)省測試時間;
l 顯示、打印變壓器的高中低壓繞組的測試數(shù)據(jù),並自動計算出三相不平衡率;
l 具有完善的反電勢保護(hù)功能;
如果示波器冇有足夠大的存儲深度,則再高的采樣率也無法充分發(fā)揮價值。ZDS454Plus標(biāo)配512Mpts存儲深度,哪怕麵對4GSa/s的采樣率,也能存儲長達(dá)128ms的波形。“真正意義”測量如果不能對所有存儲深度的每一個波形都進(jìn)行測量,存儲深度的價值也就是“波形不失真”這一基本要求而已,卻無法更進(jìn)一步地去自動挖掘出波形中存在的異常。隻有具備“真正意義”參數(shù)測量統(tǒng)計功能,512Mpts的海量數(shù)據(jù)的價值才能被挖掘,否則如果隻測其中的一個周期,海量的數(shù)據(jù)有何意義?不同於傳統(tǒng)示波器隻測一個周期,或通過抽樣減少數(shù)據(jù)量再測量的模式,ZDS454Plus通過FPGA全硬件並行處理,基於原始采樣率和512Mpts全存儲深度,對每一幀波形每一周期進(jìn)行測量統(tǒng)計,可在幾百毫秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)對512Mpts數(shù)據(jù)的“真正意義”參數(shù)測量,測試項目可達(dá)51種,並且支持24種參數(shù)同時顯示。
三、技術(shù)參數(shù)
輸出電流 三相測試:2*10A、2*5A、2*2A
單相測試:20A、10A、2A
測試範(fàn)圍 2*10A:500μΩ~500mΩ
2*5A: 1mΩ~1Ω
2*2A: 2.5mΩ~2.5Ω
20A: 250μΩ~1Ω
10A: 500μΩ~2Ω
2A: 2.5mΩ~10Ω
分 辨 率 0.1μΩ
測量精度 ±(0.2%讀數(shù)+2字)
外形尺寸 420mm×250mm×340mm
儀器重量 15kg熱成像數(shù)據(jù)與其他傳感器采集而來的數(shù)據(jù)互相整合兼容尤為關(guān)鍵?!滨r開義表示,“FLIR的數(shù)據(jù)可以與機(jī)器人係統(tǒng)軟件實(shí)現(xiàn)有效兼容,這是成功的關(guān)鍵因素。”FLIR紅外熱像儀被安裝於機(jī)器人上、軌道上、固定支架上,與高清可見相機(jī)、高靈敏音頻采集設(shè)備、WiFi等設(shè)備協(xié)同動作,以±2℃或2%讀數(shù)的測溫結(jié)果保障每處電力設(shè)備現(xiàn)象+進(jìn)行移動檢測和缺陷診斷,及時發(fā)現(xiàn)設(shè)備潛在缺陷並發(fā)出預(yù)警的**運(yùn)作??杀O(jiān)測異常提高可靠性“在智能巡檢機(jī)器人上安裝FLIR熱像儀,可以監(jiān)測電力設(shè)備的異常。
麵板介紹
1.IA、IB、IC、Io:電流輸出接線柱;
2.UA、UB、UC、Uo:電壓輸入接線柱;
3.電源開關(guān):儀器的電源開關(guān)及;
4.接 地 柱:儀器**接地;
5.打 印 機(jī):打印測試數(shù)據(jù);
6.液 晶 屏:顯示測試數(shù)據(jù),操作提示功能;
7.鍵 盤:『返回』對應(yīng)的返回上一層菜單功能;
『確定』對應(yīng)光標(biāo)按鈕的執(zhí)行功能;
『存儲』對應(yīng)測試項目的數(shù)據(jù)存儲;
『選擇』對應(yīng)光標(biāo)選擇菜單功能;
檢測器的發(fā)展經(jīng)曆了圓形,半圓形和扇形幾個階段。是否使用完全的米氏理論因?yàn)槊资瞎馍⒗碚摲浅Q}雜,數(shù)據(jù)處理量大,所以有些廠家忽略顆粒本身折光和吸收等光學(xué)性質(zhì),采用近似的米氏理論,造成適用範(fàn)圍受限製,漏檢幾率增大等問題。準(zhǔn)確性和重複性指標(biāo)越高越好。采用NIST標(biāo)準(zhǔn)粒子檢測。穩(wěn)定性儀器穩(wěn)定性包括光路的穩(wěn)定性和分散係統(tǒng)的穩(wěn)定性和周圍環(huán)境的影響。一般來講選用氣體器,使用光學(xué)平臺,有助於光路的穩(wěn)定。內(nèi)部發(fā)熱部件(如50瓦的鎢燈)將影響光路周圍環(huán)境。
六、儀器接線
6.1將電源線把儀器與外部AC220V電源連接,將接地端子與大地連接。
6.2然後依次將接線端子的四個測試鉗(黃綠紅黑)分彆接到變壓器高壓側(cè)的A、B、C、O。也可以將接線端子的四個測試鉗(黃綠紅黑)分彆接到變壓器低壓側(cè)的a、b、c、o,如果隻有三個套管,可以不接黑色測試鉗,但這種情況不可以選擇三相同時測量和單相電阻測量,隻能選擇單線電阻測量且不用再移動測試鉗。
6.3當(dāng)選擇單相電阻測試時必須接黑色的測試鉗,當(dāng)選擇單線電阻測試時,需注意所選的測試方式與所夾的測試鉗要一一對應(yīng)。
6.4單相變壓器使用時將接線端子黃色和黑色的測試鉗接到單相變壓器的高壓側(cè)或低壓側(cè),選擇單相電阻測試方式測量即可。
6.5儀器配套的測試線已經(jīng)將電流、電壓線設(shè)計到同一測試鉗口上,接線簡單方便θjA是相對於環(huán)境溫度的結(jié)點(diǎn)熱阻抗,基於印刷電路板(攝氏度/W)的封裝,通常是在150℃的典型結(jié)溫(有些部件的結(jié)溫可能較低,需在數(shù)據(jù)表上確認(rèn))條件下計算出來的。所需θjA應(yīng)為如下方程式:≤(結(jié)溫-工作溫度)/Pd(等式2)。濾掉封裝中的器件,這樣θjA比滿足此初始結(jié)溫要求的上述計算結(jié)果要低。在結(jié)溫時操作會影響其可靠性。視電路板、氣流、環(huán)境和附近的其他熱源而定,留一定的餘量始終是一個很好的設(shè)計實(shí)踐。