顯示屏的發(fā)光一般在380-780nm可見(jiàn)光範(fàn)圍內(nèi)，彩色顯示一般通過(guò)紅綠藍(lán)三基色控製技術(shù)得到彩像。對(duì)於不同顯示屏，其光譜功率分布（SPD）相差較大（是典型LCD，LEOLED光譜圖），但藍(lán)光成分都相對(duì)比較突出。藍(lán)光是組成白光和其它色光的重要成分，但過(guò)高能量的藍(lán)光卻會(huì)對(duì)健康造成影響甚至傷害，對(duì)此，相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)與報(bào)告中都有確切的規(guī)定以及。幾種典型顯示屏的光譜功率分布（SPD）視網(wǎng)膜藍(lán)光危害及其評(píng)價(jià)參數(shù)可見(jiàn)光波段的輻射一般通過(guò)眼睛的眼角膜和晶狀體聚焦成像至視網(wǎng)膜上，從而達(dá)到視見(jiàn)效果，如所示。
HN7031A全自動(dòng)三相電容電感測(cè)試儀電容電流測(cè)試儀 介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x 三通道直流電阻測(cè)試儀 5年保修

自動(dòng)三相電容電感測(cè)試儀 可以在不拆線的狀態(tài)下，直接測(cè)量成組並聯(lián)電容器的單相電容或組合連接類型的三相電容器，也能夠測(cè)量電抗器的電感，接線簡(jiǎn)單，測(cè)試、記錄方便，大大提高了工作效率。

功能特點(diǎn)
    1、內(nèi)部自帶電馳，自動(dòng)數(shù)字合成產(chǎn)生三相大功率測(cè)試電源，不用外接電源即可使用；
    2、儀器可在不拆線情況下測(cè)量成組並聯(lián)電容器的單個(gè)單相電容及測(cè)量連接類型的三相電容；
    3、可三相同測(cè)或測(cè)量三隻並聯(lián)電容器或電抗器；
    4、儀器可以測(cè)量電抗器的電感量；
    5、儀器可以測(cè)量工頻電流的幅值以及電流中2－32次的諧波含量；
    6、儀器可顯示出在測(cè)量電容器或電抗器的過(guò)程中測(cè)量的電壓、電流、功率、相位角、阻抗等數(shù)據(jù)，以便更好的問(wèn)題所在；

同樣，產(chǎn)品的顏色、光照及背景情況也很重要，如果變化很大，可能很難或者根本就找不到相匹配的模型。矢量成像技術(shù)矢量成像技術(shù)采用合成圖像作為示教參考模型，以確保不產(chǎn)生錯(cuò)誤。矢量成像不需要像素，它靠的是定義元件形狀的交點(diǎn)矢量，矢量由方向和傾斜度確定，在矢量成像技術(shù)裡一個(gè)正方形相當(dāng)於四條線段，一個(gè)足球則相當(dāng)於兩個(gè)弧形。矢量成像技術(shù)采用視窗操作係統(tǒng)，使用一種高分辨率數(shù)字相機(jī)，係統(tǒng)采用統(tǒng)計(jì)過(guò)程控製(SPC)軟件和一個(gè)根據(jù)線路板上所裝配並需要進(jìn)行檢查測(cè)量元件所作的綜合元件圖形庫(kù)，它能將Gerber、CAD或ASCII/Centrid數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成機(jī)器代碼。
HN7033A自動(dòng)電容電流測(cè)試儀

直接從PT的二次側(cè)測(cè)量配電網(wǎng)的電容電流，與傳統(tǒng)的測(cè)試方法相比，該儀器無(wú)需和一次側(cè)打交道，因而不存在試驗(yàn)的性，無(wú)需做繁雜的安措施和等待冗長(zhǎng)的調(diào)度命令，隻需將測(cè)量線接於PT的開(kāi)口三角端就可以測(cè)量出電容電流的數(shù)據(jù)。

自動(dòng)電容電流測(cè)試儀 技術(shù)參數(shù)
    1、測(cè)量範(fàn)圍：對(duì)地總電容 ≤120μF（三相對(duì)地）
       電容電流 ≤500A（35kv係統(tǒng) ）
       電容電流 ≤200A（10kv係統(tǒng) ）
    2、測(cè)量精度：0.5μF～5μF   ±10%±50個(gè)字
                 5μF～90μF    ±5%
                 90μF～120μF  ±10%電容電流測(cè)試儀 介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x 三通道直流電阻測(cè)試儀 5年保修在530KHz到1.1MHz的頻段範(fàn)圍內(nèi)，測(cè)量出的輻射乾擾超出了模板的限量。同時(shí)，我們還測(cè)試了將連接雷達(dá)模塊線纜斷開(kāi)的情況，發(fā)現(xiàn)仍然通不過(guò)標(biāo)準(zhǔn)。上圖的譜線我們可以得到一些信息：在低頻範(fàn)圍內(nèi)，該設(shè)備的輻射噪聲是超出標(biāo)準(zhǔn)的，我們假定引起這個(gè)問(wèn)題的，是一個(gè)低頻的數(shù)字信號(hào)。相對(duì)較寬的頻譜，不含離散的譜線，意味著該超標(biāo)的頻譜噪聲來(lái)源很可能是來(lái)自於控製器本身或者控製器和雷達(dá)模塊之間的串行接口。正如我們之前提到的，斷開(kāi)控製器和雷達(dá)模塊之間的線纜，測(cè)試也冇通過(guò)，所以我們初步認(rèn)為，引起這個(gè)超標(biāo)的源頭在於控製器。